
薄膜擊(ji)穿電(dian)壓測(ce)試儀(yi)的主(zhu)要應(ying)用
薄膜擊(ji)穿電(dian)壓測(ce)試儀(yi)是(shi)壹(yi)種廣(guang)泛應用於(yu)多種領(ling)域的精密測量(liang)設備(bei),主(zhu)要用(yong)於(yu)測量材料(liao)在電(dian)場作用(yong)下的(de)絕緣(yuan)性(xing)能(neng)和(he)擊(ji)穿電(dian)壓。
華測50點(dian)隔膜擊(ji)穿耐壓(ya)試驗儀(yi)主(zhu)要用(yong)於(yu)電(dian)氣用(yong)鋰電(dian)池隔(ge)膜,聚(ju)氨(an)脂薄膜、塑(su)料(liao)薄膜、聚(ju)丙(bing)稀(xi)薄膜等(deng)絕緣(yuan)材(cai)料(liao)在給定直(zhi)流(liu)電(dian)壓下(xia)每平(ping)方(fang)米(mi)的(de)擊(ji)穿電(dian)壓值。采用(yong)計算機(ji)控制,通(tong)過(guo)人(ren)機對(dui)話(hua)方(fang)式可(ke)對(dui)試驗過(guo)程(cheng)中的各種(zhong)數(shu)據(ju)進(jin)行快速、準確的采集(ji)、處理,並可(ke)存(cun)取、顯(xian)示、打印。
主(zhu)要優(you)勢:
1、壹(yi)鍵自動(dong)化測(ce)試,批量(liang)測(ce)量50個(ge)測(ce)試點(dian)免除(chu)了許(xu)多外來因素對(dui)測試結果的(de)影響。
2、測試數據(ju)能(neng)真(zhen)實(shi)地(di)反(fan)映(ying)薄膜的質量水(shui)平。
3、主(zhu)要元(yuan)器(qi)件均(jun)選(xuan)用(yong)品牌(如歐(ou)姆龍,美(mei)信,ABB等(deng)),有效(xiao)地(di)保(bao)證了設備(bei)的(de)可(ke)靠(kao)性、耐用(yong)性和穩(wen)定(ding)性。
4、測量準確,復現性好。
5、測試過程(cheng)采用(yong)電(dian)子技(ji)術(shu)全自(zi)動(dong)控制。無(wu)需(xu)人(ren)工幹(gan)預。
6、測試電(dian)壓可(ke)調(tiao)整(zheng),批量(liang)導(dao)出測試數據(ju)。
7、擊(ji)穿電(dian)流在(zai)0~40mA連續可(ke)調(tiao),復現性(xing)好。
8、多重保(bao)護(hu)功(gong)能(neng),充(chong)分考慮了操(cao)作人(ren)員及(ji)設備(bei)的(de)安全(quan)性(xing)。
9、過壓、過流、接(jie)地(di)保(bao)護(hu),試驗平(ping)臺(tai)高(gao)壓(ya)開(kai)啟保護(hu)。
應用範(fan)圍(wei):
1. 電(dian)子產(chan)品質(zhi)量(liang)檢(jian)測
通過薄膜擊(ji)穿電(dian)壓測(ce)試儀(yi)的檢(jian)測,可(ke)以(yi)有效(xiao)地(di)發(fa)現產(chan)品中的絕(jue)緣(yuan)缺陷,從而(er)提(ti)高(gao)電(dian)子產(chan)品的(de)質(zhi)量(liang)和可靠(kao)性。
2. 材料(liao)性能(neng)評(ping)估
該測試儀(yi)通過(guo)對(dui)不同材(cai)料(liao)的擊(ji)穿電(dian)壓進(jin)行測試,可以(yi)了解(jie)材(cai)料(liao)的絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng)、耐電(dian)強(qiang)度等(deng)關(guan)鍵指(zhi)標,為材(cai)料(liao)的選(xuan)擇(ze)和應(ying)用提(ti)供科學(xue)依(yi)據(ju)。
3. 絕緣(yuan)性(xing)能(neng)研(yan)究(jiu)
薄膜擊(ji)穿電(dian)壓測(ce)試儀(yi)可用(yong)於(yu)研(yan)究(jiu)材料(liao)的絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng),分析(xi)絕緣(yuan)失(shi)效(xiao)的機(ji)理(li),為(wei)優(you)化(hua)材(cai)料(liao)結構、提(ti)高(gao)絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng)提(ti)供理(li)論(lun)支(zhi)持(chi)。
4. 安全(quan)性(xing)能(neng)測(ce)試
在高(gao)壓(ya)設備(bei)的(de)運(yun)行過程中,絕緣(yuan)材(cai)料(liao)的性(xing)能(neng)直(zhi)接(jie)關(guan)系(xi)到設備(bei)的(de)安全(quan)性(xing)和(he)穩(wen)定性。通過(guo)薄膜擊(ji)穿電(dian)壓測(ce)試儀(yi)的測(ce)試,可以(yi)評(ping)估設備(bei)的(de)安全(quan)性(xing)能(neng),為(wei)設備(bei)的(de)正常運行提(ti)供有力(li)保障(zhang)。
5. 工藝(yi)控制改進(jin)
薄膜擊(ji)穿電(dian)壓測(ce)試儀(yi)可用(yong)於(yu)監測和控制薄膜制造(zao)過(guo)程(cheng)中的工藝(yi)參(can)數(shu),發(fa)現工藝(yi)問題,優(you)化(hua)工藝(yi)條件,提(ti)高(gao)薄膜的質量和性(xing)能(neng)。

電(dian)話(hua)
微(wei)信掃(sao)壹(yi)掃