熱(re)釋電材料(liao)的(de)性能

   盡管具有熱(re)釋電效(xiao)應的(de)材料(liao)種類(lei)很多(duo)，但(dan)當今(jin)實(shi)用化(hua)的(de)材料(liao)僅有幾種(zhong)，如(ru)PbTiO3和(he)PZT陶(tao)瓷，硫酸三(san)甘肽TGS和(he)LiTiO3單晶等。

 表4.5-11列出(chu)部分(fen)熱釋(shi)電材料(liao)的(de)性能。其(qi)中LiTa03，LiNbO3和(he)SBN（Sr0.5 Ba0.5 Nb2O5)是(shi)單晶，PZT（PbZr1-y，TiyO3,y=0.1)和(he)PbTiO3是(shi)陶(tao)瓷，TGS和(he)PVF2是(shi)有機(ji)材料(liao)。但純(chun)PbTiO3燒結(jie)困難(nan)，必(bi)須摻入Bi1/3 TiO3，PhZn1/3Nb2/302，或(huo)添(tian)加(jia)La203和(he)Mn02的(de)組(zu)合物(wu)，才(cai)能(neng)獲(huo)得對紅外(wai)線敏(min)感(gan)的(de)實(shi)用材料(liao)。像TCS等(deng)有機(ji)晶體，從2～3μm到(dao)長波長,其(qi)紅外(wai)吸(xi)收(shou)系(xi)數都(dou)大(da)，但對PbTiO3和(he)SBN等(deng)無(wu)機(ji)化(hua)合物(wu)，直(zhi)到(dao)10μm附(fu)近(jin)的(de)遠紅外(wai)區(qu)，多(duo)數材料(liao)都(dou)是(shi)透明的(de)。若在元(yuan)件(jian)的(de)兩邊蒸發上(shang)數納米(mi)厚的(de)金(jin)屬(shu)膜(mo)電極(ji)，將產生(sheng)由(you)膜引(yin)起(qi)的(de)紅外(wai)吸(xi)收(shou)。因此，為(wei)了獲(huo)得足夠高的(de)探(tan)測(ce)靈(ling)敏(min)度，需(xu)在探(tan)測(ce)元件(jian)表面上(shang)附(fu)加(jia)紅外(wai)吸(xi)收(shou)膜。

表4.5-11  部分(fen)熱釋(shi)電材料(liao)的(de)性能

   熱(re)釋(shi)電系(xi)數測(ce)試儀基於熱釋電動態電流(liu)法(fa)設計,由溫(wen)度控制器(qi)、加(jia)熱爐(lu)體、微(wei)電流(liu)放(fang)大器(qi)、溫(wen)度測(ce)試儀以及(ji)計(ji)算(suan)機(ji)軟件(jian)系(xi)統(tong)組(zu)成。溫(wen)度控制器(qi)控制加(jia)熱爐(lu)體內部溫(wen)度;樣(yang)品的(de)電流(liu)信號通(tong)過(guo)微(wei)電流(liu)放(fang)大器(qi)、輸入(ru)到(dao)計算(suan)機(ji);而溫(wen)度信號則直接(jie)通過(guo)溫(wen)度測(ce)試儀傳送(song)到(dao)計算(suan)機(ji)。能(neng)測量(liang)具有熱(re)釋電性能的(de)單晶、陶瓷、厚膜(mo)及(ji)薄膜材料(liao)樣品(pin), 適用範(fan)圍廣(guang)。

   華(hua)測(ce)熱(re)釋(shi)電系(xi)數測(ce)試儀采(cai)用動態電流(liu)法(fa)測(ce)量壓電陶(tao)瓷材料(liao)的(de)熱(re)釋(shi)系(xi)數，測(ce)熱釋電系(xi)數測(ce)試系(xi)統(tong)的(de)功(gong)能(neng)就(jiu)是實(shi)現(xian)對微(wei)弱熱(re)釋(shi)電電流(liu)信號和(he)溫(wen)度信號的(de)實(shi)時(shi)測量。其(qi)構(gou)成可以分(fen)為(wei):熱釋(shi)電樣(yang)品(pin)加(jia)熱、溫(wen)度測(ce)量、升降溫(wen)速度(du)控制、熱釋電電流(liu)測(ce)量和(he)測(ce)量(liang)數據(ju)處(chu)理通過(guo)工(gong)業計算機(ji)數據(ju)處(chu)理，得出(chu)壓(ya)電陶(tao)瓷材料(liao)的(de)熱(re)釋(shi)電系(xi)數。

   熱(re)釋(shi)電系(xi)數測(ce)試儀可以分(fen)析被(bei)測(ce)樣(yang)品(pin)熱(re)釋電系(xi)數隨(sui)溫(wen)度、時(shi)間(jian)變(bian)化(hua)的(de)曲(qu)線，通過(guo)軟件(jian)將這些變(bian)化(hua)曲線的(de)溫(wen)度譜(pu)、時間(jian)譜等(deng)集(ji)成壹(yi)體並(bing)進(jin)行(xing)分(fen)析測(ce)量並可以直接得出(chu)樣(yang)品的(de)熱(re)釋(shi)電圖(tu)譜(pu)。對試(shi)樣大小(xiao)及(ji)形狀(zhuang)無特(te)殊(shu)要(yao)求，圓(yuan)片、方(fang)塊(kuai)、長條、柱(zhu)形(xing)等(deng)均(jun)可測量，可廣泛用於(yu)鐵電、壓(ya)電材料(liao)（壓電陶(tao)瓷、高分(fen)子）以及相(xiang)關器(qi)件(jian)性能的(de)評(ping)價與(yu)測(ce)試。