
何時采(cai)用非(fei)接觸(chu)式(shi)測(ce)量電(dian)壓(ya)?
傳統(tong)非(fei)接觸(chu)式(shi)靜電測(ce)試(shi)儀包括電極式、振(zhen)動(dong)電容式(shi)、場磨式等。其(qi)中,電極式靜電儀(yi)直(zhi)接通過(guo)電路(lu)對(dui)單壹(yi)感(gan)應(ying)電極上的(de)電荷(he)信(xin)號進行(xing)放(fang)大、AD采樣,由於(yu)電荷(he)信(xin)號容(rong)易在(zai)電(dian)路中衰減(jian),該靜電儀(yi)零(ling)點漂移大,需經(jing)常調(tiao)零(ling),使(shi)用(yong)不便(bian)。振動電(dian)容(rong)式、場(chang)磨式靜電儀(yi)通過(guo)振動(dong)或(huo)轉動(dong)調(tiao)制(zhi)感(gan)應(ying)電極上的(de)感(gan)應(ying)電荷(he),測(ce)量帶電體(ti)附近(jin)的(de)電場(chang)強度,反(fan)演帶電體(ti)的(de)靜電電(dian)壓(ya),避(bi)免(mian)了感(gan)應(ying)電荷(he)衰(shuai)減。然而(er),這些靜電測(ce)試(shi)儀普(pu)遍(bian)將傳感(gan)器敏感(gan)芯(xin)片(pian)裸(luo)露在(zai)外,這些裸(luo)露可動單元(yuan)容易在粉(fen)塵(chen)等惡劣環境中損壞(huai),也(ye)容易(yi)因(yin)自(zi)身(shen)摩擦(ca)或(huo)與外界碰(peng)撞產(chan)生(sheng)電火(huo)花(hua),造(zao)成隱患(huan)。靜電危(wei)害(hai)是(shi)科(ke)技(ji)和(he)生(sheng)產(chan)活動中的(de)壹(yi)個(ge)重大隱患(huan)。不同(tong)物質(zhi)間(jian)接(jie)觸、分(fen)離(li)後(hou)即可產(chan)生(sheng)靜電,由(you)於(yu)其(qi)產(chan)生(sheng)簡單、不易(yi)發覺(jiao),稍有(you)不慎(shen)就可能釀(niang)成重大事故。據(ju)統(tong)計,美國電子行(xing)業(ye)部門(men)每(mei)年(nian)因(yin)靜電危(wei)害(hai)造(zao)成(cheng)損失高(gao)達(da)100億美元,英國電子產(chan)品每(mei)年(nian)因(yin)靜電造(zao)成(cheng)的(de)損失(shi)為20億英鎊,日(ri)本(ben)電子元器(qi)件(jian)的(de)不合格品(pin)中不少於(yu)45%的(de)危害(hai)是(shi)因(yin)為靜電放(fang)電(dian)(ESD)造成的(de)。靜電放(fang)電(dian)可能點(dian)燃某些易(yi)燃物體(ti)而(er)發生(sheng)爆炸(zha)。例(li)如,在(zai)石(shi)油(you)石(shi)化領域(yu),人(ren)體(ti)或(huo)設備(bei)攜(xie)帶靜電容(rong)易(yi)引燃油品(pin)揮(hui)發出(chu)的(de)氣體(ti),油(you)品、粉體(ti)在儲運(yun)過(guo)程中與周(zhou)圍(wei)容器(qi)發生(sheng)摩擦(ca),也(ye)容易(yi)產(chan)生(sheng)大量靜電。在(zai)工(gong)業生(sheng)產(chan)領域(yu),氫(qing)氣(qi)、乙炔(que)、瓦(wa)斯(si)等易(yi)燃易爆氣(qi)體(ti),煤(mei)粉、鋁(lv)粉(fen)、面(mian)粉等粉(fen)塵(chen),都有(you)可能因(yin)靜電火(huo)花(hua)引(yin)起(qi)爆炸(zha)。在(zai)電子(zi)工業領域(yu),壹(yi)般(ban)MOS電(dian)路和(he)場效應(ying)管擊(ji)穿電(dian)壓(ya)約為300V,然而(er)在幹(gan)燥季(ji)節人體靜電可達(da)數萬(wan)伏,極易損(sun)傷(shang)甚至(zhi)損壞(huai)半(ban)導體器(qi)件(jian),從(cong)而(er)導致設備(bei)故(gu)障(zhang)。

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