華(hua)測變溫鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒/鐵電(dian)分(fen)析儀

華(hua)測變溫鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒/鐵電(dian)分(fen)析儀

華(hua)測變溫鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒/鐵電(dian)分(fen)析儀產品(pin)介(jie)紹

高溫(wen)鐵電(dian)測(ce)試(shi)儀用(yong)於(yu)鐵電(dian)體(ti)的鐵電(dian)性(xing)能測量，可用(yong)於(yu)鐵電(dian)體(ti)的科學研(yan)究及近(jin)代物理實驗中(zhong)的固體(ti)物理(li)實驗以(yi)及工業(ye)化(hua)生產(chan)鐵電(dian)存儲器(qi)的鐵電(dian)性(xing)能檢測(ce)中(zhong)。本(ben)測試(shi)系統主要包(bao)括可(ke)編程信(xin)號源、微(wei)電(dian)流(liu)放(fang)大(da)器(qi)、積分(fen)器(qi)、放(fang)大(da)倍(bei)數可編(bian)程放(fang)大器(qi)、模/數(shu)轉(zhuan)換(huan)器(qi)數(shu)/模轉(zhuan)化(hua)器(qi)、微(wei)機接口(kou)部(bu)分(fen)、微(wei)機和應用(yong)軟(ruan)件等(deng)部(bu)分組(zu)成(cheng)。

本(ben)測試(shi)系統采用虛(xu)地模式(shi)測(ce)量電路(lu)，與傳統的Sawyer-Tower模式(shi)相比，此(ci)電(dian)路取(qu)消(xiao)了(le)外(wai)接電容(rong)，可減小(xiao)寄(ji)生元(yuan)件的影響(xiang)。此(ci)電路的測(ce)試(shi)精度僅取(qu)決(jue)於(yu)積分(fen)器(qi)積分(fen)電(dian)容(rong)的精(jing)度，減少了對測試(shi)的影響(xiang)環(huan)節(jie)，比較容(rong)易(yi)定標和(he)校準(zhun)，並且能實現較高的測(ce)量準確(que)度，它不僅能畫出鐵電(dian)薄膜的電(dian)滯(zhi)回線(xian)，還可以(yi)定量得(de)到鐵電(dian)薄膜材(cai)料的飽(bao)和(he)極(ji)化(hua)ps、剩余極(ji)化(hua)Pr、矯(jiao)頑場(chang)Ec、漏(lou)電流(liu)Ik等(deng)參(can)數(shu)，以(yi)及對鐵電(dian)薄膜材(cai)料鐵電(dian)疲(pi)勞(lao)性(xing)能、鐵電(dian)保(bao)持性(xing)能的測(ce)試(shi)。。儀器(qi)采用壹(yi)體(ti)化設(she)計，實現測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)全(quan)數(shu)字(zi)化(hua)，操作(zuo)簡(jian)單(dan)方便。

鐵電(dian)材(cai)料參(can)數測試(shi)儀主要是由正弦(xian)波(bo)、三角(jiao)波(bo)、間歇(xie)三角(jiao)波(bo)、梯形波(bo)發生器(qi)及正(zheng)、負矩形脈(mai)沖和雙(shuang)極(ji)性(xing)雙脈(mai)沖發生器(qi)外(wai)加(jia)鐵電(dian)材(cai)料電(dian)滯(zhi)回線(xian)、I-V特(te)性(xing)及開(kai)關(guan)特性(xing)測(ce)量電路(lu)構(gou)成(cheng)。適(shi)用於(yu)鐵電(dian)薄膜、鐵電(dian)體(ti)材料的電(dian)性能測量，可測(ce)量鐵電(dian)薄膜電(dian)滯(zhi)回線(xian)、I-V特(te)性(xing)及開(kai)關(guan)特性(xing)，可(ke)準(zhun)確(que)地(di)測(ce)出具有非(fei)對稱電滯(zhi)回線(xian)鐵電(dian)薄膜的Pr值(zhi)。可(ke)測(ce)鐵電(dian)體(ti)材料的電(dian)滯(zhi)回線(xian)及IV特(te)性。同(tong)時(shi)也(ye)可(ke)作(zuo)為壹(yi)臺通用(yong)信(xin)號發生器(qi)、高(gao)壓(ya)信號發生器(qi)使用。

華(hua)測變溫鐵電(dian)測(ce)試(shi)盒/鐵電(dian)分(fen)析儀產品(pin)特(te)點

l  電滯(zhi)回線(xian)測(ce)量、鐵電(dian)材(cai)料的飽(bao)和(he)極(ji)化(hua)±Ps、剩余極(ji)化(hua)±Pr、矯(jiao)頑場(chang)±Ec、電(dian)容(rong)量C等參(can)數(shu)

l  鐵電(dian)疲(pi)勞(lao)性(xing)能測量

l  鐵電(dian)保(bao)持性(xing)能測量

l  電阻(zu)測(ce)量

l  漏電(dian)流(liu)測(ce)量

l  高精(jing)度三維移動(dong)平臺