鐵電分析儀搭(da)配不(bu)同(tong)配(pei)件(jian)可(ke)實(shi)現(xian)壓(ya)電、熱釋電、TSDC、電介(jie)質充(chong)放電等測量(liang)功能

鐵(tie)電分析儀搭(da)配不(bu)同(tong)配(pei)件(jian)可(ke)實(shi)現(xian)壓(ya)電、熱釋電、TSDC、電介(jie)質充(chong)放電、介(jie)電溫譜(pu)、高(gao)低溫電阻等(deng)測量(liang)功能

Huace FE-3000鐵(tie)電分析儀有著(zhe)寬(kuan)頻(pin)率(lv)響應(ying)範圍(wei)及寬(kuan)測試電壓(ya) 範(fan)圍(wei)，該(gai)系統(tong)可(ke)廣泛(fan)地應(ying)用於如各(ge)類鐵(tie)電/壓(ya)電/熱(re)釋電薄膜、厚(hou)膜、 塊體(ti)材(cai)料(liao)和電子陶(tao)瓷、鐵(tie)電傳(chuan)感(gan)器/執行器/存(cun)儲器等(deng)領(ling)域(yu)的(de)研究。采用模(mo)塊化設計(ji)的(de)Huace FE-3000具(ju)有(you)強大的(de)擴展性(xing)。在±200V的(de)內置電壓(ya) 下(xia)，電滯回(hui)線測試頻(pin)率(lv)可高(gao)達(da)270KHz。還(hai)可(ke)通過外接的(de)功率(lv)放大模(mo) 塊將電壓(ya)升(sheng)到4kV或(huo)10kV。 系(xi)統(tong)內置HuacePro基(ji)本(ben)鐵電管理(li)測試軟(ruan)件(jian)，提(ti)供了操作友(you)好(hao)使用便捷的(de)分析和測量(liang)功能。使Huace FE-3000在不改(gai)變(bian)樣品連(lian)接 的(de)情(qing)況(kuang)下就(jiu)可執行電滯回(hui)線、脈(mai)沖、漏(lou)電流(liu)、IV和CV測試，也(ye)可通(tong)過(guo)額(e)外選配(pei)件(jian)實(shi)現(xian)壓(ya)電、熱釋電、TSDC、電介(jie)質充(chong)放電、介(jie)電溫譜(pu)、高(gao)低溫電阻等(deng)測量(liang)功能。可以同(tong)步(bu)查(zha)看電流(liu)電壓(ya)(I-V)、電容電壓(ya)(C-V) 以及(ji)原始(shi)激(ji)勵(li)響應(ying)特(te)性(xing)。強大的(de)軟(ruan)件(jian)加上高(gao)性(xing)能的(de)參數(shu)分析儀，讓 Huace FE-3000可(ke)以高(gao)效完成(cheng)功能材料(liao)的(de)電學(xue)性能分析並提(ti)升工(gong)藝 開(kai)發(fa)速(su)度(du)。 Huace FE-3000鐵(tie)電分析儀主(zhu)機內置了完整的(de)專用工控機主(zhu) 機、測試版(ban)路(lu)、運(yun)算(suan)放大器、數(shu)據(ju)處(chu)理單(dan)元等，包(bao)括(kuo)專(zhuan)用工業計(ji)算(suan)機 主(zhu)板、網(wang)卡(ka)、USB 接口(kou)、VGA 接口(kou)、預(yu)裝Windows操(cao)作系(xi)統(tong)。FE-3000 鐵(tie)電分析儀可以根(gen)據不(bu)同(tong)用戶需(xu)求(qiu)進(jin)行靈(ling)活(huo)配(pei)置，不管(guan)是現(xian)在還(hai)是未(wei)來(lai)，都(dou)可以隨時對系(xi)統進(jin)行升(sheng)級(ji)。

高(gao)壓(ya)功率(lv)放大器模(mo)塊

200V放大器：最(zui)大電壓(ya)：±200V，電流(liu)100mA;MAX：100kHz

2kV放大器：最(zui)大電壓(ya)：±2kV，電流(liu)40mA； MAX：10kHz

4kV放大器：最(zui)大電壓(ya)：±4kV，電流(liu)10mA； MAX：10kHz

10kV放大器：最(zui)大電壓(ya)：±10kV，電流(liu)40mA； MAX：7.5kHz

塊體(ti)變(bian)溫(wen)測試盒

電極最(zui)大可調行程不小(xiao)於3mm，分辨(bian)率(lv)0.01mm；

 最(zui)大測試樣品直徑小(xiao)於30mm；

 溫(wen)度(du)範圍(wei)：RT~250℃；

最(zui)大試驗(yan)電壓(ya)：±10kV；

可(ke)配(pei)合(he)激(ji)光(guang)幹(gan)涉(she)儀進(jin)行應(ying)變(bian)測量(liang)。

薄膜變(bian)溫(wen)探針臺

可(ke)用於薄膜和厚(hou)膜材(cai)料的(de)鐵電性能測試；

溫(wen)控(kong)範圍(wei):RT~400℃。

激(ji)光(guang)幹(gan)涉(she)儀

頻(pin)率(lv)範圍（Hz）：0~2.5M；

激(ji)光(guang)波(bo)長(chang)（nm）：1310；

位移分辨(bian)率(lv)（nm）：0.01；

最(zui)大速(su)度(du)（m/s）：＜4.5；