寬(kuan)頻(pin)介(jie)電(dian)阻(zu)抗譜(pu)測試儀(yi)系統

系(xi)統功(gong)能(neng)：

寬(kuan)頻(pin)介(jie)電(dian)譜(pu)儀(yi)可以(yi)通過(guo)與寬(kuan)頻(pin)阻(zu)抗的(de)完mei結(jie)合(he)達(da)到極寬(kuan)的(de)頻(pin)率(lv)範(fan)圍（20HZ-120M）；能(neng)靈(ling)敏地(di)測量高分(fen)子(zi)材(cai)料(liao)介(jie)電(dian)常數(shu)及損(sun)耗等參(can)數(shu)；具有極寬(kuan)的(de)阻(zu)抗分(fen)析範(fan)圍（10mΩ~100TΩ）；可(ke)以(yi)測量各種(zhong)固(gu)體(ti)、薄膜(mo)材(cai)料(liao)。其(qi)研(yan)發(fa)的(de)全(quan)自動(dong)在線(xian)控(kong)制軟(ruan)件可(ke)以(yi)實(shi)時(shi)進(jin)行(xing)多達(da)不(bu)同參(can)數(shu)的(de)測量與分(fen)析。

本儀(yi)器還(hai)可以(yi)進(jin)行(xing)不(bu)同溫(wen)度(du)範(fan)圍的(de)測量，研發精(jing)確(que)溫(wen)度(du)控(kong)制系統，可(ke)以(yi)滿(man)足(zu)不(bu)同電(dian)介(jie)質(zhi)材(cai)料(liao)測量時(shi)對(dui)溫(wen)度(du)範(fan)圍和控(kong)溫(wen)精(jing)度(du)的(de)不(bu)同要求(qiu)，配(pei)合(he)高低溫(wen)測試模塊，用(yong)於(yu)研(yan)究(jiu)電(dian)介(jie)質(zhi)材(cai)料(liao)在高(gao)溫(wen)條(tiao)件下(xia)的(de)介(jie)電(dian)。

寬(kuan)頻(pin)介(jie)電(dian)阻(zu)抗譜(pu)儀(yi)不(bu)僅(jin)是(shi)實驗(yan)室開發和研(yan)究(jiu)新(xin)材(cai)料(liao)的(de)重(zhong)要測量手(shou)段，也(ye)是(shi)生產質(zhi)量控(kong)制和優化(hua)生產工藝(yi)的(de)強有力的(de)工具。寬(kuan)頻(pin)介(jie)電(dian)阻(zu)抗譜(pu)儀(yi)廣泛應(ying)用(yong)於(yu)化(hua)學、物理化(hua)學、電(dian)化(hua)學、電(dian)子(zi)、電(dian)工(gong)工(gong)程、材(cai)料(liao)科學(xue)、生物學和制(zhi)藥(yao)等領(ling)域，特別(bie)是(shi)聚(ju)合物、樹脂(zhi)、陶瓷、橡膠(jiao)、玻(bo)璃(li)、液(ye)晶、石(shi)油及懸(xuan)浮體(ti)等(deng)材(cai)料(liao)的(de)研究(jiu)。

設(she)備單(dan)元(yuan)框(kuang)圖(tu)

寬(kuan)頻(pin)介(jie)電(dian)阻(zu)抗譜(pu)儀(yi)測試系統硬件主(zhu)要包(bao)括(kuo)阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)、高阻(zu)計(ji)、高(gao)壓(ya)放(fang)大器、溫(wen)控(kong)模塊，高低溫(wen)測試環(huan)境(jing)（測試夾具）、工(gong)控(kong)電(dian)腦(nao)、供電(dian)及(ji)測試線纜(lan)構(gou)成(cheng)。

設備測試功(gong)能(neng)框圖(tu)

寬(kuan)頻(pin)介(jie)電(dian)譜(pu)儀(yi)可實(shi)現(xian)常溫(wen)環(huan)境(jing)下的(de)介(jie)電(dian)常數(shu)及損(sun)耗測量、高低溫(wen)環(huan)境(jing)下的(de)介(jie)電(dian)溫(wen)譜(pu)及介(jie)電(dian)頻(pin)譜(pu)測量，也(ye)可(ke)以(yi)進(jin)行(xing)不(bu)同溫(wen)度(du)下(xia)超(chao)高阻(zu)測量以(yi)及(ji)TSDC熱(re)激(ji)勵(li)電(dian)流測量功(gong)能(neng)。