鐵(tie)電分析儀(yi)如何(he)針對(dui)不(bu)同材(cai)料(liao)應變(bian)測(ce)量？

Huace FE-3000針對(dui)不(bu)同材(cai)料(liao)應變(bian)測(ce)量設(she)計了塊(kuai)體與(yu)薄膜應(ying)變(bian)測(ce)試兩(liang)種(zhong)測(ce)量夾(jia)具，以下(xia)是兩(liang)款夾(jia)具的(de)介(jie)紹：

1. 高分辨(bian)率(lv)pm級測(ce)量平(ping)臺-振動激光(guang)幹(gan)涉測(ce)量D33;

2. 可(ke)評估piezoMEMS，也可方(fang)便實(shi)現塊體與(yu)薄膜的(de)夾(jia)持；

3. 0.01nm分辨(bian)率(lv)，2MHz帶寬；

4. 可(ke)實(shi)現在RT~250℃的(de)溫度(du)下(xia)進行測(ce)量。

激光(guang)測(ce)振儀(yi)+變(bian)溫塊體測(ce)試盒

1. 電(dian)極(ji)較(jiao)大可調(tiao)行(xing)程(cheng)不(bu)小於3mm，分辨(bian)率(lv)0.01mm；

2. 較(jiao)大樣(yang)品尺(chi)寸小於30mm；

3. 樣(yang)品盒較(jiao)大試驗電壓不(bu)低於10kV；

4. 較(jiao)大加熱溫度(du):RT~250℃；

5. 采用進口(kou)品牌溫度(du)控制(zhi)器(qi)；

6. 具有(you)過(guo)溫與(yu)過流(liu)保(bao)護(hu)功能。

激光(guang)測(ce)振儀(yi)+變(bian)溫塊體測(ce)試盒

激光(guang)測(ce)振儀(yi)+高溫塊體測(ce)試盒

1. 電(dian)極(ji)較(jiao)大可調(tiao)行(xing)程(cheng)不(bu)小於3mm，分辨(bian)率(lv)0.01mm；

2. 較(jiao)大樣(yang)品尺(chi)寸小於30mm；

3. 樣(yang)品盒較(jiao)大試驗電壓不(bu)低於10kV；

4. 較(jiao)大加熱溫度(du):RT~800℃；

5. 采用進口(kou)品牌溫度(du)控制(zhi)器(qi)；

6. 具有(you)過(guo)溫與(yu)過流(liu)保(bao)護(hu)功能。

激光(guang)測(ce)振儀(yi)+高(gao)溫塊體測(ce)試盒

激光(guang)測(ce)振儀(yi)高低溫測(ce)試夾(jia)具

1. 適用(yong)於器(qi)件(jian)與(yu)塊體(ti)材(cai)料(liao)應變(bian)測(ce)量；

2. 較(jiao)大樣(yang)品尺(chi)寸小於40mm；

3. 樣(yang)品盒較(jiao)大試驗電壓不(bu)低於2kV；

4. 較(jiao)大加熱溫度(du):-196℃ - 250℃；

5. 采用進口(kou)品牌溫度(du)控制(zhi)器(qi)；

6. 具有(you)過(guo)溫與(yu)過流(liu)保(bao)護(hu)功能。

激光(guang)測(ce)振儀(yi)高低溫測(ce)試夾(jia)具

薄膜懸臂梁(liang)測(ce)試夾(jia)具

激光(guang)測(ce)振儀(yi)與(yu)薄膜壓電(dian)測(ce)試(E31)相(xiang)結(jie)合(he)，可測(ce)量沈(chen)積(ji)在懸臂上的(de)壓電(dian)薄膜的(de)壓電(dian)系(xi)數(E31、D31和(he)E33)。施(shi)加(jia)在壓電(dian)薄膜上的(de)電(dian)壓使(shi)基(ji)板向各(ge)個(ge)方向(xiang)彎(wan)曲。位(wei)移(yi)由激光(guang)測(ce)試振(zhen)儀(yi)進時高(gao)速(su)測(ce)量。使(shi)用(yong)薄(bo)膜壓電(dian)測(ce)試套(tao)件(jian)進行的(de)測(ce)量包(bao)括(kuo)(但不(bu)限(xian)):E31、D31、D33、E33與(yu)厚度(du)位移(yi)與(yu)電壓的(de)關系(xi)。

薄(bo)膜懸臂梁(liang)測(ce)試夾(jia)具