華(hua)測HCDJC系(xi)列(lie)電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)設備(bei)采(cai)用(yong)計(ji)算(suan)機控制(zhi),通(tong)過人機(ji)對(dui)話(hua)方(fang)式(shi),完成(cheng)對(dui)鋰(li)離(li)子(zi)隔(ge)膜(mo)材料直(zhi)流(liu)下電(dian)壓(ya)擊(ji)穿、耐壓(ya)試(shi)驗(yan)。HCDJC系(xi)列(lie)電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)適合(he)元件法、50點電(dian)法。電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)采用計(ji)算(suan)機控制(zhi),可對(dui)試(shi)驗(yan)過程(cheng)中(zhong)的(de)各(ge)種(zhong)數(shu)據(ju)進(jin)行快速(su)、準(zhun)確的采(cai)集(ji)、處理(li),並可存取、顯示、打(da)印(yin)。電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)的主要(yao)功(gong)能(neng)是(shi)模擬(ni)高(gao)壓(ya)場景,通(tong)過施加(jia)高(gao)電(dian)壓(ya)來考察待測物體(ti)的電(dian)絕(jue)緣(yuan)強(qiang)度(du)。其工作原(yuan)理(li)是(shi)將(jiang)試(shi)件置於(yu)高(gao)電(dian)場下,逐(zhu)漸升高(gao)電(dian)壓(ya),在不發生擊(ji)穿的(de)情況下記錄(lu)電(dian)壓(ya)值,以(yi)此來判(pan)斷試(shi)件的電(dian)絕(jue)緣(yuan)強(qiang)度(du)。通(tong)常(chang)包括(kuo)高(gao)壓(ya)發生器、測試(shi)儀(yi)表、保(bao)護裝(zhuang)置等組成(cheng)部分(fen)。其中(zhong)高(gao)壓(ya)發生器負(fu)責(ze)產(chan)生(sheng)高(gao)電(dian)壓(ya),可通(tong)過旋鈕(niu)或(huo)數字控制(zhi)面板(ban)調(tiao)節(jie)電(dian)壓(ya)值和(he)電(dian)流值;測(ce)試(shi)儀(yi)表則(ze)用於監(jian)測電(dian)壓(ya)、電(dian)流、時(shi)間等測試(shi)參數,並(bing)通(tong)過計(ji)算(suan)機軟(ruan)件進(jin)行數據(ju)處理(li)和(he)分(fen)析;保(bao)護裝(zhuang)置則(ze)負(fu)責(ze)在試(shi)驗(yan)過程(cheng)中(zhong)確保(bao)安全(quan),避(bi)免(mian)發生事故(gu)。
電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)優勢(shi)技(ji)術(shu)
1、瞬間抑制(zhi)防護技(ji)術(shu)。
2、多(duo)級(ji)循環采(cai)集(ji)技術(shu)。
3、低(di)通(tong)濾(lv)波(bo)檢測(ce)技術(shu)。
4、雙(shuang)系(xi)統互(hu)鎖技術(shu)及(ji)隔(ge)離(li)屏蔽技術(shu)。
電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)具(ju)有以(yi)下特點:
高(gao)精度:電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)采用數(shu)字(zi)化(hua)測(ce)量(liang)技(ji)術(shu),具(ju)有高(gao)精度和(he)可靠性(xing)。
高(gao)效性(xing):電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)操作簡單(dan),可在較(jiao)短(duan)時間內(nei)完成(cheng)多(duo)項(xiang)測試(shi)任務(wu),提高(gao)工作效率(lv)。
安(an)全(quan)性(xing):電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)配(pei)備(bei)了(le)安(an)全(quan)保(bao)護裝(zhuang)置,確保(bao)測試(shi)過程(cheng)中(zhong)的(de)人身(shen)安(an)全(quan)和(he)設備(bei)穩定(ding)性(xing)。
易(yi)於(yu)維(wei)護:電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試(shi)驗(yan)儀(yi)結構(gou)簡單(dan),易(yi)於維(wei)護和(he)保(bao)養(yang),降低了使用成(cheng)本(ben)。