d33高(gao)溫(wen)壓電系數測試(shi)儀的(de)應用領(ling)域

高(gao)溫(wen)壓電系數d33測試(shi)儀采用(yong)FPGA數(shu)字技術(shu)，為(wei)激(ji)振器提供高(gao)度(du)穩定(ding)的(de)測試(shi)頻(pin)率(lv)，激(ji)振器作為核(he)心(xin)振源，確保了信(xin)號源(yuan)的(de)精(jing)準(zhun)與(yu)可(ke)靠(kao)。華測儀器在弱(ruo)信(xin)號采(cai)集(ji)技術(shu)方面(mian)的(de)深厚(hou)積累，高(gao)溫(wen)壓電系數d33測試(shi)儀實現了(le)在高(gao)溫(wen)環(huan)境下(xia)對(dui)壓電系數的(de)高精(jing)度(du)測量(liang)，顯(xian)著(zhu)提(ti)升(sheng)了系統的(de)信(xin)噪(zao)比(bi)與穩(wen)定(ding)性(xing)。

相較(jiao)於(yu)傳統(tong)d33測量(liang)儀，本(ben)設(she)備(bei)在多項(xiang)性(xing)能(neng)指(zhi)標上實(shi)現重(zhong)要突(tu)破：不僅測量(liang)精(jing)度(du)高、量(liang)程寬，還具有較(jiao)強(qiang)的(de)可(ke)靠(kao)性(xing)和簡(jian)便(bian)的(de)操(cao)作(zuo)體驗。它(ta)能(neng)夠(gou)直(zhi)接(jie)分(fen)析(xi)並(bing)生(sheng)成樣(yang)品壓電常數d33隨(sui)溫(wen)度變(bian)化的(de)壓電溫(wen)譜圖(tu)，為(wei)材料(liao)性(xing)能(neng)研(yan)究(jiu)提(ti)供直(zhi)觀的(de)數據(ju)支持

技術(shu)參(can)數：

● 壓電陶瓷研(yan)究(jiu)：測試(shi)鋯(gao)鈦酸鉛(qian)（PZT）、氧化鋯（ZrO2）、氧化鈮（Nb2O5）等壓電陶瓷材料(liao)在高(gao)溫(wen)下的(de)壓電性(xing)能(neng)變(bian)化(hua)

● 高(gao)分子壓電材料(liao)研(yan)究(jiu)：測試(shi)聚(ju)偏(pian)氟乙烯(xi)（PVDF）等高分子壓電材料(liao)在高(gao)溫(wen)下的(de)性(xing)能(neng)穩(wen)定(ding)性(xing)

● 鐵(tie)電材料(liao)研(yan)究(jiu)：通過(guo)測量(liang)不同溫(wen)度下(xia)的(de)電學性(xing)質數據(ju)，研(yan)究(jiu)鐵(tie)電材料(liao)的(de)相變(bian)行(xing)為和電學性(xing)能(neng)

應(ying)用領域：

● 溫(wen)度範圍：RT~650℃

● 測試(shi)頻(pin)率(lv)：30Hz-140Hz（可(ke)調(tiao)）

● 測試(shi)載(zai)荷：靜(jing)態(tai)力(li)10N，振蕩(dang)測試(shi)載(zai)荷0.05N-0.5N（可(ke)調(tiao)）

● 電容測量(liang)範圍：10pF-0.1μF

● 溫(wen)度穩(wen)定(ding)度：±0.05℃（>25℃），±0.1℃（<25℃）

● 電荷分(fen)辨(bian)率(lv)：高(gao)達(da)0.01pC/N