技術(shu)文(wen)章(zhang)_第(350)頁－北(bei)京(jing)華測(ce)試(shi)驗儀(yi)器(qi)有限公司(si)

熱(re)門(men)關鍵(jian)詞：功能(neng)材(cai)料電(dian)學綜(zong)合測(ce)試(shi)系統(tong)、絕(jue)緣(yuan)診斷(duan)測(ce)試(shi)系統(tong)、高(gao)低溫介(jie)電(dian)溫譜(pu)測(ce)試(shi)儀(yi)、極(ji)化(hua)裝(zhuang)置與(yu)電(dian)源、高(gao)壓放大(da)器(qi)、PVDV薄(bo)膜極(ji)化(hua)、高(gao)低溫冷熱(re)臺(tai)、鐵(tie)電(dian)壓電(dian)熱(re)釋(shi)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)、絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)電(dian)學性能(neng)綜(zong)合測(ce)試(shi)平臺(tai)、電(dian)擊穿(chuan)強度試(shi)驗儀(yi)、耐(nai)電(dian)弧試(shi)驗儀(yi)、高(gao)壓漏電(dian)起(qi)痕測(ce)試(shi)儀(yi)、沖(chong)擊電(dian)壓試驗儀(yi)、儲(chu)能(neng)材(cai)料電(dian)學測(ce)控(kong)系統(tong)、壓電(dian)傳感器(qi)測(ce)控(kong)系統(tong)。

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高(gao)分子(zi)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)在(zai)電(dian)弧環(huan)境(jing)中(zhong)的(de)失效(xiao)行(xing)為研(yan)究(jiu) 發布時(shi)間(jian)：2025-12-29

在(zai)電(dian)學領(ling)域，電(dian)弧是壹(yi)種(zhong)典型(xing)的(de)自持氣(qi)體(ti)放(fang)電(dian)現象(xiang)，具有高(gao)能(neng)量(liang)密(mi)度、高(gao)溫及(ji)強光(guang)輻(fu)射(she)等(deng)特(te)征(zheng)。其(qi)形成通常(chang)起(qi)始於(yu)兩個(ge)導(dao)體(ti)之(zhi)間(jian)的(de)電(dian)壓差超過介(jie)質(zhi)擊穿(chuan)強度，導(dao)致間(jian)隙中(zhong)的(de)氣體(ti)被(bei)電(dian)離，從(cong)而形成導(dao)電(dian)通道。當(dang)觸(chu)頭金(jin)屬表(biao)面(mian)因熱(re)電(dian)子發射(she)或場(chang)致發射(she)釋(shi)放(fang)出(chu)初(chu)始(shi)電(dian)子後(hou)，這(zhe)些(xie)電(dian)子在(zai)強電(dian)場(chang)作用下(xia)加速運動，與中性氣體(ti)分子(zi)...

詳(xiang)情

2016
8-10

水平、垂(chui)直燃燒(shao)試驗儀(yi)
產(chan)品簡介水平垂(chui)直燃燒(shao)試驗儀(yi)是根據IEC60695、GB5169、GB/T10707-2008等(deng)標準(zhun)的(de)相關條款要(yao)求(qiu)而設(she)計(ji)制造(zao)的(de)模擬電(dian)工電(dian)子產(chan)品周(zhou)圍發生(sheng)著(zhe)火時早(zao)期階段(duan)火焰的(de)影響，以(yi)便通過(guo)模(mo)擬技(ji)術(shu)評(ping)定(ding)著火危險(xian)程度規(gui)格(ge)水平垂(chui)直燃燒(shao)試驗儀(yi)是根據IEC...
2016
8-9

表(biao)面(mian)、體(ti)積(ji)電(dian)阻率測(ce)試(shi)儀(yi)
產(chan)品簡介Huace-300型(xing)表(biao)面(mian)、體(ti)積(ji)電(dian)阻率測(ce)定(ding)儀(yi)采用、低溫漂(piao)系數(shu)極(ji)低的(de)電(dian)阻，肖(xiao)特基(ji)高(gao)壓溫壓二極(ji)管(guan)及高(gao)標準(zhun)GB/T1410-2006《固體(ti)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)體(ti)積(ji)電(dian)阻率和表(biao)面(mian)電(dian)阻率試驗方(fang)法》和美(mei)準(zhun)ASTMD257《絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)的(de)直流(liu)電(dian)阻或電(dian)導(dao)試(shi)驗方(fang)法》等(deng)標...
2016
8-8

華測(ce)試(shi)驗儀(yi)器(qi)電(dian)壓擊穿(chuan)試(shi)驗機(ji)保證及(ji)售(shou)後服務(wu)
華測(ce)試(shi)驗儀(yi)器(qi)電(dian)壓擊穿(chuan)試(shi)驗機(ji)保證及(ji)售(shou)後服務(wu)壹(yi)、系統(tong)的(de)安(an)裝調試及(ji)驗收(shou)1、使(shi)用環(huan)境(jing)為(wei)保(bao)證(zheng)儀(yi)器(qi)的(de)和運行的(de)穩定(ding)性，對(dui)工作(zuo)環(huan)境(jing)有壹(yi)定(ding)的(de)要求：◆避開(kai)強電(dian)、強磁場(chang)等(deng)嚴(yan)重影響測(ce)量(liang)儀(yi)信(xin)號傳輸的(de)設備。如(ru)：電(dian)焊機(ji)、發射(she)塔等(deng)◆使(shi)用三芯電(dian)源，保(bao)證測(ce)量(liang)儀(yi)良(liang)好的(de)接地(di)，避(bi)免(mian)...
2016
1-26

有關電(dian)壓擊穿(chuan)實(shi)驗前(qian)準(zhun)備事(shi)項(xiang)
北(bei)京(jing)華測(ce)電(dian)壓擊穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)試(shi)驗前(qian)的(de)準(zhun)備：（1）打(da)開(kai)試(shi)驗機(ji)右側的(de)總電(dian)源開(kai)關(guan),預(yu)熱(re)15分鐘(zhong)。（2）按(an)動儀(yi)器(qi)上(shang)的(de)啟動按(an)鈕(niu)開(kai)始(shi)試(shi)驗。（3）打(da)開(kai)計(ji)算機進(jin)入Windows系統(tong)。雙(shuang)擊(ji)本(ben)儀(yi)器(qi)軟件的(de)快捷(jie)圖(tu)標即(ji)可進入試驗界(jie)面。華測(ce)電(dian)壓擊穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)交(jiao)直流(liu)試(shi)驗的(de)切(qie)換：（...

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