鐵電分(fen)析(xi)儀可(ke)PZM壓電、PYM熱(re)釋(shi)電、DTS介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)鐵電薄(bo)膜研究(jiu)？

鐵電分(fen)析(xi)儀可(ke)PZM壓電、PYM熱(re)釋(shi)電、DTS介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)鐵電薄(bo)膜研究(jiu)？

PZM壓電測(ce)量(liang)、PYM熱(re)釋(shi)電測(ce)量(liang)和DTS介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)是(shi)鐵電材料和相(xiang)關領(ling)域研究(jiu)中不可少(shao)的(de)測(ce)量(liang)方(fang)法。下(xia)面(mian)帶(dai)大(da)家了解壹(yi)下(xia)三(san)種測(ce)量(liang)：

壹(yi)、什麽(me)是(shi)PZM壓電測(ce)量(liang)？

壓電測(ce)量(liang)（PZM）是(shi)指(zhi)測(ce)量(liang)材料在受到機械(xie)應力時產生(sheng)的(de)電響(xiang)應，或(huo)者(zhe)在施(shi)加(jia)電場(chang)時產生(sheng)的(de)機(ji)械變形的(de)能(neng)力。這種(zhong)測(ce)量(liang)對(dui)於評(ping)估材料的(de)壓電性(xing)能至關重(zhong)要，特別(bie)是(shi)在鐵電材料的(de)研究(jiu)和應用(yong)中(zhong)。壓電效應在傳感器、執(zhi)行(xing)器和其他(ta)電子(zi)設備(bei)中(zhong)有廣(guang)泛應用(yong)。華(hua)測(ce)儀(yi)器的(de)鐵電分(fen)析(xi)儀支持(chi)壓電測(ce)量(liang)功(gong)能，能夠詳細分(fen)析(xi)材料的(de)壓電特性。

HuaceFE3000鐵電分(fen)析(xi)儀主機

二(er)、什麽(me)是(shi)PYM熱(re)釋(shi)電測(ce)量(liang)？

熱(re)釋(shi)電測(ce)量(liang)（PYM）涉及測(ce)量(liang)材料在溫(wen)度變化時產生(sheng)的(de)電荷變(bian)化。這種(zhong)現(xian)象(xiang)稱為熱(re)釋(shi)電效應，是(shi)某(mou)些(xie)材料在溫(wen)度變化時自發極化的(de)變(bian)化導致(zhi)的(de)。熱(re)釋(shi)電效應在紅(hong)外探(tan)測(ce)器和其他(ta)溫(wen)度傳感設備(bei)中(zhong)具有(you)重(zhong)要應用(yong)。華(hua)測(ce)儀(yi)器的(de)鐵電分(fen)析(xi)儀也(ye)提供了熱(re)釋(shi)電測(ce)量(liang)功(gong)能，允許(xu)研究(jiu)人(ren)員(yuan)深(shen)入研究(jiu)材料的(de)熱(re)釋(shi)電性(xing)能。

變(bian)溫(wen)測(ce)試盒

三(san)、什麽(me)是(shi)DTS介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)？

介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)（DTS）是(shi)壹(yi)種(zhong)用(yong)於研究(jiu)材料介(jie)電常(chang)數隨溫(wen)度變化的(de)技(ji)術。這種測(ce)量(liang)對(dui)於理解材料的(de)介(jie)電行(xing)為和相(xiang)變非常關鍵(jian)。通(tong)過介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)，可(ke)以獲(huo)取(qu)材料在不同(tong)溫(wen)度下的(de)介(jie)電響(xiang)應，這(zhe)對(dui)於材料在各種應用(yong)中(zhong)的(de)性(xing)能預(yu)測(ce)和優(you)化非常重(zhong)要。華(hua)測(ce)儀(yi)器的(de)鐵電分(fen)析(xi)儀同(tong)樣(yang)支持(chi)介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)，使(shi)得(de)用戶(hu)能夠(gou)全(quan)面(mian)分(fen)析(xi)材料的(de)介(jie)電特性。

華(hua)測(ce)儀器高(gao)壓功(gong)率(lv)放大(da)器

四(si)、華(hua)測(ce)儀器鐵電分(fen)析(xi)儀參(can)數(shu)

l 輸(shu)出範圍(wei)：±100V或(huo)±200V，可(ke)擴(kuo)展至10kV；

l 可(ke)定(ding)制(zhi)內(nei)置放大(da)器最(zui)大(da)電壓：最(zui)大(da)頻率：1MHz；最(zui)大電流(liu)：1A;

l 16位(wei)任(ren)意(yi)波(bo)形(xing)發生(sheng)器輸(shu)出；

l 內(nei)置(zhi)±100V和±200V兩種放大(da)器；

l 準確(que)性(xing)0.5%或(huo)更高；

l 最(zui)小(xiao)脈(mai)沖(chong)寬(kuan)度(PUND)：500ns；

l 最(zui)小(xiao)上(shang)升時間(jian)：200ns；

l 最(zui)大(da)脈(mai)沖(chong)寬(kuan)度低至1μs，最高(gao)可(ke)達15us；

l 最(zui)大(da)區(qu)域分(fen)辨率(lv)：52.6mC；

l 最(zui)大(da)遲(chi)電滯回線(xian)頻率：270KHz；

l 模(mo)擬(ni)輸(shu)入通(tong)道(dao):高達40MS/s，±10V(16位)；

l 最(zui)大(da)測(ce)試電容(rong)範圍(wei):1nF(與測(ce)試頻率有(you)關)；

l 輸(shu)出阻(zu)抗(kang):10Ω；

華(hua)測(ce)儀器鐵電測(ce)試系(xi)統

五(wu)、華(hua)測(ce)儀器鐵電分(fen)析(xi)儀可(ke)測(ce)試項(xiang)目(mu)

測(ce)試項(xiang)目(mu)：動態電滯回線(xian)測(ce)量(liang)（DHM）、泄(xie)漏電流(liu)測(ce)量(liang)（LM）、CV測(ce)量(liang)（CVM）、疲勞(lao)測(ce)量(liang)（FM）、保持(chi)力測(ce)量(liang)（RM）、印(yin)記(ji)測(ce)量(liang)（IM）、脈(mai)沖(chong)測(ce)量(liang)（PM）、靜(jing)態電滯回線(xian)測(ce)量(liang)（SHM）、擊(ji)穿(chuan)電壓測(ce)量(liang)（BDM）、壓電測(ce)量(liang)（PZM）、熱(re)釋(shi)電測(ce)量(liang)（PYM）、熱(re)刺(ci)激(ji)測(ce)量(liang)（TSDC）、介(jie)電溫(wen)譜測(ce)量(liang)（DTS）、高(gao)低(di)溫(wen)電阻(zu)測(ce)量(liang)（TIR）、充(chong)放電測(ce)試（ESD）

華(hua)測(ce)儀器激(ji)光(guang)測(ce)振(zhen)儀