華(hua)測(ce)閉孔(kong)溫(wen)度測(ce)試儀(yi) 隔(ge)膜工藝(yi)電(dian)池設計改(gai)進(jin)閉孔(kong)溫(wen)度、破(po)孔(kong)溫度測(ce)試儀(yi)，在業(ye)內(nei)測(ce)試方法(fa)的(de)基礎上，結合(he)華(hua)測(ce)儀(yi)器多位(wei)工(gong)程(cheng)師(shi)多年(nian)開發，其(qi)具(ju)有(you)更(geng)準確(que)的測(ce)試功(gong)能，設(she)備(bei)最(zui)大(da)測(ce)試頻(pin)率(lv)可(ke)達1MHz，采(cai)用(yong)直(zhi)接(jie)交流(liu)阻抗法(fa)分(fen)析(xi)儀(yi)用以提(ti)高(gao)測(ce)試的(de)精(jing)度，並且(qie)采(cai)用(yong)直(zhi)流(liu)電(dian)極(ji)加(jia)熱方式(shi)，減少(shao)電(dian)網(wang)諧波對(dui)測(ce)量儀(yi)表(biao)的(de)幹(gan)擾(rao)和測(ce)試信(xin)號(hao)的幹(gan)擾(rao)。測(ce)試功(gong)能上(shang)也可(ke)擴(kuo)展(zhan)電(dian)容C、損耗D等測(ce)試。它(ta)能(neng)夠(gou)在不同測(ce)量條(tiao)件和測(ce)量模式(shi)下進(jin)行(xing)連(lian)續和高(gao)速(su)的(de)測(ce)量功(gong)能！

鋰(li)電(dian)池安全(quan)檢測(ce)工具(ju)-閉孔(kong)破(po)孔(kong)溫度測(ce)試儀(yi)，在業(ye)內(nei)測(ce)試方法(fa)的(de)基礎上，結合(he)華(hua)測(ce)儀(yi)器多位(wei)工(gong)程(cheng)師(shi)多年(nian)開發，其(qi)具(ju)有(you)更(geng)準確(que)的測(ce)試功(gong)能，設(she)備(bei)最(zui)大(da)測(ce)試頻(pin)率(lv)可(ke)達1MHz，采(cai)用(yong)直(zhi)接(jie)交流(liu)阻抗法(fa)分(fen)析(xi)儀(yi)用以提(ti)高(gao)測(ce)試的(de)精(jing)度，並且(qie)采(cai)用(yong)直(zhi)流(liu)電(dian)極(ji)加(jia)熱方式(shi)，減少(shao)電(dian)網(wang)諧波對(dui)測(ce)量儀(yi)表(biao)的(de)幹(gan)擾(rao)和測(ce)試信(xin)號(hao)的幹(gan)擾(rao)。測(ce)試功(gong)能上(shang)也可(ke)擴(kuo)展(zhan)電(dian)容C、損耗D等測(ce)試。

HCRD-300L系列(lie)電(dian)容器薄膜電(dian)弱(ruo)點測(ce)試儀(yi)是專(zhuan)為(wei)電(dian)容器用聚酯（PET）而設計(ji)的(de)電(dian)氣(qi)性能(neng)檢(jian)測(ce)設備(bei)。該(gai)儀(yi)器嚴(yan)格(ge)遵(zun)循(xun) GB/T 13542.2《電(dian)氣(qi)用(yong)塑(su)料薄膜試驗(yan)方法(fa)》 及(ji) IEC 60674-2 標(biao)準，可(ke)識(shi)別薄膜中(zhong)因(yin)雜質、微孔(kong)、厚度不均(jun)或結(jie)構(gou)異常(chang)所導致(zhi)的(de)局部絕(jue)緣(yuan)薄弱區(qu)域(yu)（即“電(dian)弱(ruo)點”）。

HCRD-300L系列(lie)鋰(li)電(dian)池隔(ge)膜電(dian)弱(ruo)點測(ce)試儀(yi)，主要應(ying)用(yong)於新能源(yuan)汽(qi)車用鋰(li)離(li)子(zi)電(dian)池隔(ge)膜電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)性能(neng)缺(que)陷檢(jian)測(ce)。采(cai)用(yong)計(ji)算(suan)機(ji)控制(zhi)，可(ke)靠(kao)性、耐(nai)用(yong)性和穩定性。

HCDJC系列(lie)變(bian)溫(wen)極(ji)化(hua)油(you)浴(yu)擊穿(chuan)試驗(yan)設備(bei) 華(hua)測(ce)儀(yi)器電(dian)壓(ya)擊穿(chuan)試驗(yan)儀(yi)主要適用於固(gu)體絕緣(yuan)材料如(ru)絕(jue)緣漆、樹(shu)脂和膠(jiao)、浸(jin)漬(zi)纖(xian)維(wei)制(zhi)品、雲母(mu)及(ji)其(qi)制(zhi)品、塑(su)料、薄膜復(fu)合(he)制(zhi)品、陶瓷和玻璃等介(jie)質(zhi)在工頻(pin)電(dian)壓(ya)或(huo)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)下(xia)擊穿(chuan)強度和耐電(dian)壓(ya)時間的(de)測(ce)試。

HCDH-4耐(nai)電(dian)弧(hu)試驗(yan)儀(yi)高(gao)壓(ya)低(di)電(dian)流(liu)電(dian)弧(hu)放(fang)電(dian)試驗(yan)是專(zhuan)門(men)為(wei)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)材料測(ce)試而開發的(de)高(gao)精(jing)密(mi)設備(bei)，適(shi)於(yu)用(yong)於(yu)電(dian)氣(qi)絕(jue)緣(yuan)材料、塑(su)料、薄膜、樹脂、雲母(mu)、陶瓷、玻璃、絕緣(yuan)漆等(deng)介質在(zai)工(gong)頻(pin)電(dian)壓(ya)或(huo)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)下(xia)擊穿(chuan)強度和耐電(dian)壓(ya)時間的(de)測(ce)試。也可(ke)應(ying)用(yong)於產品檢測(ce)以及(ji)新(xin)材料電(dian)學(xue)性能(neng)研(yan)究(jiu)等用途。

​華(hua)測(ce)鋰(li)電(dian)池隔(ge)膜透(tou)氣(qi)性氣(qi)密(mi)性測(ce)試儀(yi)，華測(ce)密(mi)性測(ce)試系統(tong)縱(zong)向(xiang)位(wei)測(ce)試，直(zhi)接(jie)搭(da)配(pei)現(xian)有(you)的氣(qi)密(mi)性測(ce)試設(she)備(bei)使用，成(cheng)卷膜透(tou)氣(qi)性測(ce)試，測(ce)試間(jian)隔(ge)可(ke)任(ren)意(yi)設(she)置。

​華(hua)測(ce)鋰(li)電(dian)池隔(ge)膜氣(qi)密(mi)性透(tou)氣(qi)性測(ce)試儀(yi)，華測(ce)密(mi)性測(ce)試系統(tong)縱(zong)向(xiang)位(wei)測(ce)試，直(zhi)接(jie)搭(da)配(pei)現(xian)有(you)的氣(qi)密(mi)性測(ce)試設(she)備(bei)使用，成(cheng)卷膜透(tou)氣(qi)性測(ce)試，測(ce)試間(jian)隔(ge)可(ke)任(ren)意(yi)設(she)置。