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          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)測(ce)量(liang)應用

          更新(xin)時(shi)間:2024-04-07      點擊次數(shu):1432

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)測(ce)量(liang)應用

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)通(tong)過(guo)該(gai)系(xi)統(tong)的測(ce)量(liang)和(he)分析,可(ke)以全(quan)面了解電池的(de)性能(neng)和(he)特性,為電池的(de)優(you)化設(she)計(ji)和(he)商業(ye)化(hua)應用提供(gong)有(you)力(li)支(zhi)持。

          測(ce)量(liang)應用:

          壹(yi)、電極材(cai)料(liao)性能(neng)測(ce)試

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)可(ke)以評(ping)估(gu)電極材(cai)料(liao)的電化學(xue)性能(neng),包(bao)括(kuo)其(qi)容(rong)量(liang)、充放(fang)電效(xiao)率(lv)、循環穩(wen)定(ding)性等。通(tong)過(guo)精(jing)確(que)測(ce)量(liang)電極材(cai)料(liao)的充放(fang)電曲(qu)線、電位變化等參數(shu),可(ke)以深(shen)入了解電極材(cai)料(liao)的性能(neng)特點,為優化電極材(cai)料(liao)的設計和(he)制備(bei)提供(gong)重(zhong)要(yao)依(yi)據(ju)。


          二(er)、電介質(zhi)擊穿強(qiang)度(du)

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)能(neng)夠(gou)準(zhun)確(que)測(ce)量(liang)電介質(zhi)材(cai)料(liao)在不同(tong)電場(chang)下(xia)的(de)擊穿強(qiang)度(du),從而(er)評(ping)估(gu)材(cai)料(liao)的絕緣性能(neng)和(he)耐電壓(ya)能(neng)力(li)。這對於確(que)保(bao)儲(chu)能(neng)設(she)備(bei)的(de)安全(quan)運行具(ju)有重(zhong)要意義。


          三(san)、充放(fang)電循環壽(shou)命(ming)

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)通(tong)過(guo)模(mo)擬實(shi)際的充放(fang)電過(guo)程(cheng),可(ke)以測(ce)試材(cai)料(liao)在多次充放(fang)電循環後(hou)的(de)性能(neng)變化,從而(er)評(ping)估(gu)其(qi)循環壽(shou)命(ming)。這對於儲(chu)能(neng)設(she)備(bei)的(de)長期穩(wen)定(ding)運行和(he)維護(hu)至關(guan)重要(yao)。


          四(si)、電極界(jie)面(mian)穩(wen)定(ding)性

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)可(ke)以通(tong)過(guo)對(dui)電極界(jie)面(mian)進(jin)行微觀觀察和(he)測(ce)量(liang),評(ping)估(gu)其(qi)在(zai)充放(fang)電過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)穩(wen)定(ding)性。這有助(zhu)於發(fa)現(xian)界面(mian)處可(ke)能(neng)存在的問題(ti),如界(jie)面(mian)電阻增(zeng)大(da)、界面(mian)結構變化等,為改進(jin)電極界(jie)面(mian)設(she)計(ji)提供(gong)指導。


          五(wu)、電導率(lv)和(he)介電常數(shu)

          電導率(lv)和(he)介電常數(shu)是(shi)描(miao)述(shu)電介質(zhi)材(cai)料(liao)導電和(he)儲(chu)能(neng)性能(neng)的(de)重(zhong)要(yao)參數(shu)。儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)可(ke)以準(zhun)確測(ce)量(liang)材(cai)料(liao)的電導率(lv)和(he)介電常數(shu),從而(er)評(ping)估(gu)其(qi)導(dao)電性能(neng)和(he)儲(chu)能(neng)能(neng)力(li)。這對於優(you)化(hua)電介質(zhi)材(cai)料(liao)的選擇和(he)設計(ji)具(ju)有重(zhong)要意義。


          六(liu)、溫(wen)度影響分析

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)可(ke)以在(zai)不同(tong)溫(wen)度(du)下(xia)對(dui)材(cai)料(liao)進(jin)行充放(fang)電測(ce)試,分析溫(wen)度對(dui)材(cai)料(liao)性能(neng)的(de)影響。


          七(qi)、充放(fang)電速率(lv)測(ce)試

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)可(ke)以測(ce)試材(cai)料(liao)在不同(tong)充放(fang)電速率(lv)下(xia)的(de)性能(neng)表(biao)現(xian),評(ping)估(gu)其(qi)快(kuai)速(su)充放(fang)電能(neng)力(li)。


          八、電池安全(quan)性評(ping)估(gu)

          儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)還可(ke)以用(yong)於電池安全(quan)性評(ping)估(gu)。通(tong)過(guo)對(dui)電池進(jin)行充放(fang)電測(ce)試,系統(tong)可(ke)以監(jian)測(ce)電池在(zai)充放(fang)電過(guo)程(cheng)中(zhong)的(de)溫度變化、壓(ya)力變化等安全(quan)指標,評(ping)估(gu)電池的(de)安全(quan)性能(neng)。這有助(zhu)於及時發現(xian)電池潛在的(de)安全(quan)隱(yin)患(huan),為電池的(de)安全(quan)使(shi)用和(he)維護(hu)提供(gong)重(zhong)要(yao)保(bao)障(zhang)。


          產(chan)品(pin)介紹(shao):

          Huace-DCS10KV電介質(zhi)充放(fang)電測(ce)試系統(tong)主要用(yong)於研(yan)究(jiu)介電儲(chu)能(neng)材(cai)料(liao)高電壓(ya)放(fang)電性能(neng)。目(mu)前(qian)常(chang)規的(de)方法是通(tong)過(guo)電滯回線計算高壓(ya)下(xia)電介質(zhi)的(de)能(neng)量(liang)密(mi)度(du),測(ce)試時,樣(yang)品(pin)的電荷是(shi)放(fang)回到(dao)高壓(ya)源上(shang),而(er)不(bu)是(shi)釋(shi)放(fang)到負載(zai)上(shang),通(tong)過(guo)電滯回線測(ce)得的(de)儲(chu)能(neng)密(mi)度(du)壹(yi)般(ban)會(hui)大(da)於樣(yang)品(pin)實際釋(shi)放(fang)的能(neng)量(liang)密(mi)度(du),無(wu)法正(zheng)確評(ping)估(gu)電介質(zhi)材(cai)料(liao)的正(zheng)常放(fang)電性能(neng)。華測(ce)Huace-DCS10KV儲(chu)能(neng)電介質(zhi)充放(fang)電系統(tong)采(cai)用專門設(she)計的(de)電容放(fang)電電路來測(ce)量(liang),測(ce)試電路如下(xia)圖所(suo)示。在(zai)該(gai)電路中,首(shou)先將(jiang)介(jie)電膜充電到給(gei)定(ding)電壓(ya),之後(hou)通(tong)過(guo)閉合(he)高速MOS高(gao)壓(ya)開(kai)關(guan),存儲(chu)在電容器(qi)膜中(zhong)的能(neng)量(liang)被(bei)放(fang)電到電阻器(qi)負載(zai)的(de)原理設計開(kai)發(fa),更符(fu)合(he)電介質(zhi)充放(fang)電原理。


          主要參數(shu):

          1、電流探(tan)頭帶寬:120MHz

          2、峰(feng)值電流:0-100A150 A(多種電流可(ke)監測(ce));

          3、電流采(cai)集精(jing)度:1mA

          4、高(gao)壓(ya)源模(mo)塊:3KV5KV10kV15KV多可(ke)選(電流:0-5mA);

          5、開(kai)關(guan)適用(yong):100萬(wan)次,耐(nai)壓(ya)15kV

          6、溫(wen)控範(fan)圍:0-200℃;

          7、溫(wen)度穩(wen)定(ding)性和(he)精度(du):0.1℃;

          8、測(ce)試樣(yang)品(pin):薄膜(mo),厚膜(mo),陶瓷(ci),玻璃等;

          9、可(ke)以配(pei)合(he)各(ge)種(zhong)極化(hua)設(she)備(bei)進(jin)行多種壓(ya)電材(cai)料(liao)和(he)介電材(cai)料(liao)的測(ce)試。


          產(chan)品(pin)特點

          1、 本(ben)系統(tong)采(cai)用特殊(shu)高壓(ya)開(kai)關(guan),通(tong)過(guo)單(dan)刀(dao)雙(shuang)擲(zhi)控制(zhi)充電和(he)放(fang)電過(guo)程(cheng),開(kai)關(guan)可(ke)以承(cheng)受10kV高(gao)壓(ya),寄生電容小,動作(zuo)時間短(duan);

          2、 電壓(ya)10kV,電流5mA

          3、 可(ke)外(wai)接(jie)高(gao)壓(ya)放(fang)大(da)器(qi)或(huo)高(gao)壓(ya)直流電源;

          4、 通(tong)過(guo)電流探(tan)頭檢測(ce)放(fang)電電流,可(ke)達(da)100A

          5、 可(ke)以實(shi)現(xian)欠阻(zu)尼和(he)過(guo)阻(zu)尼(ni)兩(liang)種測(ce)試模(mo)式(shi),欠阻(zu)尼測(ce)試時,放(fang)電回路短路,不使用電阻負載(zai),過(guo)阻(zu)尼(ni)測(ce)試時,使(shi)用(yong)較(jiao)大(da)的高(gao)精

          度(du)無感電阻作(zuo)為放(fang)電負載(zai);

          6、 可(ke)以作(zuo)為壹(yi)個(ge)信(xin)號(hao)源,產(chan)生任(ren)意波(bo)形(xing);

          7、 通(tong)過(guo)示(shi)波(bo)器(qi)采(cai)集數(shu)據(ju),並能(neng)直(zhi)接(jie)計(ji)算(suan)儲(chu)能(neng)密(mi)度(du);

          8、 定(ding)制載(zai)樣(yang)平(ping)臺,可(ke)適用(yong)於陶瓷(ci)和(he)薄膜(mo)樣(yang)品(pin)測(ce)試;

          9、 可(ke)以進(jin)行變溫測(ce)試,RT~200℃;

          10、 可(ke)以進(jin)行疲勞(lao)測(ce)試;

          11、 還(hai)可(ke)用於極化(hua)材(cai)料(liao)之用(yong)。



          北京華測(ce)試驗儀(yi)器(qi)有限(xian)公(gong)司(si)
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