
當前位置:首(shou)頁(ye) > 技術(shu)文章(zhang) > 您知(zhi)道常溫(wen)下(xia)的(de)介(jie)電常(chang)數及損(sun)耗(hao)測(ce)量儀(yi)各模(mo)塊(kuai)功能(neng)嗎?
測(ce)試(shi)原理(li)框(kuang)圖

頻(pin)率範圍 20Hz ~ 20MHz
測(ce)試(shi)參數
電容(rong)(C), 電感(gan)(L), 電阻(zu)(R), 電導(G), 電納(na)(B), 電抗(kang)(X), 損(sun)耗(hao)因(yin)數(D), 因數(Q), 阻(zu)抗(kang)(Z), 導納(na)(Y), 相位角(jiao)(θ)、介(jie)電常(chang)數(ε′ 𝑟相對介(jie)電常(chang)數實(shi)部、ε′′r相對介(jie)電常(chang)數虛部、Dε相對介(jie)電損(sun)耗(hao))、磁(ci)導率(μ ′ 𝑟相對磁(ci)導率實(shi)部、μ′′r 相對磁(ci)導率虛部、Dμ相對磁(ci)導率損(sun)耗(hao))
量測(ce)
電容(rong)C,電感(gan)L及(ji)阻(zu)抗(kang)Z基本(ben)精(jing)確度(du)為(wei)±0.05%。損(sun)耗(hao)因(yin)數D精(jing)確度(du)為(wei)±0.0005及(ji)因(yin)數Q精(jing)確度(du)為(wei)±0.05%。
元件圖形(xing)掃描
WK6500B系(xi)列(lie)精(jing)密阻(zu)抗(kang)分(fen)析(xi)儀(yi)不(bu)僅(jin)提供高(gao)頻(pin)率,的(de)量測(ce)。該(gai)設備(bei)還(hai)是(shi)壹(yi)個包含豐(feng)富特(te)性的(de)元件分(fen)析(xi)儀(yi)。
曲線掃描可依據頻(pin)率、電壓(ya)值和直(zhi)流偏(pian)流(liu)源同(tong)時(shi)在清晰度(du)高的(de)大(da)型(xing)彩(cai)色(se)屏(ping)幕(mu)上(shang)顯(xian)示(shi)任意兩種(zhong)參數的(de)曲線(xian)。顯(xian)示(shi)格式(shi)包括(kuo)串聯(lian)或並聯(lian)等效電路(lu)。
單測(ce)某壹(yi)頻(pin)率時(shi)可(ke)以從曲線(xian)掃描轉(zhuan)換成標(biao)準(zhun)LCR表讀(du)值模(mo)式(shi)。

可變(bian)的(de)輸(shu)出和偏(pian)壓(ya)源
交流輸(shu)出可(ke)選(xuan)高(gao)達(da)1V或20mA,實(shi)現在真實(shi)操作環境(jing)中來(lai)評估(gu)元件。可變(bian)偏(pian)壓(ya)直(zhi)流源可(ke)提供達(da)100mA的(de)電流(liu).
外部控制(zhi)
在品(pin)管(guan)或制作檔(dang)譜的(de)過(guo)程(cheng)中(zhong)可通過(guo) GPIB介(jie)面(mian)來(lai)控制(zhi)儀器(qi)和收(shou)取(qu)讀值.
網端介(jie)面(mian)也(ye)具(ju)有(you)同(tong)樣(yang)的(de)控制(zhi)儀(yi)器(qi)和傳(chuan)輸(shu)資料的(de)功能(neng) – 使(shi)儀器(qi)能(neng)適應(ying)許多(duo)不(bu)同(tong)的(de)測(ce)試(shi)環(huan)境(jing).
多選(xuan)擇(ze)的(de)介(jie)面(mian)
VGA介(jie)面(mian)可連(lian)接(jie)到(dao)PC顯(xian)示(shi)器(qi)或投影(ying)機, 這種(zhong)功能(neng)為(wei)生(sheng)產(chan)環境(jing)或教學培訓(xun)都(dou)提供無(wu)法(fa)衡量的(de)價(jia)值. 本(ben)機還(hai)可通過(guo)外(wai)接(jie)鍵(jian)盤和滑(hua)鼠來(lai)操控(kong),任何PS2或USB鍵盤和滑(hua)鼠都(dou)能(neng)簡單的(de)接(jie)插(cha)到(dao)系(xi)統中(zhong), 提供控(kong)制(zhi)和操(cao)作儀器(qi)的(de)另壹(yi)種(zhong)可行(xing)方(fang)式(shi).
資料儲(chu)存(cun)和提取(qu)
的(de)測(ce)試(shi)結果(guo)及設(she)制都(dou)可(ke)以通過(guo)網路介(jie)面(mian)或USB閃(shan)盤來(lai)儲(chu)存(cun).


電話(hua)
微(wei)信掃壹(yi)掃