高(gao)溫(wen)介(jie)電溫譜(pu)儀是為(wei)了滿足(zu)材(cai)料在(zai)高(gao)溫環(huan)境下的介(jie)電測(ce)量需求(qiu)而設(she)計(ji)的。它由(you)硬(ying)件(jian)設(she)備(bei)和測(ce)量軟件(jian)組(zu)成，包(bao)括高溫(wen)測(ce)試平臺、高(gao)溫(wen)測(ce)試夾具、阻抗(kang)分析(xi)儀和高溫介(jie)電測(ce)量系統軟件(jian)四個(ge)組(zu)成部(bu)分。
它為(wei)樣(yang)品提供(gong)壹(yi)個(ge)高(gao)溫(wen)環境；高溫(wen)測(ce)試夾具提供(gong)待(dai)測(ce)試樣(yang)品的測(ce)試平臺；阻(zu)抗(kang)分析(xi)儀則(ze)負責測(ce)試各(ge)組參(can)數數據(ju)。後，再通(tong)過(guo)三(san)琦(qi)測(ce)量軟件(jian)將這些硬件(jian)設(she)備(bei)的功能整合在(zai)壹(yi)起(qi)，形(xing)成壹(yi)套(tao)由(you)實驗方(fang)案設(she)計(ji)到溫度(du)控(kong)制(zhi)、參(can)數測(ce)量、圖形數據(ju)顯(xian)示與(yu)數據(ju)分(fen)析(xi)於(yu)壹(yi)體(ti)的測(ce)量系統。
高溫(wen)介(jie)電溫譜(pu)儀特(te)點：
可以(yi)實(shi)現常(chang)溫、高(gao)溫(wen)、低(di)頻(pin)條件下測(ce)量塊體(ti)樣品(pin)的介(jie)電；
可以(yi)測(ce)量阻抗(kang)Z、電抗(kang)X、導納(na)Y、電導G、電(dian)納(na)B、電感(gan)L、介(jie)電損耗(hao)D等(deng)物(wu)理(li)量；
可以(yi)直(zhi)接測(ce)量介(jie)電常(chang)數和損耗，阻抗(kang)譜Cole-Cole圖；
集成壹(yi)體(ti)化設(she)計(ji)，觸摸(mo)屏(ping)控制和顯(xian)示，具有易(yi)用(yong)性；
電(dian)動(dong)升(sheng)降(jiang)平臺，彈(dan)簧(huang)電極(ji)系統，操作(zuo)簡(jian)單(dan)，使(shi)用(yong)方(fang)便(bian)；
系統自帶溫(wen)度(du)功能，讓(rang)測(ce)量溫度(du)盡(jin)可能(neng)與(yu)樣(yang)品實際溫度(du)保持(chi)壹(yi)致(zhi)；
系統采用PID模(mo)糊(hu)算法，具有控溫、超溫保護(hu)、壹(yi)鍵(jian)自整定、故(gu)障診(zhen)斷(duan)功能；
高溫(wen)條(tiao)件下(xia)模(mo)擬(ni)導線，可有(you)效(xiao)增加測(ce)試的頻(pin)率帶寬，減(jian)小(xiao)電(dian)爐(lu)絲(si)的交流(liu)幹擾
高溫介(jie)電溫譜(pu)儀可測(ce)量陶(tao)瓷、薄膜、半導(dao)體(ti)等(deng)塊狀材(cai)料高(gao)溫(wen)介(jie)電特性，可同時測(ce)量及(ji)輸出(chu)頻(pin)率譜、電壓(ya)譜(pu)、偏壓(ya)譜(pu)、溫度(du)譜(pu)、介(jie)電溫譜(pu)的測(ce)量數據(ju)與(yu)圖形。
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