華(hua)測儀器(qi)導電與(yu)防(fang)靜(jing)電體(ti)積(ji)電(dian)阻率測試儀

導電與(yu)防(fang)靜(jing)電體(ti)積(ji)電(dian)阻率測試儀

● 適(shi)用標(biao)準(zhun)

GB/T 11210-2014 《硫化橡(xiang)膠(jiao)抗(kang)靜(jing)電和導電制(zhi)品(pin)電阻的(de)測定(ding)》

ISO1853-2011 《導電和防靜(jing)電橡(xiang)膠-電(dian)阻率測量》

GB/T2439-2001 《導電和抗(kang)靜(jing)電橡(xiang)膠電(dian)阻率（系數）的(de)測定(ding)方法》

GB/T15662-1995 《導電、防(fang)靜(jing)電塑(su)料體(ti)積(ji)電(dian)阻率測試方(fang)法》

ASTM D991 《橡膠特(te)性(xing)---導電材(cai)料及防(fang)靜(jing)電產品的(de)體積(ji)電(dian)阻的(de)標(biao)準(zhun)測(ce)試方法》

GB/T 3048.3-2007《電線電纜電(dian)試(shi)驗(yan)方法第03部分：半導電橡(xiang)塑(su)材(cai)料體(ti)積(ji)電(dian)阻率試驗》

GB/T 15738-2008《導電和抗(kang)靜(jing)電纖維(wei)曾(zeng)強(qiang)塑(su)料電(dian)阻(zu)率試驗方(fang)法》

   將半導電材(cai)料檢測(ce)穩定(ding)性做到(dao)ji致

電阻(zu)率的(de)測量

在(zai)測(ce)量導電材(cai)料電(dian)阻(zu)率若(ruo)采用三(san)電(dian)極或二電(dian)極(ji)測量時(shi)會(hui)因(yin)為(wei)電極(ji)與(yu)被(bei)測量材(cai)料表(biao)面(mian)電(dian)阻(zu)而影響(xiang)測(ce)量準(zhun)確(que)性，華(hua)測儀器(qi)導電與(yu)防(fang)靜(jing)電體(ti)積(ji)電(dian)阻率測試儀采用四(si)電極(ji)(四(si)點(dian)探(tan)針或(huo)四(si)探(tan)針)法測量導電和防靜(jing)電材(cai)料體(ti)積(ji)電(dian)阻率，可以(yi)克(ke)服表(biao)面(mian)接觸(chu)電(dian)阻(zu)造成的(de)誤差(cha)影響(xiang)，Huace991系列(lie)配備(bei)可提(ti)供超穩(wen)定直流(liu)電(dian)源(yuan)與電流采集(ji)系統，可測(ce)量半(ban)導體、導體材(cai)料的(de)體積(ji)電(dian)阻率。

該方法用於(yu)評(ping)估(gu)橡膠制(zhi)品的(de)電氣(qi)（以(yi)及適(shi)用(yong)於(yu)其他(ta)類型(xing)的(de)剛性(xing)和片(pian)狀材(cai)料比如(ru)性(xing)，靜(jing)電積(ji)累(lei)和消(xiao)散，電(dian)流傳輸(shu)，本試驗(yan)方法可用(yong)於(yu)預測(ce)電(dian)阻高(gao)達約100兆歐(ou)。D 991利(li)用(yong)通(tong)過(guo)材(cai)料和電壓的(de)電流(liu)（I）測量沿(yan)材(cai)料的(de)壹(yi)段(duan)下降(jiang)（V），以(yi)計(ji)算歐(ou)姆(mu)scm中(zhong)的(de)體積(ji)電(dian)阻率。它設(she)計(ji)用於(yu)標(biao)準(zhun)3“x5"（76x127mm）試(shi)樣，但可以(yi)測(ce)量0.4-4"（10-102mm）寬(kuan)至(zhi)5-6"（127-152mm）長(chang)的(de)試樣(yang)。

華(hua)測儀器(qi)導電與(yu)防(fang)靜(jing)電體(ti)積(ji)電(dian)阻率測試儀如(ru)何(he)確(que)定(ding)功(gong)率

對於(yu)不(bu)確(que)定(ding)的(de)材(cai)料，請(qing)緩(huan)加電(dian)壓(ya)，如(ru)從1V開始加壓(ya)，如(ru)果(guo)材(cai)料的(de)電流(liu)在1UA以(yi)下。表(biao)明材(cai)料的(de)功(gong)率遠(yuan)小(xiao)於(yu)0.1W,不(bu)可取(qu)，仍(reng)需增加電(dian)壓(ya)，假如(ru)電(dian)壓(ya)值(zhi)（測試主(zhu)機(ji)上的(de)電壓(ya)值）在10V時(shi)，電(dian)流(liu)表(biao)上的(de)電流(liu)值為(wei)10mA，那麽(me)此時(shi)的(de)施加在(zai)材(cai)料表(biao)面(mian)上的(de)功(gong)率為(wei)0.1W，根(gen)據(ju)P=UI，可計(ji)算P=10X0.01A，功(gong)率為(wei)0.1W。故電壓稍(shao)小(xiao)壹(yi)點(dian)即(ji)可。此(ci)時可以(yi)根(gen)據(ju)電流(liu)值及電(dian)壓(ya)值（測(ce)試主機

上電壓(ya)值(zhi)及電(dian)流(liu)表(biao)）進(jin)行計(ji)算材(cai)料的(de)體積(ji)電(dian)阻率；

采用GB或(huo)ASTM測試方法進(jin)行的(de)計(ji)算，可以(yi)確(que)定(ding)材(cai)料的(de)體積(ji)電(dian)阻率

式中(zhong)

ρV =體(ti)積(ji)電(dian)阻率歐(ou)姆(mu)厘米(mi)(Ω);

V=電位(wei)電極(ji)為(wei)電流(liu)通(tong)過(guo)試樣(yang)的(de)電位(wei)差(V)；

W =試(shi)樣寬(kuan)度(du)(cm)；

d =試樣厚(hou)度(du)（cm）;

I=電流的(de)平均(jun)值(A);

L=與試(shi)樣(yang)接觸(chu)的(de)兩個(ge)電位(wei)電極(ji)之間(jian)的(de)距離(li)（cm）。