絕(jue)緣(yuan)材料電(dian)阻(zu)評價(jia)平(ping)臺(tai)/支(zhi)持(chi)定(ding)制/測(ce)試(shi)設備

HC9023 絕(jue)緣(yuan)材料電(dian)阻(zu)評價(jia)平(ping)臺(tai)

絕緣(yuan)材料電(dian)阻(zu)評價(jia)平(ping)臺(tai)/支(zhi)持(chi)定(ding)制/測(ce)試(shi)設備運(yun)用平(ping)行(xing)板(ban)法設計原(yuan)理(li)測(ce)量(liang)利用特別(bie)的電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)系統，重復(fu)性(xing)與(yu)穩(wen)定(ding)性更(geng)好(hao)，提升(sheng)了(le)夾(jia)具的(de)抗(kang)幹(gan)擾(rao)能(neng)力，同時大(da)大(da)提高的(de)精(jing)確度(du),可(ke)應(ying)用於產品(pin)檢(jian)測(ce)以(yi)及(ji)新(xin)材料電(dian)學(xue)性能(neng)研(yan)究(jiu)等(deng)用途。

針對絕(jue)緣(yuan)材料電(dian)阻(zu)評價(jia)平(ping)臺(tai)/支(zhi)持(chi)定(ding)制/測(ce)試(shi)設備做了(le)多項(xiang)安(an)全(quan)設計，測(ce)試(shi)過程(cheng)中在(zai)過電(dian)壓(ya)、過電(dian)流(liu)、超溫(wen)等(deng)異(yi)常(chang)情(qing)況(kuang)下(xia)以(yi)保(bao)證(zheng)測(ce)試(shi)過程(cheng)的安(an)全(quan)；資料保(bao)存機(ji)制，當遇(yu)到電(dian)腦(nao)異(yi)常(chang)或(huo)瞬時斷電(dian)時，可(ke)將(jiang)資料保(bao)存於控(kong)制器(qi)中，不丟失(shi)試(shi)驗(yan)數據(ju)，設備重新開(kai)啟(qi)後可(ke)恢(hui)復(fu)原(yuan)有試(shi)驗(yan)數(shu)據。絕(jue)緣(yuan)材料電(dian)阻(zu)評價(jia)平(ping)臺(tai)中的(de)恒溫(wen)箱給每個腔(qiang)室都(dou)配(pei)備了(le)壹(yi)個型(xing)號控(kong)制器(qi)，該(gai)控(kong)制器(qi)允許(xu)程(cheng)序(xu)重復(fu)多達(da)9999次(ci)。

每個程(cheng)序(xu)步(bu)驟(zhou)包(bao)括(kuo)溫(wen)度(du)、時間(jian)和變化(hua)率(lv)參數。浸(jin)泡時間(jian)最長可(ke)達(da)100小時。提供的內(nei)置控(kong)制器(qi)外部接(jie)口是(shi)RS232。控(kong)制器(qi)具有按(an)鈕方便(bian)性、背(bei)光LCD、電(dian)池(chi)支(zhi)持(chi)的存儲(chu)器和(he)可(ke)設置的(de)總(zong)線(xian)地址和(he)波特率(lv)。

設備優(you)勢

1、消除(chu)電(dian)網(wang)諧波對采(cai)集精(jing)度(du)的(de)影(ying)響(xiang)

在(zai)超高阻(zu)、弱(ruo)信(xin)號測(ce)量(liang)過(guo)程(cheng)中、輸入(ru)偏(pian)置電(dian)流(liu)和(he)泄漏電(dian)流(liu)都(dou)會(hui)引(yin)起(qi)測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)。同時電(dian)網(wang)中大(da)量(liang)使(shi)用變頻(pin)器等(deng)高頻(pin)、高功率(lv)設備，將(jiang)對(dui)電(dian)網(wang)造(zao)成諧波幹擾。以(yi)致(zhi)影(ying)響(xiang)弱(ruo)信(xin)號的(de)采(cai)集，華(hua)測(ce)儀(yi)器公(gong)司推(tui)出(chu)的(de)抗(kang)幹(gan)擾(rao)模塊以(yi)及(ji)用新測(ce)試(shi)分析技術(shu),實現(xian)了(le)高達(da)1fA(10-15 A)的測(ce)量(liang)分辨率(lv),從而滿足了(le)很多半(ban)導(dao)體(ti),功能(neng)材料和(he)納(na)米(mi)器(qi)件的測(ce)試(shi)需求。

2、采(cai)用測(ce)量(liang)前(qian)等(deng)待的方式，讓(rang)材料受(shou)熱更均(jun)勻

當溫(wen)度(du)達(da)到設定(ding)溫(wen)度(du)後(hou)，樣(yang)品(pin)的(de)均勻受熱(re)會(hui)有(you)壹(yi)定(ding)的滯(zhi)後(hou)現(xian)象，采(cai)用達到設備溫(wen)度(du)保(bao)持(chi)時間(jian)，采(cai)用測(ce)量(liang)前(qian)等(deng)待的方式。可(ke)以(yi)讓(rang)材料受(shou)熱更均(jun)勻，測(ce)量(liang)更(geng)加科學合(he)理(li)。

強(qiang)大(da)的(de)操作(zuo)軟(ruan)件