電(dian)壓(ya)擊(ji)穿的特(te)點(dian)

固(gu)體電(dian)介質電(dian)擊穿的理論是以在(zai)介質中發(fa)生碰撞(zhuang)電(dian)離為(wei)基(ji)礎(chu)的。它不(bu)包(bao)括由(you)邊緣(yuan)效(xiao)應、介(jie)質劣化(hua)等(deng)因(yin)素(su)引(yin)起的擊穿。

固(gu)體電(dian)介質的中(zhong)間(jian)存(cun)在(zai)少量處(chu)於導電(dian)能量(liang)狀態的電(dian)子(zi)（傳導(dao)電(dian)子(zi)）。它在(zai)電(dian)場加(jia)速(su)下(xia)將(jiang)與晶格(ge)點(dian)上的原子(zi)碰撞(zhuang)，但因(yin)固(gu)體介(jie)質中的(de)原子(zi)相(xiang)互(hu)聯(lian)系(xi)十分(fen)緊密(mi)，所以必(bi)須考(kao)慮(lv)傳(chuan)導電(dian)子(zi)與晶格(ge)碰撞(zhuang)。

由碰撞(zhuang)電(dian)離引(yin)起擊穿有下(xia)述(shu)兩(liang)種(zhong)解(jie)釋：固(gu)體擊(ji)穿理論是考(kao)慮(lv)單(dan)位時間(jian)傳(chuan)導電(dian)子(zi)從電(dian)場中(zhong)獲得的能(neng)量(liang)與單位時間(jian)內(nei)由(you)於碰撞(zhuang)而失(shi)去(qu)的(de)能量之(zhi)間(jian)，因(yin)不(bu)平(ping)衡(heng)而引(yin)起擊穿；另(ling)壹種(zhong)擊(ji)穿理論則(ze)認為(wei)：傳導電(dian)子(zi)由電(dian)場作(zuo)用得到(dao)了可使晶格(ge)原(yuan)子(zi)電(dian)離的(de)能(neng)量(liang),產(chan)生了電(dian)子(zi)崩，當電(dian)子(zi)崩發(fa)展到(dao)足(zu)夠(gou)強(qiang)時，引(yin)起固(gu)體電(dian)介質擊穿。

電(dian)壓(ya)擊(ji)穿的特(te)點(dian)：電(dian)壓(ya)作(zuo)用時間(jian)短(duan)，擊(ji)穿電(dian)壓(ya)高(gao)，電(dian)介質溫度不高(gao)；擊穿場強(qiang)與電(dian)場均勻程度有密(mi)切(qie)關(guan)系(xi)，而與周圍(wei)環(huan)境溫度的高(gao)低幾乎(hu)無關(guan)。

電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試驗儀(yi)主要適用於固(gu)體絕(jue)緣(yuan)材料如絕(jue)緣(yuan)漆(qi)、樹脂和膠、浸漬(zi)纖維(wei)制(zhi)品、雲(yun)母(mu)及(ji)其制(zhi)品、塑(su)料、薄(bo)膜復(fu)合制(zhi)品、陶(tao)瓷(ci)和玻璃等(deng)介質在(zai)工頻(pin)電(dian)壓(ya)或(huo)直(zhi)流電(dian)壓(ya)下(xia)擊穿強(qiang)度和耐(nai)電(dian)壓(ya)時間(jian)的(de)測試。

 華測電(dian)壓(ya)擊(ji)穿試驗儀(yi)采(cai)用(yong)計(ji)算機控(kong)制(zhi)，可對(dui)試(shi)驗過程(cheng)中的各(ge)種(zhong)數(shu)據進(jin)行快(kuai)速(su)、采(cai)集(ji)、處(chu)理，並可存取(qu)、顯(xian)示(shi)、打印(yin)。

可按(an)用(yong)戶要求訂制(zhi)非標(biao)產(chan)品(pin)

華測儀(yi)器--致(zhi)力(li)於材料電(dian)學測試技術