高頻介電(dian)溫(wen)譜儀的(de)概述(shu)及特點(dian)

壹、概述(shu)：

高頻介電(dian)溫(wen)譜系統主要用(yong)於(yu)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料(liao)在(zai)不(bu)同溫(wen)度不(bu)同頻率(lv)下(xia)的(de)電(dian)學(xue)測試，系(xi)統包含(han)高溫(wen)爐膛(tang)，阻(zu)抗分(fen)析(xi)儀(yi)，微(wei)電(dian)流表(biao)，夾(jia)具，測試軟(ruan)件於壹體，可測試材(cai)料(liao)的(de)介電(dian)常(chang)數(shu)，介質(zhi)損(sun)耗(hao)，阻(zu)抗譜Co-Co圖(tu)， 機(ji)電(dian)耦合系數(shu)等，同時可(ke)分(fen)析(xi)被(bei)測樣品(pin)隨(sui)溫(wen)度，頻率(lv)，時間(jian)變(bian)化的(de)曲(qu)線，測試治具(ju)可(ke)以根據產品(pin)及(ji)測試項(xiang)目 要(yao)求選(xuan)購(gou)。

二、特(te)點(dian)：

     公(gong)司(si)研(yan)發(fa)有高溫(wen)介電(dian)測試夾(jia)具、高溫(wen)四探針(zhen)夾(jia)具、高溫(wen)兩探針(zhen)夾(jia)具，可(ke)與(yu)高溫(wen)測試平臺配套組(zu)成(cheng)壹套或(huo)多(duo)套高溫(wen)阻(zu)抗、介電(dian)測量系(xi)統。

    溫(wen)度範圍從室(shi)溫(wen)至(zhi)600°C、800°C、1000°C、1200°C，具(ju)備(bei)的(de)PID控(kong)制(zhi)算(suan)法(fa)，控(kong)溫(wen)精 度可(ke)到±1°C，確保溫(wen)度控制(zhi)不(bu)超(chao)調。提供(gong)7種(zhong)不(bu)同控溫(wen)方式，滿足(zu)客(ke)戶多種(zhong)測試需(xu)求。

     高溫(wen)介電(dian)測試夾(jia)具根(gen)據標(biao)準(zhun)ASTM D150方法(fa)，采(cai)用(yong)平行(xing)板電(dian)極(ji)原理(li)設計(ji)。電(dian)極(ji)由(you)上(shang)電(dian)極(ji)、下(xia)電(dian)極(ji)以及保護(hu)電(dian)極(ji)組(zu)成(cheng)。上下(xia)電(dian)有良(liang)好(hao)的(de)同心度和平行(xing)度，保護(hu)電(dian)極(ji)可(ke)減(jian)少周(zhou)圍空氣電(dian)容(rong)的(de)影(ying)響，使得測試數(shu)據準(zhun)確可(ke)靠。

     公(gong)司(si)開(kai)發(fa)的(de)高溫(wen)阻(zu)抗、介電(dian)測量系(xi)統軟(ruan)件將高溫(wen)測試平臺、高溫(wen)測試夾(jia)具與(yu)WK6500系(xi)列(lie)、 Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR測量設(she)備(bei)無縫(feng)連(lian)接(jie)，實現了(le)自(zi)動完(wan)成(cheng)高溫(wen)環境下(xia)的(de)阻(zu)抗、介電(dian)參(can)數(shu)的(de)測量與(yu)分(fen)析(xi)。另(ling)外(wai)，還(hai)可根據用(yong)戶(hu)提(ti)供(gong)的(de)其(qi)他LCR品牌(pai)或(huo)型(xing)號完成(cheng)定制(zhi)需(xu)求。

     軟(ruan)件可根(gen)據實(shi)驗(yan)方案(an)設(she)計(ji)，通(tong)過測量C和D值(zhi)，自(zi)動完(wan)成(cheng)介電(dian)常(chang)數(shu)和介電(dian)損(sun)耗(hao)隨(sui)頻率(lv)、 電(dian)壓(ya)、偏(pian)壓(ya)、溫(wen)度、時間(jian)多(duo)維變(bian)化(hua)的(de)曲(qu)線。壹次(ci)測量，同時輸(shu)出(chu)，測量效率(lv)高、數(shu)據豐(feng)富(fu)多(duo)樣(yang)。