什麽(me)是(shi)半(ban)導(dao)體(ti)封(feng)裝(zhuang)材(cai)料(liao)TSDC測試系(xi)統(tong)？

什麽(me)是(shi)半(ban)導(dao)體(ti)封(feng)裝(zhuang)材(cai)料(liao)TSDC測試系(xi)統(tong)？

熱刺(ci)激(ji)理論(lun)是(shi)在介質物理的(de)基礎(chu)上發(fa)展起來(lai)的(de)，研(yan)究(jiu)這(zhe)壹理論(lun)的(de)方(fang)法(fa)即(ji)熱刺(ci)激(ji)法比較簡(jian)單(dan)實(shi)用(yong)而且又能(neng)較準(zhun)確(que)地(di)測量(liang)出某(mou)些(xie)物質(zhi)（如(ru)電(dian)介(jie)質(zhi)、絕緣材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體(ti)、駐(zhu)極體等）的(de)微觀(guan)參(can)數(shu)，熱刺(ci)激(ji)法是(shi)壹面(mian)對(dui)材(cai)料(liao)升溫壹面(mian)進行(xing)測量(liang)，即(ji)非等(deng)溫測量(liang)。由於(yu)材(cai)料(liao)（例如介(jie)電(dian)材(cai)料(liao)）中的(de)荷(he)電(dian)粒子(zi)的(de)微觀(guan)參(can)數(shu)（如活化能(neng)h、松(song)弛(chi)時間τ等(deng)）不同(tong)，用(yong)熱刺(ci)激(ji)法就(jiu)很容易將(jiang)材(cai)料(liao)中的(de)各(ge)種(zhong)不同(tong)h或τ的(de)荷(he)電(dian)粒子(zi)分(fen)離(li)開來(lai)，從而(er)求(qiu)出各(ge)自的(de)參(can)數(shu)。因(yin)為(wei)熱(re)刺(ci)激(ji)電(dian)流(liu)與(yu)材(cai)料(liao)的(de)這(zhe)些(xie)參(can)數(shu)（如h與(yu)τ）密切相關，故(gu)它是壹種(zhong)研(yan)究(jiu)介電(dian)材(cai)料(liao)、絕緣材(cai)料(liao)、半(ban)導(dao)體(ti)材(cai)料(liao)等的(de)有(you)效(xiao)手(shou)段。tsc是指(zhi)當樣品受(shou)到電(dian)場(chang)極化後，去(qu)掉(diao)電(dian)場(chang)，熱(re)激時，樣品從(cong)極化態(tai)轉(zhuan)變到平衡態(tai)的(de)過程中，在外電(dian)路(lu)中得(de)到的(de)電(dian)流(liu)，稱(cheng)為(wei)熱(re)激(ji)退(tui)極化電(dian)流(liu)。

壹個系(xi)統(tong)就(jiu)可以(yi)進(jin)行(xing)塊體陶(tao)瓷材(cai)料(liao)的(de)熱(re)激(ji)發(fa)極化電(dian)流(liu)TSDC、電(dian)阻(zu)和(he)鐵(tie)電(dian)進(jin)行(xing)綜合評(ping)價(jia)，設備(bei)可以(yi)遠程接(jie)入(ru)華測遠程服(fu)務平臺，可(ke)針對(dui)用(yong)戶(hu)應用(yong)和(he)要求(qiu)的(de)硬(ying)件升級服務(wu)，對(dui)用(yong)戶(hu)遠程指(zhi)導及技術(shu)支(zhi)持。

特(te)點：

支(zhi)持的(de)硬(ying)件：

內(nei)置或(huo)外置的(de)高(gao)壓(ya)放大(da)器(qi)（+/-100V到+/-10 kV）

塊體陶(tao)瓷樣品夾具

溫度控(kong)制器(qi)和(he)溫度腔

測試功能(neng)：

熱(re)釋(shi)電(dian)測試

漏(lou)電(dian)流(liu)測試

疲勞(lao)測試

用(yong)戶(hu)定義激勵波(bo)形

系(xi)統(tong)原(yuan)理：

介質(zhi)材(cai)料(liao)在受(shou)熱過程中建立極化態(tai)或解除(chu)極化態(tai)時所產(chan)生的(de)短(duan)路(lu)電(dian)流(liu)。基本(ben)方(fang)法(fa)是(shi)將(jiang)試樣夾在兩(liang)電(dian)極之間，加熱到壹定溫度使樣品中的(de)載(zai)流(liu)子(zi)激發(fa)，然後施加壹個直(zhi)流(liu)的(de)極化電(dian)壓(ya)，經過壹段時間使樣品充(chong)分(fen)極化，以(yi)便載(zai)流(liu)子(zi)向電(dian)極漂移(yi)或偶(ou)極子(zi)充分(fen)取(qu)向，隨後立(li)即(ji)降(jiang)溫到低溫，使各(ge)類極化“凍(dong)結"，然後以(yi)等速(su)率升溫，同時記錄(lu)試樣經檢流(liu)計(ji)短路(lu)的(de)去(qu)極化電(dian)流(liu)隨溫度的(de)變(bian)化關(guan)系(xi)，即(ji)得到TSDC譜“凍(dong)結"，然後以(yi)等速(su)率升溫，同時記錄(lu)試樣經檢流(liu)計(ji)短路(lu)的(de)去(qu)極化電(dian)流(liu)隨溫度的(de)變(bian)化關(guan)系(xi)，即(ji)得到TSDC譜

系(xi)統(tong)應用(yong)：

廣(guang)泛應(ying)用(yong)於電(dian)力(li)、絕緣、生物(wu)分(fen)子(zi)等領(ling)域(yu)，用(yong)於研(yan)究(jiu)材(cai)料(liao)的(de)壹些(xie)關鍵(jian)因(yin)素，諸如(ru)分(fen)子(zi)弛(chi)豫(yu)、相(xiang)轉(zhuan)變、玻(bo)璃(li)化溫度等等，通過TSDC技術(shu)也(ye)可以(yi)比較直(zhi)觀(guan)的(de)研(yan)究(jiu)材(cai)料(liao)的(de)弛(chi)豫(yu)時間、活化能(neng)等(deng)相(xiang)關(guan)的(de)介(jie)電(dian)特(te)性。TSDC技術(shu)也(ye)可以(yi)比較直(zhi)觀(guan)的(de)研(yan)究(jiu)材(cai)料(liao)的(de)弛(chi)豫(yu)時間、活化能(neng)等(deng)相(xiang)關(guan)的(de)介(jie)電(dian)特(te)性。

主要技術(shu)參(can)數(shu)：

極化電(dian)壓(ya)：±0-10kV（最大(da)電(dian)壓(ya)）

極化電(dian)流(liu)：10fA~20mA

控(kong)溫精度：±0.5℃

測量(liang)精(jing)度：0.05%

升降(jiang)溫速(su)率快：0.01~ 30 ℃/min

溫度範圍(wei)寬：- 185 ~ 500 ℃

升降(jiang)溫速(su)率快：(0.01 ~ 30)℃/min

多(duo)種(zhong)獨(du)立變(bian)量(liang)：溫度、極化電(dian)壓(ya)、極化時間、升降(jiang)溫速(su)率等

多(duo)種(zhong)測量(liang)模(mo)式：熱(re)激(ji)勵去(qu)極化、熱(re)激(ji)勵極化、等(deng)溫極化時域(yu)、等(deng)溫電(dian)導(dao)率時域(yu)、等(deng)溫弛(chi)豫(yu)譜(pu)等(deng)

多(duo)種(zhong)測量(liang)參(can)數(shu)：樣品電(dian)流(liu)、電(dian)流(liu)密度、電(dian)荷(he)變(bian)化、介(jie)電(dian)常(chang)數(shu)變(bian)化等(deng)

通訊：USB接(jie)口(kou)