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      1. <dl id="fjt8QT"></dl>

        1. 您好(hao)!歡迎(ying)訪(fang)問(wen)北京(jing)華測(ce)試(shi)驗儀(yi)器有(you)限公(gong)司(si)網(wang)站!
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          當(dang)前(qian)位(wei)置:首(shou)頁(ye) > 產品(pin)中心 > 改性塑料(liao)試(shi)驗設備(bei) > 絕(jue)緣電阻(zu)試(shi)驗儀(yi) > HCWP-1000介電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)高(gao)溫(wen)爐(lu)膛阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀測(ce)試(shi)夾(jia)具

          介電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)高(gao)溫(wen)爐(lu)膛阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀測(ce)試(shi)夾(jia)具

          簡(jian)要(yao)描(miao)述:介電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)高(gao)溫(wen)爐(lu)膛阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀測(ce)試(shi)夾(jia)具,為(wei)了滿(man)足材料在(zai)高(gao)溫(wen)環(huan)境下的介電測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)而(er)設(she)計(ji)的(de)。從專業角度來說(shuo),其實就是高(gao)溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜(pu)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)。主要(yao)用於絕緣材料在(zai)不(bu)同溫(wen) 度(du)不(bu)同(tong)頻(pin)率下(xia)的電學(xue)測(ce)試,系(xi)統(tong)包(bao)含(han)高(gao)溫(wen)爐(lu)膛,阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀,微(wei)電流表,夾(jia)具,測(ce)試(shi)軟(ruan)件於壹(yi)體.

          • 產品(pin)型(xing)號(hao):HCWP-1000
          • 廠商性質:生產廠家
          • 更新時(shi)間(jian):2025-07-29
          • 訪  問(wen)  量(liang):3901

          詳細(xi)介(jie)紹(shao)

          品(pin)牌(pai)華測(ce)儀(yi)器產(chan)地(di)類(lei)別(bie)國(guo)產(chan)
          應(ying)用領域醫(yi)療衛生,環(huan)保,化工,能源(yuan),電子(zi)/電池(chi)

          產品(pin)名稱(cheng):介(jie)電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)

          產品(pin)型(xing)號(hao):HCWP-1000

          產品(pin)簡(jian)介:

           高(gao)溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)是為了滿(man)足材料在(zai)高(gao)溫(wen)環(huan)境下的介電測(ce)量(liang)需(xu)求(qiu)而(er)設(she)計(ji)的(de)。它由(you)硬件設備和(he)測(ce)量(liang)軟(ruan)件組成(cheng),包(bao)括高(gao)溫(wen)介(jie)電測(ce)量(liang)儀(yi)主機(ji)、高(gao)溫(wen)介(jie)電測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)軟(ruan)件、高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)夾(jia)具、阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀四個(ge)組成(cheng)部(bu)分。根據測(ce)量(liang)需(xu)要(yao),還(hai)可(ke)以外接真(zhen)空(kong)油泵(beng)進行真(zhen)空(kong)環(huan)境的介電測(ce)量(liang)。高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)平臺是為樣品(pin)提供(gong)壹(yi)個(ge)高(gao)溫(wen)環(huan)境;高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)夾(jia)具提供(gong)待測試(shi)樣(yang)品(pin)的(de)測試平臺;阻抗分析(xi)儀則負(fu)責(ze)測試各組參數數(shu)據。後(hou),再(zai)通過(guo)測(ce)量(liang)軟(ruan)件將(jiang)這(zhe)些(xie)硬件設備的功(gong)能整合(he)在(zai)壹(yi)起,形成(cheng)壹(yi)套由(you)實驗(yan)方(fang)案設(she)計(ji)到溫(wen)度(du)控制、參數測(ce)量(liang)、圖(tu)形數據顯示(shi)與(yu)數(shu)據分(fen)析(xi)於壹(yi)體的高(gao)溫(wen)介(jie)電溫(wen)譜(pu)測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)。

          系(xi)統(tong)介(jie)紹(shao):

          系(xi)統(tong)配(pei)置:Acer商(shang)用計算機(ji),信號(hao)切換(huan)與(yu)控制系(xi)統(tong),高(gao)溫(wen)儀(yi)及溫(wen)控系(xi)統(tong),四通道(dao)夾(jia)具, 測(ce)試(shi)與(yu)數(shu)據采集軟(ruan)件(軟(ruan)件兼容同惠LCR表以及是(shi)德(de)(安捷倫(lun))E4980AL型(xing)LCR表和(he)4294A型(xing)阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀);

          輸(shu)入端口(kou):四個(ge)BNC端(duan)口(kou);

          輸(shu)出(chu)端口(kou):10個(ge)SMA輸(shu)出(chu)端口(kou),需(xu)采用SMA接頭(tou)以提高(gao)高(gao)頻(pin)測(ce)試(shi)穩(wen)定(ding)性(頻(pin)率大(da)於1MHz時(shi));

          溫(wen)度(du)範(fan)圍:室(shi)溫(wen) 至(zhi)850℃(額定(ding)溫(wen)區,長(chang)時間(jian)使用溫(wen)度(du)),室(shi)溫(wen) 至(zhi)1000℃(極(ji)限溫(wen)區,短(duan)時(shi)間(jian)使用);

          系(xi)統(tong)屏蔽(bi):通道(dao)切換(huan)主板預(yu)埋(mai)屏蔽(bi)層設(she)計,連接線(xian)材采用射頻(pin)同(tong)軸線(xian),以保證(zheng)低(di)頻(pin)與(yu)高(gao)頻(pin)測(ce)試(shi)精(jing)度和(he)穩(wen)定(ding)性;

          測試(shi)夾(jia)具:融(rong)石英(ying)與(yu)探(tan)針(zhen)復(fu)合(he)夾(jia)具。其中探(tan)針(zhen)需使用氧化鋁(lv)與(yu)鉑(bo)金(jin)復(fu)合(he)結(jie)構(gou),芯(xin)層為(wei)鉑金(jin),絕(jue)緣層為(wei)氧化(hua)鋁(lv),屏蔽(bi)層為(wei)鉑金(jin)並(bing)屏蔽(bi)至(zhi)樣(yang)品(pin)端(duan)。以保證(zheng)長(chang)期(qi)高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)穩(wen)定(ding)性;

          同時(shi)測量(liang)樣(yang)品(pin)數(shu):4個(ge);

          測試(shi)頻(pin)率範(fan)圍:20Hz至(zhi)10 MHz(依(yi)據配(pei)套LCR表(biao)或(huo)阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀頻(pin)率),基(ji)本(ben)準確度0.05%;

          升溫(wen)速率:升溫(wen)速率0.1-10℃/min,測(ce)溫(wen)精(jing)度±0.1℃

          測試(shi)樣品(pin)直徑:2 mm至(zhi)25 mm;

          樣品(pin)厚(hou)度:0.02 mm至(zhi)4 mm;

          單樣品(pin)測(ce)試頻(pin)率數(shu):少(shao)6個(ge)頻(pin)率測(ce)量(liang)功(gong)能;

          變溫(wen)介(jie)電頻(pin)譜(pu)測(ce)試(shi)功(gong)能;

          變溫(wen)阻(zu)抗(kang)測(ce)試(shi)功(gong)能。


          技術(shu)特點(dian):

          1、公(gong)司(si)自主研發有(you)高(gao)溫(wen)介(jie)電測(ce)試(shi)夾(jia)具、高(gao)溫(wen)四探針夾(jia)具、高(gao)溫(wen)兩探(tan)針夾(jia)具,可(ke)與(yu)高(gao)溫(wen)測(ce)試(shi)平臺配(pei)套組成(cheng)壹(yi)套或多套(tao)高(gao)溫(wen)阻(zu)抗(kang)、介(jie)電測(ce)量(liang)系(xi)統(tong)。

          介電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)高(gao)溫(wen)爐(lu)膛阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀測(ce)試(shi)夾(jia)具

          2、溫(wen)度(du)範(fan)圍從室(shi)溫(wen)至(zhi) 600℃、800℃、1000℃、1200℃,具備(bei)精(jing)確的 PID 控制算法,控溫(wen)精(jing)度可(ke)到±1℃,確保溫(wen)度(du)控制不超(chao)調。提供(gong) 7 種不同控溫(wen)方(fang)式,滿足客(ke)戶多種(zhong)測(ce)試(shi)需求(qiu)。

          3、高(gao)溫(wen)介(jie)電測(ce)試(shi)夾(jia)具根據標(biao)準 ASTM D150 方(fang)法,采用平行板電極(ji)原(yuan)理設(she)計。電極(ji)由(you)上電極(ji)、下(xia)電極(ji)以及保(bao)護(hu)電極(ji)組成(cheng)。上(shang)下電極(ji)有(you)良(liang)好(hao)的(de)同(tong)心度和(he)平行度,保護(hu)電極(ji)可(ke)減少(shao)周圍空(kong)氣電容(rong)的(de)影響(xiang),使得測試數(shu)據準確可(ke)靠。

          應用領域

          復(fu)合(he)絕(jue)緣擦亮(liang)

          高(gao)分子(zi)絕緣材料

          無(wu)機(ji)絕緣材料

          有(you)機(ji)絕緣材料

          其它絕(jue)緣材料等


          技術(shu)參數:

          溫(wen)度(du)範(fan)圍

          室(shi)溫(wen)~1000℃

          溫(wen)度(du)精(jing)度

          ±1

          測量(liang)精(jing)度

          0.05%

          升溫(wen)速率

          10℃

          控溫(wen)方(fang)式

          PID

          頻(pin)率範(fan)圍

          20HZ-30MHZ

          電極(ji)材料

          鉑金(jin)

          通道(dao)數(shu)

          通道(dao) 1

          測量(liang)環(huan)境

          常溫(wen)真(zhen)空(kong)氣氛(fen)

          通訊(xun)方(fang)式

          USB

          設備(bei)尺寸(cun)

          600X400X650m

          維護(hu)註意事(shi)項:

          1、爐(lu)子長(chang)時間(jian)不用後,要(yao)在(zai)烘(hong)烤(kao)1小時(shi)後(hou)使用,以免(mian)損(sun)壞加(jia)熱元件及爐(lu)襯(chen),保存(cun)爐(lu)內的(de)清潔。

          2、溫(wen)區升溫(wen)速率不(bu)宜過(guo)快,有(you)利(li)於(yu)熱效(xiao)應力(li)的(de)均(jun)勻釋(shi)放,以延長(chang)使用壽命(ming)。

          3、冷爐(lu)使用時,由(you)於爐(lu)膛是(shi)冷(leng)的,須(xu)大(da)量(liang)吸熱,所(suo)以低溫(wen)段(duan)升溫(wen)速率不(bu)宜過(guo)快,各溫(wen)度(du)段(duan)的升溫(wen)速率差(cha)別(bie)不(bu)宜(yi)太(tai)大,設(she)置升溫(wen)速率時(shi)應充(chong)分考(kao)慮(lv)所(suo)燒結(jie)材料的(de)物(wu)理(li)化學(xue)性質,以免(mian)出(chu)現(xian)噴料現(xian)象,汙(wu)染(ran)爐(lu)管。

          4、定期(qi)檢(jian)查溫(wen)度(du)控制系(xi)統(tong)的(de)電氣(qi)連接部(bu)分(fen)的(de)接觸(chu)是(shi)否(fou)正(zheng)常(chang)。

          5、不得(de)打開(kai)任何(he)溫(wen)箱(xiang)及電器(qi)控制設備。


          介(jie)電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)高(gao)溫(wen)爐(lu)膛阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀測(ce)試(shi)夾(jia)具  介(jie)電溫(wen)譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)高(gao)溫(wen)爐(lu)膛阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀測(ce)試(shi)夾(jia)具

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          地(di)址(zhi):北京(jing)海(hai)澱區
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