先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)主(zhu)要用途(tu)

先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)主(zhu)要用途(tu)

先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)產(chan)品(pin)介(jie)紹(shao)

先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)是(shi)用於(yu)鐵電(dian)、熱(re)釋電(dian)、壓(ya)電(dian)材(cai)料(liao)和電(dian)卡(ka)材(cai)料(liao)各種(zhong)重要性能(neng)參數測試(shi)的(de)最(zui)基本儀(yi)器(qi)設(she)備，可(ke)廣(guang)泛地應用於(yu)如(ru)各種(zhong)鐵電(dian)/壓(ya)電(dian)/熱(re)釋電(dian)/電(dian)卡(ka)薄膜(mo)、厚膜(mo)、體(ti)材(cai)料(liao)和電(dian)子(zi)陶瓷(ci)、鐵電(dian)傳(chuan)感(gan)器(qi)/執(zhi)行器/存(cun)儲(chu)器(qi)等(deng)領域(yu)的(de)研(yan)究。它不(bu)僅(jin)可作為近(jin)代物理(li)實驗中的(de)固(gu)體物理(li)實驗設備，還(hai)可作為工(gong)業(ye)化(hua)生(sheng)產鐵電(dian)存(cun)儲(chu)器(qi)的(de)鐵電(dian)性(xing)能檢測設(she)備(bei)。

先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)主(zhu)要(yao)用(yong)途(tu)

1、用(yong)於(yu)先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)與(yu)器(qi)件的(de)特定(ding)電(dian)學(xue)性(xing)能的(de)測量(liang)與(yu)分析，通過(guo)電(dian)滯(zhi)回(hui)線、脈沖(chong)、漏(lou)電(dian)流(liu)、擊穿試驗(yan)、IV和CV、，高(gao)精度(du)測試(shi)分(fen)析。為高性能(neng)傳感(gan)器(qi)件材(cai)料(liao)制(zhi)備(bei)提(ti)供(gong)測試(shi)表(biao)征分析支撐(cheng)。

2、先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)可(ke)搭載(zai)變溫功能(neng)，實現在(zai)-180℃-600℃下的(de)電(dian)學(xue)測試(shi)，並(bing)且可(ke)實現介(jie)電(dian)溫(wen)譜、頻(pin)譜、絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)等(deng)，同時也可以實現熱釋電(dian)、TSDC等(deng)測試(shi)功能(neng)。是(shi)壹套完(wan)備(bei)的(de)先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)表(biao)征測試(shi)系(xi)統(tong)。

3、先(xian)進功能(neng)材(cai)料(liao)電(dian)測綜(zong)合測試(shi)系(xi)統(tong)可對薄(bo)膜和塊(kuai)體試(shi)樣(yang)進行分析。