
當(dang)前(qian)位(wei)置:首頁(ye) > 產品中心(xin) > 改性(xing)塑料試(shi)驗設(she)備(bei) > 絕緣電(dian)阻試(shi)驗儀(yi) > HCWP-S高(gao)低(di)溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)測試(shi)儀器(qi)

簡(jian)要(yao)描(miao)述(shu):高(gao)低(di)溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)測試(shi)儀器(qi)適用(yong)於鐵(tie)電(dian)壓電(dian)陶瓷材料、各種(zhong)金(jin)屬氧化物(wu),板(ban)材,瓷器(qi)(陶器),雲母(mu),玻(bo)璃半導(dao)體(ti)器(qi)件(jian)及功能(neng)薄膜(mo)材料等(deng)研(yan)究(jiu)。 用(yong)於分析(xi)寬(kuan)頻、高(gao)低(di)溫條(tiao)件(jian)下被(bei)測樣品的介(jie)電(dian)系(xi)數(shu)、阻(zu)抗(kang)Z、電(dian)抗(kang)X、導(dao)納Y、電(dian)導(dao)G、電(dian)納B、電(dian)感L、介(jie)電(dian)損耗D、因數Q等(deng)物(wu)理(li)量。該(gai)儀器(qi)用(yong)於(yu)科(ke)研(yan)機(ji)關(guan)、學(xue)校(xiao)、工(gong)廠(chang)等(deng)單(dan)位對(dui)無機(ji)金(jin)屬新(xin)材料的(de)應(ying)用研(yan)究(jiu)科(ke)研(yan)機(ji)關(guan)、高(gao)校(xiao)、工廠(chang)等(deng)地(di)方。
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| 品牌(pai) | 華測儀器(qi) | 應用(yong)領(ling)域(yu) | 醫療衛(wei)生(sheng),電子(zi)/電(dian)池(chi),鋼鐵(tie)/金(jin)屬,航(hang)空(kong)航(hang)天,綜(zong)合(he) |
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壹(yi)、概(gai)述
高(gao)低(di)溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)儀(yi),HCWP-S系(xi)列(lie)高(gao)低(di)溫材料介(jie)電(dian)參數測量系(xi)統是(shi)我(wo)司(si)開(kai)發研(yan)制的全系(xi)列(lie)寬(kuan)頻、寬(kuan)溫區(qu)材料介(jie)電(dian)參數測量儀(yi)(介(jie)電(dian)溫譜(pu)儀(yi))
公(gong)司(si)開(kai)發的高(gao)低(di)溫阻(zu)抗(kang)、介(jie)電(dian)測量系(xi)統軟(ruan)件(jian)將(jiang)高(gao)溫測試(shi)平(ping)臺,高(gao)溫測試(shi)夾(jia)具與WK6500系(xi)列(lie)、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR測量設(she)備(bei)無縫連(lian)接,實(shi)現(xian)了(le)自動(dong)完成(cheng)高(gao)溫環(huan)境下的阻抗(kang)、介(jie)電(dian)參數的測量與(yu)分析(xi)。另(ling)外(wai),還(hai)可以硌(ge)腳(jiao)用(yong)戶提(ti)供(gong)的其他LCR品牌(pai)或型號完成(cheng)定制(zhi)需(xu)求。軟件(jian)可(ke)根據實(shi)驗方(fang)案(an)設(she)計,通(tong)過(guo)測量C和D值(zhi),自動(dong)完成(cheng)介(jie)電(dian)常數和介(jie)電(dian)損耗隨頻率(lv)、電壓、偏(pian)壓、溫度、時(shi)間多維變(bian)化(hua)的曲線。壹(yi)次測量,同(tong)時(shi)輸(shu)出,測量效(xiao)率(lv)高(gao)、數(shu)據豐富(fu)多樣,是(shi)實(shi)驗室開(kai)發和研(yan)究(jiu)新(xin)材料的(de)重要(yao)測量手(shou)段(duan)。在(zai)生(sheng)產質(zhi)量控(kong)制(zhi)和優化(hua)上也(ye)是(shi)強(qiang)有力的(de)工具。
二(er)、主要(yao)用途(tu)
高(gao)低(di)溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)儀(yi),用於(yu)分析(xi)寬(kuan)頻、高(gao)低(di)溫條(tiao)件(jian)下被(bei)測樣品的介(jie)電(dian)系(xi)數(shu)、阻(zu)抗(kang)Z、電(dian)抗(kang)X、導(dao)納Y、電(dian)導(dao)G、電(dian)納B、電(dian)感L、介(jie)電(dian)損耗D、因數Q等(deng)物(wu)理(li)量,得(de)到(dao)這(zhe)些變化曲線的(de)頻(pin)率(lv)譜、溫度譜(pu)、介(jie)電(dian)譜曲線。可(ke)廣(guang)泛(fan)應(ying)用於鐵(tie)電(dian)壓電(dian)陶瓷材料、半(ban)導(dao)體(ti)器(qi)件(jian)及功能(neng)薄膜(mo)材料等(deng)研(yan)究(jiu)。該(gai)儀器(qi)用(yong)於科(ke)研(yan)機(ji)關(guan)、學(xue)校(xiao)、工(gong)廠(chang)等(deng)單(dan)位對(dui)無機(ji)金(jin)屬新(xin)材料的(de)應(ying)用研(yan)究(jiu)科(ke)研(yan)機(ji)關(guan)、高(gao)校(xiao)、工廠(chang)等(deng)地(di)方。
三(san)、測量參(can)數
頻(pin)率(lv)範圍(wei) | 20Hz-30MHz |
測量精(jing)度 | 0.05% |
測量原(yuan)理(li) | 平(ping)行板(ban)電容(rong)器原(yuan)理(li) |
測溫精(jing)度 | ±1℃ |
供(gong)電 | 220V±10%,50Hz |
工(gong)作環(huan)境 | 0℃-55℃ |
樣(yang)品尺寸(cun) | φ≤15min,d=3mm |
測量方(fang)式 | 2線-4線測量 |
電(dian)極(ji)材料 | 鉑(bo)金(jin) |
儀(yi)器(qi)尺(chi)寸(cun) | 650×500×550 |
四(si)、系(xi)統參(can)數
溫度範圍(wei) | -160℃-450℃ |
控(kong)溫精(jing)度 | ±1℃ |
控(kong)溫方(fang)式 | 連(lian)續升溫和分段(duan)升溫 |
測量精(jing)度 | 0.1℃ |
升溫斜率(lv) | 0-10℃min(典(dian)型值(zhi)3℃min) |
控(kong)溫方(fang)式 | PID精(jing)確(que)控(kong)溫 |
顯(xian)示控(kong)制(zhi) | 彩色(se)觸(chu)摸屏(ping) |
數(shu)據(ju)接(jie)口(kou) | USB接(jie)口(kou) |
冷卻方式 | 水(shui)冷 |
降(jiang)溫斜率(lv) | 0-1℃/mim(典(dian)型值(zhi)3℃/min) |
五(wu)、軟(ruan)件(jian)功能(neng)
HC5000系(xi)列(lie)測試(shi)系(xi)統的(de)軟件(jian)平(ping)臺hacepro,采(cai)用(yong)labview系(xi)統開(kai)發,符(fu)合導(dao)體(ti)、半(ban)導(dao)體(ti)材料的(de)各項(xiang)測試(shi)需求。具備(bei)穩定性(xing)與(yu)性(xing),並(bing)具備(bei)斷電資料的(de)保存(cun)功能(neng),圖像(xiang)資料可(ke)保存(cun)恢復(fu)。兼容(rong)XP、win7、win10系(xi)統。
友(you)善(shan)的使用(yong)界面(mian):
多語(yu)界面(mian):支(zhi)持中(zhong)文(wen)/英(ying)文(wen)兩(liang)種(zhong)語(yu)言(yan)界面(mian)
即(ji)時(shi)監(jian)控(kong):系(xi)統測試(shi)狀態(tai)即(ji)時(shi)瀏(liu)覽(lan),無需等(deng)待(dai)
圖(tu)例管理(li):通(tong)過(guo)軟件(jian)中(zhong)的狀態(tai)圖(tu)示,壹目了(le)然,了(le)解測試(shi)狀態(tai)
使用(yong)權(quan)限(xian):可(ke)設定使用(yong)者的權(quan)限(xian)方便管理(li)
故(gu)障(zhang)狀態(tai):軟(ruan)件(jian)具有設備(bei)故障的(de)報警(jing)功能(neng)
六(liu)、硬(ying)件(jian)支(zhi)持
集(ji)成(cheng)[email protected]雙(shuang)核處理(li)器
集(ji)成(cheng)打印(yin)接(jie)口(kou),可(ke)擴(kuo)充8個USB即(ji)可
支(zhi)持16G內存(cun),60G固態硬(ying)盤(pan),讓系(xi)統運(yun)行流(liu)暢
七(qi)、產品特(te)點(dian)
1)高(gao)溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)儀(yi)-高(gao)溫介(jie)電(dian)測量系(xi)統
2)測量精(jing)度高(gao),控(kong)溫,測量頻(pin)率(lv)寬(kuan),抗(kang)交(jiao)流幹(gan)擾(rao);
3)介(jie)電(dian)軟件(jian)功能(neng),擁(yong)有完善(shan)的測量系(xi)統;
4)直接(jie)得(de)出介(jie)電(dian)常數實(shi)部和虛(xu)部(bu)的(de)比值(zhi)曲線;
5)直接(jie)得(de)出復(fu)阻(zu)抗(kang)實(shi)部和虛(xu)部(bu)比值(zhi)曲線的(de)Cole-Cole圖(tu);
6)直接(jie)得(de)出機(ji)械(xie)因(yin)數(shu)Qm;
7)集(ji)方(fang)案(an)、測量、分析(xi)、數字(zi)化顯(xian)示於壹(yi)體(ti)集(ji)成(cheng)化設(she)計;
8)觸(chu)摸屏(ping)操(cao)作,美觀(guan)設(she)計,外(wai)觀與(yu)智能(neng)共存(cun);
9)自主(zhu)研(yan)發設計電(dian)極(ji)系(xi)統,重復(fu)性(xing)好,穩(wen)定(ding)性(xing)高(gao);
10)高(gao)溫、寬(kuan)頻下測量材料的(de)介(jie)電(dian);
11)壹(yi)次只(zhi)能(neng)測量壹(yi)個樣(yang)品,測量;
12)高(gao)溫介(jie)電(dian)測量系(xi)統與(yu)安(an)捷倫(lun)、穩科(ke)阻(zu)抗(kang)產品兼容(rong);
13)多種(zhong)溫度選(xuan)型,。
八(ba)、系(xi)統配(pei)置要求
1)電(dian)磁(ci)鐵(tie):磁(ci)場(chang)間距可變;能(neng)提(ti)供(gong)工作穩(wen)定性(xing)。
2)電(dian)磁(ci)鐵(tie)電(dian)源(yuan):具有直流(liu)與(yu)交流(liu)電(dian)流(liu)模(mo)式;要(yao)采(cai)用(yong)真(zhen)正的雙(shuang)極(ji)四(si)相限電源,提(ti)供(gong)平(ping)滑
的(de)零(ling)磁場(chang)轉(zhuan)換功能(neng)和斷水斷電保護功能(neng);要求為水(shui)冷模(mo)式,減(jian)少(shao)測試(shi)噪(zao)音,冷卻效(xiao)果(guo)充
分,確(que)保電子器件(jian)的(de)有效(xiao)散(san)熱,設備(bei)穩定性(xing)好,壽(shou)命(ming)長(chang)。
3)測試(shi)儀表(biao),配(pei)套(tao)的機(ji)櫃(gui)、安(an)裝(zhuang)支(zhi)架(jia)和電纜(lan)。
4)安(an)裝(zhuang)系(xi)統軟(ruan)件(jian)的(de)計算(suan)機(ji)壹(yi)套(tao)
高(gao)低(di)溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)測試(shi)儀器(qi)
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