
微型真空(kong)探針臺是壹(yi)款(kuan)專門(men)用(yong)於(yu)材料電學(xue)表征(zheng)和(he)測量(liang)的微型桌(zhuo)面(mian)型電(dian)學測量(liang)臺,主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)介電、壓電、鐵(tie)電、熱釋(shi)電(dian)、光電(dian)等(deng)材(cai)料的電(dian)學(xue)表征(zheng)和(he)測量(liang),還(hai)可以在真空(kong)、氣氛(fen)環境下對(dui)材(cai)料進行(xing)電(dian)學(xue)測量(liang)評估(gu),是(shi)實(shi)驗(yan)室(shi)測量(liang)薄膜(mo)材料電學(xue)材料bibei工具(ju),廣泛(fan)用於(yu)高(gao)校(xiao)、科研、航(hang)天航(hang)空院所等(deng)領(ling)域(yu)。
功(gong)能(neng)特點
1、無(wu)人(ren)機(ji)外(wai)觀設計開(kai)發(fa),讓(rang)低溫探針(zhen)臺(tai)小(xiao)巧(qiao)精(jing)密;
2、XYZ三(san)維(wei)移(yi)動(dong)平(ping)臺(tai)的開(kai)發(fa),位移(yi)最(zui)小(xiao)分(fen)辨率10um以下(xia);
3、電(dian)聲(sheng)制冷(leng)機(ji)制(zhi)冷(leng)加(jia)熱壹(yi)體化(hua)平(ping)臺應用開(kai)發(fa);
4、液(ye)氮(dan)制冷(leng)加(jia)熱壹(yi)體化(hua)平(ping)臺應用開(kai)發(fa);
5、利用機(ji)械彈性(xing)設計,低溫環境下也有彈性(xing),避免(mian)在探針(zhen)壓薄膜(mo)樣(yang)品(pin)是(shi)損壞薄(bo)膜(mo);
6、實(shi)現(xian)-160℃~450℃的制(zhi)冷(leng)和(he)加(jia)熱測量(liang)環境,控溫(wen)精(jing)度達到±0.5℃;
7、采(cai)用1000X放(fang)大(da)鏡(jing)顯(xian)微鏡(jing)設計,有利於(yu)實時觀(guan)察樣(yang)品(pin)的測量(liang)狀態(tai);
8、廣泛(fan)用於(yu)復雜、高(gao)速器件的精(jing)密電器測量(liang),可靠性(xing)高(gao);
9、高(gao)低(di)溫平臺、測量(liang)夾具(ju)、測量(liang)軟(ruan)件等(deng)集(ji)成(cheng)於(yu)壹(yi)體,讓(rang)操作(zuo)變得(de)簡單;
10、可(ke)以通(tong)過(guo)USB傳(chuan)輸(shu)數(shu)據,數據(ju)格式(shi)為(wei)Excel格(ge)式。
應用:晶(jing)圓、芯片(pian)、LED測試、場晶體管(guan)、IGBT、分(fen)立(li)器(qi)件等(deng)測試類(lei)型(xing):IV/CV測試、RF測試、光(guang)電(dian)測試等(deng)搭配儀器(qi):吉(ji)時利2400系(xi)列、4200系(xi)列、安(an)捷倫(lun)B2900系(xi)列、1500系(xi)列等(deng)特點:超高(gao)真(zhen)空環境、避免(mian)氧化、結(jie)霜(shuang),77K-675K溫(wen)度測試範圍,外(wai)置探針臂(bi)操作(zuo)穩定、精準(zhun),可兼(jian)容(rong)不(bu)同類(lei)型(xing)顯(xian)微鏡(jing)滿(man)足不(bu)同觀(guan)察(cha)要求、可滿(man)足光(guang)譜(pu)測試、液(ye)氮(dan)開(kai)循環制冷(leng),降(jiang)低研(yan)發(fa)成(cheng)本(ben),模(mo)塊(kuai)化(hua)設計、後(hou)期(qi)可無縫(feng)升(sheng)級(ji)配置。
可按(an)用(yong)戶要求訂制非標產(chan)品(pin)
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