高(gao)壓(ya)漏電起痕(hen)試驗(yan)儀(yi)評定(ding)方(fang)法

高(gao)壓(ya)漏電起痕(hen)試驗(yan)儀(yi)評(ping)定(ding)方(fang)法

HCLD-3系列(lie)高(gao)壓(ya)漏電起痕(hen)試驗(yan)儀(yi)采用西(xi)門子(zi)PLC作(zuo)為(wei)主(zhu)控制系統(tong)，配合(he)高(gao)精(jing)度(du)電壓、電流傳(chuan)感器、高(gao)壓(ya)真(zhen)空斷(duan)路(lu)開關(guan)、高(gao)壓(ya)交直流變(bian)壓器(qi)元(yuan)件(jian)構(gou)成(cheng)。高(gao)壓(ya)漏電起痕(hen)試驗(yan)是在(zai)工(gong)頻下(xia),用(yong)液體(ti)汙(wu)染和(he)傾斜(xie)試(shi)樣(yang)評定(ding)在(zai)惡(e)劣環境條(tiao)件(jian)下(xia)使(shi)用的(de)電氣(qi)絕緣材(cai)料(liao)耐漏(lou)電起痕(hen)和(he)耐電蝕(shi)損性能(neng)。其評(ping)定(ding)的(de)方法有(you)兩(liang)種,即恒(heng)定(ding)漏(lou)電起痕(hen)電壓法和(he)逐(zhu)級(ji)升(sheng)壓漏(lou)電起痕(hen)電壓法。試(shi)驗(yan)中可(ke)采用兩(liang)種終點判(pan)斷法來(lai)確定(ding)試(shi)驗(yan)終(zhong)點。方法A是當高(gao)壓(ya)回路(lu)中通(tong)過(guo)的(de)電流達到(dao)或超(chao)過(guo)60mA持(chi)續2s後(hou),作(zuo)為(wei)試(shi)驗(yan)終(zhong)點,此時(shi)過(guo)電流裝置(zhi)切(qie)斷電路。方(fang)法B是當漏電痕跡達到(dao)距離(li)下電極25mm處的(de)試樣(yang)表面(mian)上的(de)標(biao)記(ji)時(shi),作(zuo)為(wei)試(shi)驗(yan)終(zhong)點。