50點(dian)電(dian)極(ji)法電壓擊穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)的(de)儀(yi)器(qi)用(yong)途

  壹(yi)、產(chan)品介紹

華測HCDJC系(xi)列(lie)電壓(ya)擊(ji)穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)設備采用計算(suan)機控(kong)制(zhi)，通(tong)過(guo)人(ren)機對(dui)話(hua)方(fang)式(shi)，完成對(dui)鋰離子(zi)隔膜(mo)材料(liao)直(zhi)流下(xia)電(dian)壓擊(ji)穿(chuan)、耐(nai)壓試驗。HCDJC系(xi)列(lie)電壓(ya)擊(ji)穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)適(shi)合元(yuan)件(jian)法、50點(dian)電(dian)法。電壓擊穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)采用計算(suan)機控(kong)制(zhi)，可對(dui)試驗(yan)過(guo)程(cheng)中的各(ge)種(zhong)數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)快(kuai)速(su)、準(zhun)確的(de)采集、處(chu)理(li)，並可(ke)存(cun)取、顯示、打(da)印。

二、軟(ruan)件(jian)功能(neng)

本(ben)系(xi)統(tong)基(ji)於(yu)NI LabVIEW開發(fa)的操(cao)作(zuo)程(cheng)序；

操(cao)作(zuo)系(xi)統(tong):支持XP，win7, win8系(xi)統(tong)，操(cao)作(zuo)人(ren)性(xing)化(hua);

實(shi)時監測(ce):在(zai)實(shi)驗過程(cheng)中可以動態(tai)顯示試驗曲線;

數(shu)據(ju)導出:試(shi)驗結果方便(bian)導出。

實(shi)驗報(bao)告:自定(ding)義(yi)報(bao)告名稱(cheng)，並對(dui)實(shi)驗報(bao)告進行(xing)打(da)印;

試驗(yan)方式(shi): 直流試驗和交(jiao)流試驗、進行(xing)選擇(ze);

試驗方法:擊穿(chuan)電(dian)壓、耐壓試(shi)驗(yan)、階(jie)梯升(sheng)壓(ya)等多種(zhong)選擇(ze);，

參數(shu)設置:可以(yi)根據(ju)不(bu)同的(de)試(shi)驗方(fang)式及試驗方(fang)法靈(ling)活(huo)設置所(suo)需的(de)不(bu)同參數(shu)值;

功能(neng):可(ke)針(zhen)對(dui)設備進(jin)行(xing)設置;

報(bao)警功能(neng):軟(ruan)件具(ju)備電壓、電(dian)流報(bao)警功能(neng)。

   三、儀(yi)器(qi)用(yong)途

固(gu)體(ti)絕緣材(cai)料(liao)檢(jian)測(ce)儀(yi)器(qi)——電(dian)壓擊穿(chuan)試(shi)驗儀(yi)主(zhu)要(yao)適用於(yu)固(gu)體(ti)絕緣材(cai)料(liao)如(ru)電線(xian)套(tao)管、樹(shu)脂(zhi)和膠(jiao)、浸漬纖維制(zhi)品、雲母(mu)及(ji)其(qi)制(zhi)品、塑料(liao)薄(bo)膜(mo)、陶瓷、玻璃、絕緣漆、硫(liu)化(hua)橡膠、電纜紙(zhi)、絕緣漆漆膜(mo)、硬質橡膠、紙(zhi)板等絕緣介質(zhi)在(zai)空(kong)氣或(huo)液體(ti)介質(zhi)中(zhong)，測量工(gong)頻(pin)（48~62Hz）或對(dui)應(ying)直(zhi)流電壓下(xia)擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度和耐電(dian)壓(ya)時(shi)間。橡膠塑料(liao)工(gong)頻(pin)耐電壓(ya)介電(dian)擊(ji)穿(chuan)強(qiang)度試驗儀(yi)適(shi)用於(yu)連續(xu)均(jun)勻升(sheng)壓(ya)或逐級(ji)升(sheng)壓(ya)的方式，對(dui)試樣(yang)施加(jia)交(jiao)流/或直流，電壓直至擊穿(chuan)，測(ce)量擊(ji)穿(chuan)電(dian)壓值，計算(suan)試樣(yang)的擊穿(chuan)強(qiang)度；用迅(xun)速(su)升(sheng)壓(ya)的方法，將電壓升(sheng)到(dao)規(gui)定(ding)值，保持壹定(ding)的時(shi)間試(shi)樣不擊穿(chuan)，定(ding)此時(shi)規定(ding)值為(wei)試(shi)樣(yang)的耐電壓值。