華測(ce)-體積小重(zhong)量(liang)輕可測(ce)薄(bo)膜高阻(zu)計測(ce)試(shi)儀器

儀(yi)器簡介(jie)：

表面(mian)、體積電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀（高阻(zu)計）既可(ke)測(ce)量(liang)高電(dian)阻(zu)，又可測(ce)微(wei)電(dian)流(liu)。測(ce)量(liang)精度達到 3%。同時(shi)儀器體積小、重(zhong)量(liang)輕、本(ben)儀器具有精度高、顯示迅(xun)速、性(xing)好穩定(ding)、讀數(shu)方(fang)便等優點(dian)。數(shu)字液晶(jing)直接顯示電(dian)阻(zu)值和(he)電(dian)流(liu)。量(liang)程從(cong) 0.01×10e4Ω ～1×10e18 Ω，是(shi)測(ce)量(liang)範(fan)圍寬，準(zhun)確。電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)範(fan)圍為 2×10e-4 ～1×10e-16Ａ。測(ce)試(shi)電(dian)壓為 10/50/100/250/500/1000V 任意可(ke)調(tiao)。

設備原理(li)：

表面(mian)、體積電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀（高阻(zu)計）是(shi)根(gen)據(ju)歐姆(mu)定(ding)律(lv)，被測(ce)電(dian)阻(zu)Rx等於(yu)施加電(dian)壓V除以通過(guo)的電(dian)流(liu)I。傳(chuan)統的(de)高阻(zu)計的工(gong)作(zuo)原理(li)是測(ce)量(liang)電(dian)壓V固(gu)定(ding)，通過(guo)測(ce)量(liang)流(liu)過(guo)取(qu)樣電(dian)阻(zu)的電(dian)流(liu)I來(lai)得到電(dian)阻(zu)值。從歐姆(mu)定(ding)律(lv)可(ke)以看出(chu)，由於(yu)電(dian)流(liu)I是(shi)與(yu)電(dian)阻(zu)成(cheng)反比(bi)，而(er)不(bu)是成(cheng)正(zheng)比(bi)，所(suo)以(yi)電(dian)阻(zu)的顯示值是非線(xian)性(xing)的(de)，即電(dian)阻(zu)無(wu)窮大(da)時，電(dian)流(liu)為零(ling)，即表頭(tou)的(de)零(ling)位處是(shi)∞，其(qi)附近(jin)的刻(ke)度非常密，分(fen)辨率(lv)很(hen)低整個(ge)刻(ke)度是非線(xian)性(xing)的(de)。又由於(yu)測(ce)量(liang)不(bu)同的電(dian)阻(zu)時，其電(dian)壓V也(ye)會(hui)有些(xie)變(bian)化(hua)，所(suo)以(yi)普(pu)通的高(gao)阻(zu)計是精度差、分(fen)辨率(lv)低。
  Huace-300數(shu)字型表面(mian)體積電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)試(shi)儀是同時(shi)測(ce)出(chu)電(dian)阻(zu)兩端的電(dian)壓V和(he)流(liu)過(guo)電(dian)阻(zu)的電(dian)流(liu)I，通過(guo)內(nei)部(bu)的(de)大(da)規模(mo)集成(cheng)電(dian)路完成(cheng)電(dian)壓除以電(dian)流(liu)的(de)計算，然後(hou)把所(suo)得(de)到的結果(guo)經過(guo)A/D轉換(huan)後(hou)以數(shu)字顯示出(chu)電(dian)阻(zu)值，即便是電(dian)阻(zu)兩端的電(dian)壓V和(he)流(liu)過(guo)電(dian)阻(zu)的電(dian)流(liu)I是(shi)同時變(bian)化(hua)，其(qi)顯示的(de)電(dian)阻(zu)值不(bu)象普(pu)通高阻(zu)計那(na)樣因(yin)被測(ce)電(dian)壓V的(de)變(bian)化(hua)或(huo)電(dian)流(liu)Ｉ的(de)變(bian)化(hua)而(er)變(bian)，所(suo)以(yi)，即(ji)使(shi)測(ce)量(liang)電(dian)壓、被測(ce)量(liang)電(dian)阻(zu)、電(dian)源(yuan)電(dian)壓等(deng)發生(sheng)變(bian)化(hua)對(dui)其結果(guo)影(ying)響(xiang)不(bu)大(da)，其測(ce)量(liang)精度很(hen)高(gao) ，從(cong)理(li)論(lun)上(shang)講(jiang)其誤差可(ke)以(yi)做(zuo)到零(ling)，而(er)實(shi)際(ji)誤差可(ke)以做(zuo)到千分(fen)之(zhi)幾或(huo)萬(wan)分之(zhi)幾。

典型應(ying)用(yong)：

●測(ce)量(liang)絕(jue)緣(yuan)材料電(dian)阻(zu)(率(lv))                                

●測(ce)量(liang)防(fang)靜(jing)電(dian)鞋、導電(dian)鞋的電(dian)阻(zu)值

●測(ce)量(liang)防(fang)靜(jing)電(dian)材料的(de)電(dian)阻(zu)及(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)                  

●光電(dian)二極管(guan)暗電(dian)流(liu)測(ce)

●物(wu)理(li),光學和(he)材料研(yan)究                              

●高(gao)分(fen)子(zi)材料表面(mian)體積電(dian)阻(zu)率(lv)測(ce)定(ding)

符合(he)標準(zhun)：

GB/T 1410-2006 固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材料 體積電(dian)阻(zu)率(lv)和(he)表面(mian)電(dian)阻(zu)率(lv)試(shi)驗(yan)方法(fa)

GB 12014 防(fang)靜(jing)電(dian)工(gong)作(zuo)服

GB/T 20991-2007 個(ge)體防(fang)護裝(zhuang)備(bei)鞋的測(ce)試(shi)方法

GB 4385-1995 防(fang)靜(jing)電(dian)鞋、導電(dian)鞋技(ji)術(shu)要(yao)求(qiu)

GB 12158-2006 防(fang)止(zhi)靜(jing)電(dian)事故通用(yong)導則

GB 4655-2003 橡(xiang)膠(jiao)工(gong)業(ye)靜(jing)電(dian)規程

GB/T 12703.4-2010 紡(fang)織品 靜(jing)電(dian)的評定(ding) 第4部(bu)分(fen) 電(dian)阻(zu)率(lv)

GB/T 12703.6-2010 紡(fang)織品 靜(jing)電(dian)的評定(ding) 第6部(bu)分(fen) 纖(xian)維泄漏(lou)電(dian)阻(zu)

GB 13348-2009 液體石(shi)油產(chan)品靜(jing)電(dian)規程

GB/T 15738-2008 導電(dian)和(he)抗(kang)靜(jing)電(dian)纖維增(zeng)強(qiang)塑料(liao)電(dian)阻(zu)率(lv)試(shi)驗(yan)方法(fa)

GB/T 18044-2008 地(di)毯(tan) 靜(jing)電(dian)習性(xing)評(ping)價(jia)法 行(xing)走(zou)試(shi)驗(yan)

GB/T 18864-2002 硫(liu)化(hua)橡(xiang)膠(jiao) 工(gong)業(ye)用(yong)抗(kang)靜(jing)電(dian)和(he)導電(dian)產品 電(dian)阻(zu)極限範(fan)圍

GB/T 22042-2008 服(fu)裝(zhuang) 防(fang)靜(jing)電(dian) 表面(mian)電(dian)阻(zu)率(lv)試(shi)驗(yan)方法(fa)

GB/T 22043-2008 服(fu)裝(zhuang) 防(fang)靜(jing)電(dian) 通過(guo)材料的(de)電(dian)阻(zu)(垂(chui)直電(dian)阻(zu))試驗(yan)方法(fa)

GB/T 24249-2009 防(fang)靜(jing)電(dian)潔(jie)凈織物

GB 26539-2011 防(fang)靜(jing)電(dian)陶瓷磚 Antistatic ceramic tiles

GB/T 26825-2011 抗(kang)靜(jing)電(dian)防(fang)腐膠(jiao)

GB 50515-2010 導(防(fang))靜(jing)電(dian)地(di)面(mian)設計規範(fan)

GB 50611-2010 電(dian)子(zi)工(gong)程防(fang)靜(jing)電(dian)設計規範(fan)

GJB 105-1998-Z 電(dian)子(zi)產品防(fang)靜(jing)電(dian)放電(dian)控(kong)制手冊

GJB 3007A-2009 防(fang)靜(jing)電(dian)工(gong)作(zuo)區技(ji)術(shu)要(yao)求(qiu)

GJB 5104-2004 無(wu)線電(dian)引(yin)信風(feng)帽用(yong)防(fang)靜(jing)電(dian)塗料及(ji)風帽(mao)靜(jing)電(dian)通用(yong)要(yao)求(qiu)

設備優勢(shi)：

電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)範(fan)圍 1×104Ω ～1×1018 Ω；

電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)範(fan)圍 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；

體積小、重(zhong)量(liang)輕、；

被測(ce)電(dian)阻(zu)、和(he)流(liu)過(guo)電(dian)阻(zu)的電(dian)流(liu)雙(shuang)顯示，使(shi)操(cao)作(zuo)測(ce)量(liang)方便；
穩定(ding)、讀數(shu)方(fang)便；
既能(neng)測(ce)電(dian)阻(zu)又能測(ce)電(dian)流(liu)；
測(ce)試(shi)電(dian)壓有六種(zhong)選擇DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；

使(shi)用(yong)操(cao)作(zuo)簡便，在任何電(dian)阻(zu)量程和(he)測(ce)試(shi)電(dian)壓下均(jun)直接讀(du)顯示數(shu)字結果(guo)，免去要(yao)乘(cheng)以壹個(ge)系(xi)數(shu)的(de)麻煩，使(shi)測(ce)量(liang)超高電(dian)阻(zu)就如(ru)用(yong)萬(wan)用(yong)表測(ce)量(liang)普(pu)通電(dian)阻(zu)樣簡便。

多(duo)測(ce)量(liang)方案

技(ji)術(shu)參數:

註意事項:

儀(yi)器使(shi)用(yong)前(qian)請仔細(xi)閱讀以下內(nei)容(rong)，否則(ze)將(jiang)造成(cheng)儀(yi)器損(sun)壞或(huo)電(dian)擊情況(kuang)。

1.檢(jian)查(zha)儀器後(hou)面板(ban)電(dian)壓量(liang)程是(shi)否置(zhi)於(yu)規(gui)定(ding)檔(dang)，電(dian)流(liu)電(dian)阻(zu)量程是(shi)否置(zhi)於(yu)規(gui)定(ding)檔(dang)。

2.接(jie)通電(dian)源(yuan)調(tiao)零(ling)，（註意此(ci)時主(zhu)機不(bu)得與(yu)屏蔽(bi)箱(xiang)線(xian)路連(lian)接）在“Rx"兩端(duan)開路的(de)情(qing)況(kuang)下，調(tiao)零(ling)使(shi)電(dian)流(liu)表的(de)顯示為0000。然後(hou)關機。
3.將(jiang)待(dai)測(ce)試(shi)樣平鋪(pu)在(zai)不(bu)保護電(dian)極正(zheng)中(zhong)央(yang)，然(ran)後(hou)用(yong)保(bao)護電(dian)極壓住(zhu)樣品；再(zai)插入被保護電(dian)極（不(bu)保護電(dian)極、保護電(dian)極、被保護電(dian)極應同(tong)軸且確認(ren)電(dian)極之(zhi)間無(wu)短路）。

4.測(ce)體積電(dian)阻(zu)時測(ce)試(shi)按鈕撥到Rv邊，測(ce)表面(mian)電(dian)阻(zu)時測(ce)試(shi)按鈕撥到Rs邊（具體詳見說明(ming)書(shu)）。

5.接(jie)好測(ce)試(shi)線，將(jiang)測(ce)試(shi)線將(jiang)主(zhu)機與(yu)屏蔽(bi)箱(xiang)連(lian)接好。

6.量(liang)程置(zhi)於(yu)規(gui)定(ding)檔(dang)，打(da)開主(zhu)機後(hou)面板(ban)電(dian)源(yuan)開關按(an)鈕(niu)。

7.從(cong)儀(yi)器後(hou)面板(ban)調(tiao)電(dian)壓按(an)鈕(niu)到所(suo)要(yao)求(qiu)的(de)測(ce)量(liang)電(dian)壓。(比(bi)如(ru)：GBT 1692-2008 硫(liu)化(hua)橡(xiang)膠(jiao) 絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)率(lv)的(de)測(ce)定(ding) 標準(zhun)中(zhong)註明(ming)要(yao)求(qiu)在(zai)500V電(dian)壓進(jin)行(xing)測(ce)定(ding)，那(na)麽(me)電(dian)壓就(jiu)要(yao)升(sheng)到500V)

8.電(dian)流(liu)電(dian)阻(zu)量程按(an)鈕(niu)從低檔(dang)位逐漸撥，每(mei)撥壹次(ci)停(ting)留(liu)1-2秒(miao)觀察顯示數(shu)字，當(dang)被測(ce)電(dian)阻(zu)大(da)於(yu)儀(yi)器測(ce)量(liang)量程時(shi)，電(dian)阻(zu)表顯示“1"；此(ci)時應(ying)繼續將(jiang)儀(yi)器撥(bo)到量程高(gao)的(de)位置。

9.測(ce)量(liang)儀器有顯示值時應停(ting)下，在(zai)1min的(de)電(dian)化(hua)時(shi)間後(hou)測(ce)量(liang)電(dian)阻(zu)，當(dang)前的(de)數字乘以檔(dang)次(ci)即是(shi)被測(ce)電(dian)阻(zu)。

10測(ce)試(shi)完畢(bi)先將(jiang)量(liang)程撥(bo)至(zhi)規(gui)定(ding)檔(dang)，然後(hou)將(jiang)測(ce)量(liang)電(dian)壓撥(bo)回(hui)原位；後(hou)將(jiang)測(ce)試(shi)按鈕撥到中央(yang)位置後(hou)關閉(bi)電(dian)源(yuan)。然後(hou)進行(xing)下壹次(ci)測(ce)試(shi)。

11.應(ying)在(zai)兩端(duan)開路時(shi)調(tiao)零(ling)，壹般壹次(ci)調(tiao)零(ling)後(hou)在測(ce)試(shi)過(guo)程中(zhong)不(bu)需(xu)再(zai)調(tiao)。

12.禁止(zhi)將(jiang)兩(liang)端(duan)短路，以(yi)免微電(dian)流(liu)放(fang)大(da)器受(shou)大(da)電(dian)流(liu)沖(chong)擊。

13.不(bu)得在測(ce)試(shi)過(guo)程中(zhong)不(bu)要(yao)隨(sui)意改動(dong)測(ce)量(liang)電(dian)壓。

14.測(ce)量(liang)時從低次(ci)檔(dang)逐漸撥往(wang)高(gao)次(ci)檔(dang)。

15接(jie)通電(dian)源(yuan)後(hou)，手指(zhi)不(bu)能觸及(ji)高壓線(xian)的(de)金(jin)屬部(bu)分(fen)。

16.不(bu)得測(ce)試(shi)過(guo)程中(zhong)不(bu)能觸摸微電(dian)流(liu)測(ce)試(shi)端。

17.在(zai)測(ce)量(liang)高阻(zu)時，應采用(yong)屏蔽(bi)盒(he)將(jiang)被測(ce)物(wu)體屏蔽(bi)。

18.嚴(yan)禁在試測(ce)過(guo)程隨(sui)意改變(bian)電(dian)壓量(liang)程及(ji)在通電(dian)過(guo)程中(zhong)打(da)開主(zhu)機。

19.嚴(yan)禁電(dian)流(liu)電(dian)阻(zu)量程未(wei)在規(gui)定(ding)檔(dang)數內(nei)，換(huan)試(shi)樣。

華測(ce)-體積小重(zhong)量(liang)輕可測(ce)薄(bo)膜高阻(zu)計測(ce)試(shi)儀器

華測(ce)-體積小重(zhong)量(liang)輕可測(ce)薄(bo)膜高阻(zu)計測(ce)試(shi)儀器