高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)和漏(lou)電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)的區別(bie)

      高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)和漏(lou)電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)都是(shi)用來(lai)檢(jian)測(ce)絕緣(yuan)材料某壹(yi)物理的測(ce)試設(she)備(bei)，但兩(liang)者所(suo)檢(jian)測(ce)的物理卻(que)是(shi)不(bu)壹(yi)樣(yang)的，因此兩(liang)者所(suo)依(yi)據(ju)的試驗(yan)標(biao)準也(ye)是(shi)不(bu)壹(yi)樣(yang)的。

壹(yi)、定義(yi)區別

      高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)是(shi)模擬在工(gong)頻（48Hz - 62Hz）下，用液體(ti)汙染物和斜(xie)面試樣(yang)，通過耐(nai)電痕(hen)化和蝕(shi)損(sun)的測(ce)量評定在(zai)嚴酷(ku)環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)下(xia)使用的電氣絕緣(yuan)材料的耐電痕(hen)化和蝕(shi)損(sun)等(deng)級(ji)。其電痕(hen)化是(shi)指(zhi)固(gu)體(ti)絕緣(yuan)表(biao)面因局部(bu)區域的放電導(dao)致(zhi)持續劣化並形成導電或(huo)部(bu)分導電通道(dao)。       

      漏電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)是(shi)模擬家(jia)用電器(qi)產品(pin)在(zai)實(shi)際(ji)使用中不(bu)同極性(xing)帶電部(bu)件在絕緣(yuan)材料表(biao)面沈積(ji)的導電物(wu)質(zhi)是(shi)否(fou)引起(qi)絕緣(yuan)材料表(biao)面爬(pa)電、擊(ji)穿(chuan)短(duan)路和起(qi)火危(wei)險而(er)進行的檢驗(yan)，從而(er)測(ce)定其相比漏電起(qi)痕(hen)指(zhi)數(shu)和耐(nai)漏電起(qi)痕(hen)指(zhi)數(shu)。其電痕(hen)化是(shi)指(zhi)在(zai)電應(ying)力和電解(jie)雜(za)質(zhi)的聯合(he)作(zuo)用下(xia)，固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材料表(biao)面和/或(huo)試樣(yang)內(nei)部(bu)導電通道(dao)逐(zhu)形成。

二、主(zhu)要(yao)依據(ju)的標(biao)準區別

      高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)所依據(ju)的標(biao)準是(shi)GB/T6553-2014《嚴酷(ku)環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)下(xia)使用的電氣絕緣(yuan)材料評定耐(nai)電痕(hen)化和蝕(shi)損(sun)的試驗(yan)方(fang)法》。

      漏電起(qi)痕(hen)試驗(yan)儀(yi)所依據(ju)的標(biao)準是(shi)GB/T4207-2012《固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材料耐電痕(hen)化指(zhi)數(shu)和相比電痕(hen)化指(zhi)數(shu)的測(ce)定方法》。

三、試驗(yan)原(yuan)理區別(bie)

      高壓(ya)漏(lou)電起(qi)痕(hen)試驗(yan)用液體(ti)汙染物和斜(xie)面試樣(yang)，通過耐(nai)電痕(hen)化和蝕(shi)損(sun)的測(ce)量評定在(zai)嚴酷(ku)環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)下(xia)使用的電氣絕緣(yuan)材料的耐電痕(hen)化和蝕(shi)損(sun)等(deng)級(ji)。

      漏電起(qi)痕(hen)試驗(yan)是(shi)在(zai)固體(ti)絕緣(yuan)材料表(biao)面上，在規定(ding)尺(chi)寸(2mm×5mm) 的鉑電極(ji)之間(jian)，-施加某壹(yi)電壓(ya)並(bing)定時(shi)(30s)定高度(du)(35mm)滴(di)下(xia)規定(ding)液滴(di)體(ti)積(ji)的導電液體(ti)(0.1%NH 4CL)，用以評價固(gu)體(ti)絕緣(yuan)材料表(biao)面在電場(chang)和潮濕或(huo)汙染介質(zhi)聯合(he)作(zuo)用下(xia)的耐漏(lou)電，測(ce)定其相比電痕(hen)化指(zhi)數(shu)(CT1) 和耐(nai)電痕(hen)化指(zhi)數(shu)(PT1) 。