手(shou)動探(tan)針臺(tai)是什(shen)麽(me)？

   手(shou)動探(tan)針臺(tai)的(de)主要用途(tu)是(shi)為半導(dao)體芯(xin)片(pian)的(de)電(dian)參(can)數(shu)測試(shi)提供壹(yi)個測試(shi)平臺(tai)，探(tan)針臺(tai)可吸附多種(zhong)規(gui)格芯(xin)片(pian)，並(bing)提供多(duo)個可(ke)調(tiao)測試(shi)針以(yi)及探(tan)針座(zuo)，配合測量儀(yi)器(qi)可(ke)完(wan)成集成電(dian)路(lu)的(de)電(dian)壓(ya)、電(dian)流、電(dian)阻(zu)以(yi)及電(dian)容電(dian)壓(ya)特性曲(qu)線(xian)等(deng)參(can)數(shu)檢測。適用(yong)於對(dui)芯(xin)片(pian)進行(xing)科研(yan)分(fen)析(xi)，抽查測試(shi)等(deng)用(yong)途(tu)。

   華(hua)測微型(xing)真空探(tan)針臺(tai)是壹(yi)款專門用於材(cai)料(liao)電(dian)學(xue)表征(zheng)和(he)測量的(de)微型(xing)桌(zhuo)面型電(dian)學(xue)測量臺(tai)，主要用於(yu)介電(dian)、壓(ya)電(dian)、鐵(tie)電(dian)、熱釋電(dian)、光(guang)電(dian)等(deng)材(cai)料(liao)的(de)電(dian)學(xue)表征(zheng)和(he)測量，還(hai)可以(yi)在(zai)真空、氣(qi)氛環境(jing)下(xia)對(dui)材(cai)料(liao)進行(xing)電(dian)學(xue)測量評(ping)估(gu)，是實驗室測量薄膜材(cai)料電(dian)學(xue)材料(liao)常用工具，廣泛用於(yu)高(gao)校、科研(yan)、航天(tian)航空院(yuan)所(suo)等(deng)領(ling)域(yu)。