影響D33測(ce)試(shi)準確度(du)和穩(wen)定(ding)性的(de)因(yin)素(su)是(shi)什麽？

影響D33測(ce)試(shi)準確度(du)和穩(wen)定(ding)性的(de)因(yin)素(su)是(shi)什麽？

 影響D33測(ce)試(shi)準確度(du)和穩(wen)定(ding)性的(de)因(yin)素(su)有很(hen)多，主要考(kao)慮(lv)以(yi)下(xia)因(yin)素(su)：壓力(li)是(shi)否全部加於(yu)試(shi)樣(yang)，壓力(li)的(de)方(fang)向是(shi)否與試(shi)樣(yang)極(ji)化(hua)軸(zhou)平(ping)行(xing)，測(ce)試(shi)電極(ji)是(shi)否平整(zheng)和相(xiang)互(hu)平行(xing)，受力(li)和產生(sheng)感(gan)應(ying)電效應(ying)的面(mian)積是(shi)否相(xiang)等(deng)，壓力(li)釋(shi)放(fang)瞬(shun)間是(shi)否有試(shi)樣(yang)抖動等。另外(wai)，測試(shi)線路的(de)絕(jue)緣(yuan)狀況(kuang)、電容(rong)和輸(shu)入(ru)阻(zu)抗(kang)等(deng)性能參(can)數(shu)也對(dui)此(ci)有影響。華測儀器設計了壹(yi)種(zhong)既(ji)兼(jian)具了動(dong)態(tai)法(fa)測量參(can)數多、精(jing)度高(gao)的(de)特(te)點；又避(bi)免了人(ren)工(gong)操(cao)作繁瑣(suo)、計算(suan)費(fei)時(shi)的(de)不足(zu)，拓(tuo)寬(kuan)了動(dong)態(tai)法(fa)的應(ying)用範圍(wei)。高精(jing)度壓電系數D33測(ce)試(shi)儀，其分(fen)辨率(lv)可(ke)達(da)0.01pC/N，是(shi)目前(qian)所(suo)有同(tong)類(lei)設備中分(fen)辨率(lv)較(jiao)高(gao)的(de)測(ce)試(shi)儀，采用多種(zhong)測(ce)量模式。可(ke)廣(guang)泛(fan)用(yong)於(yu)鐵電、壓電材料以(yi)及(ji)相(xiang)關(guan)器件性能的(de)評(ping)價(jia)與(yu)測試(shi)。