表面體積(ji)電(dian)阻(zu)率測(ce)試儀(yi)操作註(zhu)意(yi)事(shi)項

表面體積(ji)電(dian)阻(zu)率測(ce)試儀(yi)操作註(zhu)意(yi)事(shi)項

Huace-200A表面體積(ji)電(dian)阻(zu)率測(ce)試儀(yi)既(ji)可(ke)測(ce)量高電(dian)阻(zu)，又可(ke)測(ce)微電(dian)流(liu)。在進(jin)行高(gao)阻(zu)測(ce)量時(shi)壹(yi)定要嚴格(ge)按(an)使(shi)用(yong)方法步驟進(jin)行，否(fou)則有(you)可(ke)能損(sun)壞(huai)儀器或(huo)者電人(ren) 。

　　1、 應(ying)在(zai)“Rx"兩(liang)端開路時(shi)調零  如(ru)接(jie)在電(dian)阻(zu)箱或(huo)被(bei)測(ce)量物體(ti)上時(shi)調零後(hou)測(ce)量會(hui)產(chan)生很大的(de)誤差(cha)。壹(yi)般壹(yi)次調(tiao)零後在測(ce)試過程(cheng)中不需(xu)再調零，但(dan)改(gai)變(bian)測(ce)量電壓(ya)後(hou)可(ke)能要重(zhong)新調(tiao)零。

　　2、 禁(jin)止(zhi)將“Rx"兩(liang)端(duan)短路(lu)，以(yi)免(mian)微電(dian)流(liu)放大器(qi)受大電(dian)流沖擊(ji)  。

　　3、 在測(ce)試過程(cheng)中不要隨(sui)意(yi)改(gai)動(dong)測(ce)量電壓(ya)，因(yin)為(wei)這樣可(ke)能因(yin)電壓(ya)過高(gao)或(huo)電流(liu)過大導(dao)致(zhi)被(bei)測(ce)試器(qi)件(jian)或(huo)測(ce)試儀(yi)器(qi)的(de)損(sun)壞(huai)，且有(you)的材料(liao)是非(fei)線性(xing)的(de)(即(ji)電壓(ya)與電(dian)流是不符(fu)合歐姆(mu)定(ding)律(lv))，有(you)改(gai)變(bian)電壓(ya)時(shi)由於電(dian)流不(bu)是線性(xing)變(bian)化，因(yin)此(ci)測(ce)量的電(dian)阻(zu)也會(hui)產(chan)生相應的(de)變(bian)化。

　　4、 測(ce)量時(shi)從低(di)次(ci)檔逐漸拔往(wang)高次(ci)檔  每撥壹(yi)次稍停留1～2秒以(yi)便觀(guan)察顯(xian)示數(shu)字，當(dang)有(you)顯(xian)示值時(shi)應停下，記錄當(dang)前(qian)的數(shu)字即是(shi)被(bei)測(ce)電阻(zu)值。若(ruo)顯(xian)示“1"時(shi)，表示欠(qian)量程應(ying)往高次檔拔。直到有(you)顯(xian)示數(shu)字時(shi)為(wei)止。當(dang)有(you)顯(xian)示數(shu)字時(shi)不能再往(wang)高(gao)次(ci)檔撥，否(fou)則有(you)可(ke)能損(sun)壞(huai)儀器(機內(nei)有(you)過電(dian)流(liu)保護電路)。除(chu)104 Ω檔之外(wai)，當(dang)顯(xian)示低(di)於(yu)1.99，表(biao)示過量程應(ying)換低檔。

　　5、 大部(bu)分絕緣(yuan)材料(liao)，特別(bie)是防(fang)靜電(dian)材料(liao)的電(dian)阻(zu)值在(zai)加(jia)電壓(ya)後(hou)會(hui)有(you)壹(yi)定變(bian)化而引(yin)起(qi)數(shu)字變(bian)化   由於(yu)本儀(yi)器(qi)的(de)分辨(bian)率很(hen)高(gao)，因(yin)而顯(xian)示值的(de)末(mo)尾(wei)幾位數(shu)也會(hui)產(chan)生變(bian)化，這不(bu)是(shi)儀器本身(shen)的問題(ti)，而(er)是被(bei)測(ce)量對象(xiang)的導(dao)電機理(li)復(fu)雜(za)而(er)使(shi)得阻(zu)值有(you)些(xie)變(bian)化。在這(zhe)種(zhong)情況下(xia)往(wang)往取(qu)2位有(you)效數(shu)就(jiu)夠了(le)。

　　6 、接(jie)通電源(yuan)後(hou)，手(shou)指(zhi)不(bu)能觸(chu)及高(gao)壓(ya)線的(de)金屬(shu)部分(fen)   本儀(yi)表(biao)有(you)二連(lian)根(gen)線：高(gao)壓(ya)線(紅(hong))和(he)微電(dian)流(liu)測(ce)試線。在(zai)使(shi)用(yong)時(shi)要註意(yi)高(gao)壓(ya)線，開機後(hou)人不能觸(chu)及高(gao)壓(ya)線，以(yi)免(mian)電(dian)人(ren)或(huo)麻(ma)手(shou)。

　　7 、測(ce)試過程(cheng)中不能觸(chu)摸微電(dian)流(liu)測(ce)試端(duan)      微電(dian)流(liu)測(ce)試端(duan)怕(pa)受(shou)到大電(dian)流或人體感應電(dian)壓(ya)及(ji)靜電(dian)的(de)沖擊(ji)。所以(yi)在開機後(hou)和(he)測(ce)試過程(cheng)中不能與微電(dian)流(liu)測(ce)試端(duan)接(jie)觸(chu)，以(yi)免(mian)損(sun)壞(huai)儀表。

　　8、 在(zai)測(ce)量高阻(zu)時(shi)，應采(cai)用屏蔽(bi)盒將被(bei)測(ce)物體(ti)屏蔽(bi)。 在測(ce)量大於(yu)1010 Ω以(yi)上時(shi)，為(wei)防(fang)止外(wai)界(jie)幹擾(rao)面而引(yin)起(qi)讀數(shu)不穩。

　　9、 每(mei)次(ci)測(ce)量完(wan)後(hou)應(ying)將量程開關(guan)撥(bo)回(hui)“104 "檔再進(jin)行下(xia)次測(ce)試  在(zai)測(ce)量時(shi)應逐漸將量程開關(guan)撥(bo)到高阻(zu)檔，測(ce)完(wan)後(hou)應(ying)將量程開關(guan)撥(bo)回(hui)低檔，以(yi)確(que)保(bao)下次開機時(shi)量程開關(guan)處(chu)在低阻(zu)量程檔。