
Huace650T高(gao)低(di)溫冷(leng)熱(re)臺也可搭(da)配顯(xian)微鏡/光(guang)譜儀(yi)使(shi)用。其(qi)可在 -185℃ ~ 600℃ 範(fan)圍(wei)內(nei)控(kong)溫,同(tong)時允許進(jin)行(xing)電(dian)學測(ce)試(shi)、光(guang)學(xue)觀(guan)察(cha)和(he)樣(yang)品(pin)氣(qi)體環(huan)境控(kong)制(zhi)。探(tan)針臺上蓋(gai)與(yu)底(di)殼(ke)構(gou)成壹個氣(qi)密腔,可往(wang)內充(chong)入氮氣(qi)等(deng)保護(hu)氣(qi)體,來防止(zhi)樣(yang)品(pin)在負(fu)溫(wen)下(xia)結(jie)霜,或高溫(wen)下氧化(hua)。也可搭(da)配阻(zu)抗分(fen)析儀(yi)、高阻(zu)計、源表(biao)等(deng)進(jin)行(xing)相(xiang)關(guan)電(dian)參(can)數(shu)測量(liang)。使用時還可對(dui)樣(yang)品(pin)氣(qi)氛進(jin)行控(kong)制(zhi)。這(zhe)樣既(ji)可以(yi)保證(zheng),即(ji)使(shi)在很(hen)低(di)溫度(du)下,腔體(ti)也不產生結霜影響(xiang)實(shi)驗(yan),又可以(yi)防(fang)止(zhi)樣(yang)品(pin)發生氧化(hua)。此(ci)款溫(wen)控探針(zhen)臺通過(guo)杠桿式支(zhi)架(jia)(可根(gen)據用戶(hu)測(ce)量(liang)要求定(ding)制(zhi)專用電(dian)極(ji)),相(xiang)比傳統(tong)的直針(zhen)探針(zhen),這(zhe)種設計(ji)不僅(jin)點針準(zhun)確(que),而(er)且(qie)點針(zhen)力(li)度大(da),和(he)樣品(pin)的電(dian)接觸性(xing)好(hao)。
華測相(xiang)關(guan)產(chan)品(pin):


可按(an)用戶(hu)要(yao)求(qiu)訂(ding)制(zhi)非(fei)標產品(pin)
華測儀器--致(zhi)力(li)於材料(liao)電(dian)學測(ce)試(shi)技術(shu)

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