表面體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)工(gong)作(zuo)原理

表面體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)工(gong)作(zuo)原理

根據歐(ou)姆定律，被測電(dian)阻(zu)Rx等(deng)於(yu)施(shi)加(jia)電(dian)壓(ya)V除(chu)以(yi)通過(guo)的(de)電(dian)流I。傳(chuan)統的(de)高(gao)阻(zu)計的(de)工(gong)作原理是測量(liang)電壓(ya)V固(gu)定，通過(guo)測量(liang)流過(guo)取樣電阻(zu)的(de)電(dian)流I來(lai)得(de)到電(dian)阻(zu)值。從(cong)歐(ou)姆定律可(ke)以(yi)看出(chu)，由於電(dian)流I是與電阻(zu)成(cheng)反比(bi)，而不是成(cheng)正比(bi)，所(suo)以(yi)電(dian)阻的(de)顯示值是非線(xian)性(xing)的(de)，即(ji)電阻(zu)無(wu)窮(qiong)大時，電流為(wei)零(ling)，即表頭的(de)零(ling)位處(chu)是∞，其附近(jin)的(de)刻(ke)度(du)非常密(mi)，分(fen)辨(bian)率(lv)很低(di)整(zheng)個(ge)刻(ke)度(du)是非線(xian)性(xing)的(de)。又(you)由於測量(liang)不同的(de)電(dian)阻時，其電(dian)壓(ya)V也會有(you)些變(bian)化(hua)，所(suo)以(yi)普(pu)通的(de)高(gao)阻(zu)計是精(jing)度(du)差、分(fen)辨(bian)率(lv)低(di)。

表面體(ti)積(ji)電(dian)阻(zu)率(lv)測試儀(yi)是同時測出(chu)電阻(zu)兩端的(de)電(dian)壓(ya)V和流過(guo)電(dian)阻(zu)的(de)電(dian)流I，通過(guo)內(nei)部(bu)的(de)大規(gui)模(mo)集(ji)成(cheng)電路(lu)完(wan)成(cheng)電壓(ya)除(chu)以(yi)電(dian)流的(de)計算(suan)，然後把所(suo)得到的(de)結(jie)果經(jing)過(guo)A/D轉換(huan)後以(yi)數(shu)字(zi)顯示出(chu)電阻(zu)值，即(ji)便是電阻兩端的(de)電(dian)壓(ya)V和流過(guo)電(dian)阻(zu)的(de)電(dian)流I是同時變化(hua)，其顯示的(de)電(dian)阻值不象普(pu)通高(gao)阻(zu)計那(na)樣因被測電(dian)壓(ya)V的(de)變(bian)化(hua)或電(dian)流Ｉ的(de)變(bian)化(hua)而變，所(suo)以(yi)，即(ji)使(shi)測量(liang)電壓(ya)、被測量(liang)電阻(zu)、電源(yuan)電壓(ya)等(deng)發生(sheng)變(bian)化(hua)對其結(jie)果影(ying)響不大，其(qi)測量(liang)精(jing)度(du)很高(gao) ，從(cong)理論上講(jiang)其誤(wu)差可(ke)以(yi)做(zuo)到零(ling)，而實際(ji)誤(wu)差可(ke)以(yi)做(zuo)到千(qian)分(fen)之(zhi)幾或萬(wan)分(fen)之(zhi)幾。