
壹(yi)文(wen)讀(du)懂電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi)
儀(yi)器用途(tu)
電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi),又叫(jiao)電壓(ya)擊穿測(ce)試(shi)儀(yi),主(zhu)要適用(yong)於(yu)固體(ti)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料如(ru)電線(xian)套(tao)管(guan)、樹(shu)脂(zhi)和膠(jiao)、浸漬(zi)纖維(wei)制(zhi)品(pin)、雲(yun)母(mu)及其制(zhi)品(pin)、塑料薄膜、陶(tao)瓷(ci)、玻(bo)璃、絕緣漆、硫化(hua)橡膠(jiao)、電纜(lan)紙、絕緣漆漆(qi)膜、硬(ying)質橡膠(jiao)、紙板等絕緣(yuan)介質在空(kong)氣或液體(ti)介質中,測(ce)量(liang)工頻(48~62Hz)或(huo)對(dui)應(ying)直(zhi)流電壓(ya)下擊穿(chuan)強(qiang)度(du)和耐(nai)電壓(ya)時間。橡膠(jiao)塑料工頻耐(nai)電壓(ya)介電擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度(du)試(shi)驗(yan)儀(yi)適用(yong)於(yu)連(lian)續(xu)均勻(yun)升(sheng)壓(ya)或逐級(ji)升(sheng)壓(ya)的(de)方式(shi),對(dui)試(shi)樣(yang)施(shi)加(jia)交(jiao)流/或直(zhi)流,電壓(ya)直(zhi)至(zhi)擊(ji)穿(chuan),測(ce)量擊穿電壓(ya)值,計(ji)算(suan)試(shi)樣(yang)的(de)擊穿(chuan)強(qiang)度(du);用迅(xun)速(su)升(sheng)壓(ya)的(de)方法,將電壓(ya)升(sheng)到(dao)規定值(zhi),保(bao)持(chi)壹定(ding)的(de)時間(jian)試(shi)樣(yang)不(bu)擊(ji)穿(chuan),定(ding)此時規定值(zhi)為(wei)試(shi)樣(yang)的(de)耐電壓(ya)值。
電壓(ya)擊穿測(ce)試(shi)儀(yi),是將(jiang)壹(yi)規定交(jiao)流或直(zhi)流高(gao)壓(ya)施(shi)加(jia)在(zai)電器帶電部(bu)分(fen)和非(fei)帶電部(bu)分(fen)(壹般(ban)為(wei)外殼(ke))之(zhi)間(jian)以(yi)檢查(zha)電器的(de)絕緣(yuan)材(cai)料所(suo)能(neng)承(cheng)受(shou)耐壓(ya)能力的(de)試(shi)驗(yan)。電器在長(chang)期工作(zuo)中,不(bu)僅要承受(shou)額定工作(zuo)電壓(ya)的(de)作(zuo)用,還(hai)要承受(shou)操(cao)作(zuo)過程(cheng)中引(yin)起(qi)短時(shi)間的(de)高(gao)於(yu)額(e)定工作(zuo)電壓(ya)的(de)過電壓(ya)作(zuo)用。在(zai)這些電壓(ya)的(de)作(zuo)用下(xia),電氣絕緣(yuan)材(cai)料的(de)內(nei)部結構(gou)將(jiang)發生(sheng)變(bian)化。當過(guo)電壓(ya)強(qiang)度(du)達到某(mou)壹(yi)定(ding)值(zhi)時(shi),就會(hui)使(shi)材(cai)料的(de)絕緣(yuan)擊穿,電器將不(bu)能(neng)正常運(yun)行(xing),操(cao)作(zuo)者(zhe)就可(ke)能(neng)觸(chu)電,危(wei)及人身。電氣主(zhu)要測試(shi)指標(biao)包(bao)括交(jiao)/直(zhi)流耐壓(ya)、泄漏(lou)電流等。
機械結構(gou)
主(zhu)要由控(kong)制(zhi)櫃(gui)、試(shi)驗(yan)變(bian)壓(ya)器、升(sheng)壓(ya)裝置、整(zheng)流裝置構(gou)成(cheng)。
軟(ruan)件(jian)功能(neng)
本系統基(ji)於(yu)NI LabVIEW開(kai)發的(de)操(cao)作(zuo)程(cheng)序;
操(cao)作(zuo)系統:支(zhi)持(chi)XP,win7, win8系統,操(cao)作(zuo)人性(xing)化(hua);
實(shi)時監測(ce):在(zai)實(shi)驗過程(cheng)中可(ke)以(yi)動(dong)態(tai)顯示試(shi)驗(yan)曲線(xian);
數(shu)據導(dao)出(chu):試(shi)驗(yan)結(jie)果(guo)方便導出(chu)。
實(shi)驗報告(gao):自(zi)定義報告(gao)名(ming)稱,並對(dui)實(shi)驗報告(gao)進(jin)行打(da)印;
試(shi)驗(yan)方(fang)式(shi): 直(zhi)流試(shi)驗(yan)和交(jiao)流試(shi)驗(yan)、進(jin)行(xing)選(xuan)擇;
試(shi)驗(yan)方(fang)法:擊(ji)穿(chuan)電壓(ya)、耐壓(ya)試(shi)驗(yan)、階(jie)梯(ti)升(sheng)壓(ya)等多種(zhong)選(xuan)擇;,
參(can)數(shu)設(she)置(zhi):可(ke)以(yi)根據不(bu)同(tong)的(de)試(shi)驗(yan)方(fang)式(shi)及試(shi)驗(yan)方(fang)法靈活(huo)設(she)置所需的(de)不(bu)同(tong)參數(shu)值(zhi);
功能(neng):可(ke)針(zhen)對(dui)設(she)備(bei)進(jin)行(xing)設(she)置(zhi);
報警(jing)功能(neng):軟(ruan)件(jian)具(ju)備(bei)電壓(ya)、電流報警(jing)功能(neng)。
優(you)勢技(ji)術(shu)
1、瞬(shun)間(jian)抑(yi)制(zhi)防(fang)護技(ji)術(shu)。
2、多(duo)級(ji)循環采(cai)集(ji)技(ji)術(shu)。
3、低通(tong)濾(lv)波檢測技(ji)術(shu)。
4、雙(shuang)系統互(hu)鎖技(ji)術(shu)及隔(ge)離(li)屏蔽(bi)技(ji)術(shu)。
電壓(ya)擊穿選(xuan)型,測(ce)量(liang)電壓(ya)選(xuan)型:首(shou)先(xian)選(xuan)擇合(he)適的(de)測量(liang)電壓(ya),也就是試(shi)驗(yan)時(shi)的(de)最大(da)電壓(ya),目前標(biao)準(zhun)的(de)電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi)的(de)電壓(ya)範圍為(wei)20KV型、50KV型、100KV型、150KV型、200KV型。
設(she)備(bei)的(de)可靠(kao)要考慮(lv)以下幾個方(fang)面:
1、 TVS瞬(shun)間(jian)抑(yi)制(zhi)防(fang)護技(ji)術(shu):
目前材(cai)料電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi)采(cai)用的(de)光耦(ou)隔(ge)離(li)方(fang)式(shi),但(dan)光耦(ou)與(yu)隔(ge)離(li)無(wu)非(fei)是提(ti)高(gao)儀(yi)器的(de)采(cai)集(ji)的(de)抗幹擾(rao)處(chu)理(li)。對於(yu)電弧(hu)放電過(guo)程(cheng)中的(de)浪(lang)湧對控(kong)制(zhi)系統的(de)防護起(qi)不(bu)到(dao)任(ren)何作(zuo)用。這(zhe)也就是國產(chan)儀(yi)器維(wei)護率(lv)過(guo)高(gao)的(de)主(zhu)要原因(yin)。TVS瞬(shun)間(jian)抑(yi)制(zhi)防(fang)護技(ji)術(shu),。
2、多(duo)級(ji)循環電壓(ya)采(cai)集(ji)技(ji)術(shu):
材(cai)料擊(ji)穿(chuan)後(hou),瞬間(jian)放電速(su)度(du)約為(wei)光速(su)的(de)1/5~1/3,國際通(tong)用(yong)的(de)方法為(wei)壓(ya)降(jiang)法進行采(cai)集(ji)擊(ji)穿(chuan)電壓(ya)。即變(bian)壓(ya)器的(de)初(chu)級(ji)電壓(ya)瞬間下(xia)降(jiang)壹(yi)定(ding)比率(lv)來判別(bie)材(cai)料是否(fou)擊(ji)穿(chuan)。顯然(ran)記(ji)錄擊穿電壓(ya)值產(chan)生偏差。而采(cai)用多(duo)級(ji)循環采(cai)集(ji)技(ji)術(shu)對擊(ji)穿(chuan)後(hou)的(de)電壓(ya)采(cai)集(ji)將(jiang)解(jie)決此難題(ti)。
3、低通(tong)濾(lv)波電流監測技(ji)術(shu):
高(gao)壓(ya)壓(ya)放電過(guo)程(cheng)中將(jiang)產(chan)生高(gao)頻(pin)信號(hao)。而無論是國產(chan)與(yu)電流采(cai)集(ji)傳(chuan)感器,大都(dou)為(wei)工頻電流傳(chuan)感器。而采(cai)集(ji)過(guo)程(cheng)中無(wu)法將高(gao)頻(pin)信號(hao)處(chu)理(li)。從而造成檢測不(bu)準(zhun)確。同(tong)時無(wu)論是采(cai)用磁(ci)通(tong)門或(huo)霍(huo)爾(er)原理(li)都(dou)存(cun)在(zai)擊穿(chuan)後瞬(shun)間輸(shu)出(chu)電壓(ya)或電流信號(hao)過(guo)大(da),從而燒壞(huai)控制(zhi)系統的(de)采(cai)集(ji)部(bu)分(fen)(隔(ge)離(li)只(zhi)起(qi)到(dao)屏蔽(bi))。采(cai)用低濾波電流采(cai)集(ji)傳(chuan)感器將高(gao)頻(pin)夾波信號(hao)處(chu)理(li)後,傳(chuan)入PLC同(tong)時采(cai)用穩(wen)壓(ya)技(ji)術(shu)而保證(zheng)電流采(cai)集(ji)精(jing)度(du)與(yu)保護采(cai)集(ji)元(yuan)件(jian)。
4、雙(shuang)系統互(hu)鎖技(ji)術(shu)及隔(ge)離(li)屏蔽(bi)技(ji)術(shu):
wei*采(cai)用雙(shuang)系統互(hu)鎖技(ji)術(shu)應(ying)用(yong)於(yu)電擊(ji)穿(chuan)儀(yi)器,目前電壓(ya)擊穿儀(yi)器大都(dou)具備(bei)過(guo)壓(ya)、過流保護系統,假(jia)如(ru),過(guo)壓(ya)或過流元失(shi)效(xiao),何來防(fang)護試(shi)驗(yan)儀(yi)器及操(cao)作(zuo)人員(yuan)。而采(cai)用duyou的(de)雙(shuang)系統相(xiang)互制(zhi)約(yue),當任(ren)何元器件出(chu)現(xian)問(wen)題(ti)或單(dan)系統出(chu)現(xian)故(gu)障(zhang)時(shi),將(jiang)瞬間切斷高(gao)壓(ya)。試(shi)驗(yan)電極(ji),要考慮(lv)測試(shi)的(de)是片(pian)狀(zhuang)材(cai)料還(hai)是薄膜材(cai)料,薄膜材(cai)料同(tong)時要有電極(ji)重(zhong)量(liang)的(de)要求。對(dui)於(yu)片(pian)狀(zhuang)固體(ti)材(cai)料也(ye)要考慮(lv)是在(zai)空(kong)氣中試(shi)驗(yan),還(hai)是在(zai)絕(jue)緣(yuan)油(you)中試(shi)驗(yan),同(tong)時要考慮(lv)切換電極(ji)時(shi)間(jian)快(kuai),效(xiao)率(lv)高(gao),適合(he)試(shi)驗(yan)室(shi)使(shi)用。
同(tong)等電壓(ya)量程(cheng)不(bu)同(tong)功率(lv)的(de)電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi)的(de)區別
(1)在(zai)測(ce)試(shi)規程(cheng)和測(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)中,測(ce)試(shi)數(shu)據是擊(ji)穿(chuan)電壓(ya)值,而對儀(yi)器的(de)輸出(chu)電流沒(mei)有要求時(shi),可以(yi)不(bu)用(yong)考(kao)慮(lv)設備(bei)的(de)容(rong)量值(zhi),只(zhi)關(guan)註(zhu)設備(bei)的(de)量程(cheng)即可,對(dui)測(ce)試(shi)數(shu)據沒(mei)有影(ying)響
(2)在(zai)有(you)些(xie)測(ce)試(shi)標(biao)準(zhun)或測試(shi)要求中,必(bi)須要求儀(yi)器滿(man)足(zu)最大(da)輸(shu)出(chu)電流是多(duo)少(shao),對此在選(xuan)擇儀(yi)器量程(cheng)的(de)同(tong)時,需(xu)要關註(zhu)變(bian)壓(ya)器的(de)容(rong)量值(zhi)(即功率(lv)KVA)
華測電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi)設備(bei)采(cai)用計(ji)算(suan)機控(kong)制(zhi),通(tong)過(guo)人機對(dui)話(hua)方式(shi),完(wan)成(cheng)對鋰離(li)子(zi)隔(ge)膜材(cai)料直(zhi)流下電壓(ya)擊穿、耐(nai)壓(ya)試(shi)驗(yan)。HCDJC系列電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi)適合(he)元(yuan)件法、50點電法。電壓(ya)擊穿試(shi)驗(yan)儀(yi)采(cai)用計(ji)算(suan)機控(kong)制(zhi),可(ke)對(dui)試(shi)驗(yan)過(guo)程(cheng)中的(de)各(ge)種(zhong)數(shu)據進(jin)行快(kuai)速(su)、準確的(de)采(cai)集(ji)、處(chu)理(li),並可(ke)存(cun)取(qu)、顯示、打印。

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