高溫鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀的(de)系統(tong)優勢及(ji)應用領(ling)域(yu)壹覽(lan)
更新時間：2021-03-19 點擊(ji)次(ci)數(shu)：1588
高(gao)溫鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀可以測(ce)量鐵(tie)電(dian)材(cai)料的電(dian)滯回(hui)線(xian)，飽和(he)極(ji)化(hua)Ps、剩余極化(hua)Pr、矯頑(wan)場(chang)Ec、漏電(dian)流(liu)、疲勞(lao)、保持(chi)、I-V和(he)開(kai)關特(te)性(xing)等的測(ce)試(shi)，。目前該系(xi)統(tong)測(ce)量溫度800°C,可配置薄(bo)膜和(he)塊(kuai)體測(ce)量夾(jia)具，可廣(guang)泛應用於(yu)薄(bo)膜、厚(hou)膜和(he)塊(kuai)狀陶(tao)瓷、鐵(tie)電(dian)器件(jian)及(ji)存儲(chu)器等領域(yu)的(de)研(yan)究。
高(gao)溫鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀測(ce)試(shi)系統(tong)采用虛(xu)地(di)模(mo)式測(ce)量電(dian)路(lu)，與(yu)傳(chuan)統(tong)的Sawyer-Tower模(mo)式相比(bi)，此(ci)電(dian)路(lu)取(qu)消(xiao)了(le)外接電(dian)容，可減小寄生(sheng)元(yuan)件的影(ying)響。此(ci)電(dian)路(lu)的(de)測(ce)試(shi)精度(du)僅取(qu)決(jue)於(yu)積分器積(ji)分電(dian)容的精度(du)，減少了對(dui)測(ce)試(shi)的影(ying)響環節(jie)，比(bi)較(jiao)容易(yi)定標和(he)，並且(qie)能實(shi)現(xian)較(jiao)高(gao)的測(ce)量準確(que)度，它(ta)不(bu)僅(jin)能畫(hua)出鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜的(de)電(dian)滯回(hui)線(xian)，還(hai)可以定量得到鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜材(cai)料的飽和(he)極(ji)化(hua)ps、剩余極化(hua)Pr、矯頑(wan)場(chang)Ec、漏電(dian)流(liu)Ik等參數(shu)，以(yi)及(ji)對鐵(tie)電(dian)薄(bo)膜材(cai)料鐵(tie)電(dian)疲勞(lao)、鐵(tie)電(dian)保持(chi)的測(ce)試(shi)。。儀器采用壹(yi)體化(hua)設計(ji)，實(shi)現(xian)測(ce)試(shi)結果全(quan)數(shu)字(zi)化(hua)，操作(zuo)簡(jian)單方(fang)便(bian)。
高溫鐵(tie)電(dian)測(ce)試(shi)儀應用領(ling)域(yu)
1.鐵(tie)電(dian)材(cai)料的電(dian)滯回(hui)線(xian)（動(dong)態(tai)與(yu)靜態）、漏電(dian)流(liu)等特(te)性(xing)。
2.測(ce)量記(ji)錄在(zai)薄(bo)膜樣(yang)品(pin)上(shang)施加(jia)階(jie)躍電(dian)壓(ya)時(shi)的電(dian)流(liu)響應。
3.超(chao)晶格(ge)材(cai)料在方(fang)波(bo)脈沖電(dian)壓(ya)激(ji)勵下(xia)的自漏電(dian)特(te)性(xing)。
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