鐵電(dian)分析(xi)儀(yi)具(ju)有哪(na)些測(ce)試(shi)功能(neng)？

‌鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)具(ju)有(you)哪(na)些測(ce)試(shi)功能(neng)？

‌鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)測(ce)試(shi)功(gong)能(neng)‌：

‌動(dong)態電(dian)滯回線(xian)測量(liang)‌：測量(liang)材料(liao)在(zai)動(dong)態電(dian)場(chang)下的極化(hua)行為(wei)。

‌靜(jing)態電(dian)滯回線(xian)測量(liang)‌：測量(liang)材料(liao)在(zai)靜(jing)態電(dian)場(chang)下的極化(hua)行為(wei)。

‌泄漏(lou)電(dian)流測(ce)量(liang)‌：評估(gu)材(cai)料的絕緣性(xing)能和穩(wen)定性(xing)。

‌疲勞(lao)測(ce)量(liang)‌：測試(shi)材料(liao)在(zai)長(chang)期使(shi)用(yong)中(zhong)的穩(wen)定性(xing)。

‌保(bao)持(chi)力(li)測量(liang)‌：測量(liang)材料(liao)在(zai)去除電(dian)場(chang)後的保(bao)持(chi)性(xing)能。

‌印(yin)記(ji)測量(liang)‌：測量(liang)材料(liao)在(zai)電(dian)場(chang)作用(yong)下的印記(ji)效應(ying)。

‌脈(mai)沖(chong)測(ce)量(liang)‌：測量(liang)材料(liao)在(zai)脈(mai)沖(chong)電(dian)場(chang)下的響應(ying)。

‌擊(ji)穿電(dian)壓測(ce)量(liang)‌：確定材(cai)料(liao)的擊(ji)穿電(dian)壓。

CV 測(ce)量(liang)-CVM：用(yong)於(yu)分析(xi)半(ban)導體(ti)器(qi)件(jian)在(zai)交(jiao)變(bian)電(dian)場(chang)下的性(xing)能。

鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)‌其(qi)他(ta)擴展功能(neng)‌：

‌變(bian)溫(wen)壓電(dian)測量(liang)‌：測量(liang)壓電(dian)材料在(zai)不(bu)同(tong)溫度(du)下的性(xing)能變(bian)化(hua)。

‌熱(re)釋(shi)電(dian)測量(liang)‌：測試(shi)材料(liao)的熱釋(shi)電(dian)性(xing)能，如(ru)熱(re)釋(shi)電(dian)系數-溫(wen)度(du)曲線(xian)、熱釋(shi)電(dian)電(dian)流-溫(wen)度(du)曲線(xian)等。

熱(re)刺(ci)激測(ce)量(liang)-TSDC：展現材(cai)料內部(bu)載(zai)流子脫(tuo)陷過(guo)程(cheng)。

介電(dian)溫譜測量(liang)-DTS：了(le)解(jie)材(cai)料極化(hua)轉(zhuan)變(bian)和弛豫(yu)過(guo)程(cheng)。

‌高(gao)低溫(wen)電(dian)阻測量(liang)‌：測試(shi)材料(liao)在(zai)不(bu)同(tong)溫度(du)下的電(dian)阻變(bian)化(hua)。

‌充放電(dian)測量(liang)‌：測量(liang)材料(liao)的充放電(dian)特性(xing)。

Huace FE-3000鐵(tie)電(dian)分析(xi)儀(yi)有(you)著(zhe)寬(kuan)頻(pin)率(lv)響(xiang)應(ying)範圍(wei)及寬(kuan)測試(shi)電(dian)壓範(fan)圍(wei)，該(gai)系(xi)統(tong)可(ke)廣泛(fan)地(di)應(ying)用(yong)於(yu)如(ru)各(ge)類(lei)鐵電(dian)/壓電(dian)/熱釋電(dian)薄膜、厚(hou)膜、塊(kuai)體(ti)材(cai)料(liao)和電(dian)子陶瓷、鐵電(dian)傳感(gan)器(qi)/執(zhi)行(xing)器(qi)/存(cun)儲器(qi)等(deng)領(ling)域的研究(jiu)。采用(yong)模塊(kuai)化(hua)設(she)計的Huace FE-3000具有(you)強大擴(kuo)展性(xing)。在(zai)±200V的內置電(dian)壓下，電(dian)滯回線(xian)測試(shi)頻(pin)率(lv)可(ke)高(gao)達270KHz。還(hai)可(ke)通(tong)過(guo)外接(jie)的功率(lv)放(fang)大模塊(kuai)將(jiang)電(dian)壓升(sheng)到4kV或10kV。