
1、介電強(qiang)度(du)和擊穿電(dian)壓的(de)區別(bie):
介電(dian)強度(du):是壹(yi)種材料(liao)作為(wei)絕(jue)緣體時的(de)電強(qiang)度(du)的(de)量(liang)度(du). 它定(ding)義(yi)為(wei)試(shi)樣被擊穿時, 單位厚(hou)度(du)承(cheng)受(shou)的(de)最(zui)大(da)電(dian)壓,單位是:KV/mm或MV/m,. 介電(dian)強(qiang)度(du)越大, 它作為(wei)絕(jue)緣體的(de)質量(liang)越好.介電強(qiang)度(du)也(ye)可(ke)稱(cheng)為(wei)電(dian)氣強度(du)。
擊穿電(dian)壓:是壹(yi)種材料(liao)作為(wei)絕(jue)緣體時所(suo)能(neng)承(cheng)受(shou)的(de)最(zui)大(da)電(dian)壓值,也(ye)就是(shi)擊穿破(po)壞時的(de)最(zui)大(da)電(dian)壓值,單位是:KV
2、如何(he)選擇合適(shi)量(liang)程(cheng)的(de)電壓擊穿試(shi)驗儀(yi):
在材料(liao)的(de)標(biao)準要(yao)求(qiu)裏(li)或者測試報告(gao)中,對(dui)材料(liao)的(de)耐壓等(deng)級(ji)通常用(yong)介(jie)電(dian)強(qiang)度(du)來(lai)表示(shi),
選擇多大(da)量(liang)程(cheng)的(de)測試儀器(qi),取決(jue)於(yu)試樣的(de)厚(hou)度(du),即(ji):
擊穿電(dian)壓值(KV)=介(jie)電強(qiang)度(du)(KV/mm)* 試樣厚(hou)度(du)(mm)
按照試(shi)樣厚(hou)度(du)測試時得(de)出(chu)有(you)效的(de)擊穿電(dian)壓值,在此基(ji)礎(chu)上適當加(jia)寬些(xie)量(liang)程(cheng)範圍比(bi)較(jiao)合理(li),建議(yi)計算(suan)出(chu)擊穿電(dian)壓值後(hou)增加(jia)10KV—20KV。
3、同等(deng)電(dian)壓量(liang)程(cheng)不同功(gong)率(lv)的(de)電壓擊穿試(shi)驗儀(yi)的(de)區別(bie):
(1):在測試規(gui)程(cheng)和測試標(biao)準中(zhong),Z常用(yong)的(de)測試數據(ju)是擊穿電(dian)壓值,而(er)對(dui)儀(yi)器(qi)的(de)輸出(chu)電流沒有(you)要求(qiu)時,可(ke)以(yi)不用(yong)考(kao)慮(lv)設(she)備的(de)容量(liang)值(zhi),只(zhi)關(guan)註設備的(de)量(liang)程(cheng)即(ji)可(ke),對(dui)測試數據(ju)沒有(you)影(ying)響(xiang)
(2):在有(you)些(xie)測試標(biao)準或測試要求(qiu)中,必(bi)須(xu)要(yao)求儀(yi)器滿(man)足(zu)最(zui)大(da)輸(shu)出(chu)電流是多少,對(dui)此(ci)在選擇儀器(qi)量(liang)程(cheng)的(de)同時,需要(yao)關(guan)註變壓器的(de)容量(liang)值(zhi)(即(ji)功(gong)率(lv)KVA)
如何(he)選擇合適(shi)的(de)測試電極(ji):
測試電極(ji)的(de)規(gui)格有(you)很(hen)多,針(zhen)對(dui)不同材料(liao)和規(gui)格選擇不同的(de)電極(ji)尺(chi)寸,具(ju)體根據材料(liao)測試所(suo)要求(qiu)的(de)測試標(biao)準,如(ru)果(guo)標(biao)準裏(li)沒(mei)有(you)特(te)殊(shu)要求(qiu),通(tong)常測試板材類(lei)的(de)材料(liao)時使用(yong)最(zui)多的(de)測試電極(ji)是等(deng)徑(jing)和不等(deng)徑(jing)電極。
華測HCDJC系列電(dian)壓擊穿試(shi)驗儀(yi)設(she)備采用(yong)計算(suan)機(ji)控制(zhi),通過(guo)人機(ji)對(dui)話(hua)方(fang)式(shi),完(wan)成對(dui)鋰(li)離(li)子隔膜材料(liao)直(zhi)流(liu)下電壓擊穿、耐壓試驗,可(ke)對(dui)試(shi)驗過(guo)程(cheng)中的(de)各種(zhong)數(shu)據(ju)進行(xing)快速、采(cai)集(ji)、處(chu)理(li),並可(ke)存取、顯示、打(da)印(yin),HCDJC系(xi)列電壓擊穿試(shi)驗儀(yi)適(shi)合元(yuan)件(jian)法(fa)、50點(dian)電(dian)法(fa)。主(zhu)要(yao)應用(yong)於(yu)新能(neng)源(yuan)汽車(che)用(yong)鋰(li)離(li)子電(dian)池(chi)隔膜電(dian)氣絕緣缺陷檢測。
華測其(qi)它(ta)相關(guan)產(chan)品:



可(ke)按用(yong)戶(hu)要(yao)求訂(ding)制(zhi)非(fei)標(biao)產(chan)品
華測儀器--致(zhi)力(li)於(yu)材料(liao)電學測試技術

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