電(dian)阻率測(ce)試儀(yi)的如(ru)何？

四(si)探針電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)也有(you)很多種(zhong)，例(li)如(ru)高(gao)溫(wen)的或者(zhe)常溫(wen)的，不(bu)同的(de)四探針電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)針對(dui)不(bu)同(tong)的材料測(ce)量(liang)的(de)參(can)數(shu)也(ye)是不同(tong)的(de)。

    舉例(li)，高(gao)溫(wen)四探(tan)針電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)可以(yi)測(ce)量(liang)矽(gui)、鍺單(dan)晶(jing)電阻(zu)率和(he)矽(gui)外(wai)延(yan)層、擴散(san)層和(he)離(li)子(zi)註入(ru)層的方(fang)塊(kuai)電阻(zu)以(yi)及(ji)測(ce)量(liang)導(dao)電玻(bo)璃(li)和(he)其(qi)他(ta)導(dao)電薄(bo)膜(mo)的方(fang)塊(kuai)電阻(zu)，主要(yao)用於評(ping)估(gu)半(ban)導體(ti)薄(bo)膜(mo)和(he)薄(bo)片(pian)的(de)導電(dian)。

    高(gao)溫(wen)四探(tan)針電阻(zu)率(lv)測(ce)試儀(yi)就是(shi)，主要(yao)測(ce)量(liang)的(de)參(can)數(shu)就(jiu)是半導(dao)體(ti)材料的(de)電阻(zu)、電阻率、方(fang)塊(kuai)電阻(zu)等(deng)。

    電(dian)阻率(lv)測(ce)試儀(yi)特點

    多參(can)數(shu)同(tong)屏(ping)顯(xian)示(shi)：電阻率、溫(wen)度同屏(ping)顯(xian)示(shi)。

    微機(ji)化(hua)：采用(yong)高(gao)CPU芯(xin)片(pian)、AD轉(zhuan)換技(ji)

    術和(he)SMT貼片(pian)技(ji)術完(wan)成電(dian)阻率(lv)和(he)溫(wen)度的測(ce)量(liang)、溫(wen)度補償、量(liang)程(cheng)自(zi)動(dong)轉(zhuan)換，精(jing)度高(gao)，重(zhong)復(fu)性(xing)好。

    高(gao)可靠(kao)性(xing)：單(dan)板(ban)結(jie)構(gou)，觸(chu)摸式(shi)按(an)鍵(jian)，無開(kai)關旋(xuan)鈕和(he)電(dian)位(wei)器(qi)。

    自動(dong)轉(zhuan)換測(ce)量(liang)頻率(lv)：避(bi)免電(dian)極極化(hua)，提高(gao)測(ce)量(liang)精(jing)度。

    相敏(min)檢波(bo)設(she)計：消除(chu)導線對(dui)測(ce)量(liang)的(de)影響(xiang)。

    25℃折算(suan)：溫(wen)度補償自動(dong)測(ce)量(liang)/手(shou)動輸入。

    防水(shui)防塵(chen)設(she)計(ji)：防護(hu)等(deng)級IP65，適(shi)宜(yi)戶外(wai)使(shi)用(yong)。

    電磁兼容(rong)性(EMC/RFI)設計(ji)：按(an)歐(ou)洲標準(zhun)EN50081/50082設(she)計(ji)制造。

    報(bao)警(jing)功(gong)能(neng)：報(bao)警信號(hao)隔離輸出，報警(jing)上(shang)、下(xia)限(xian)可任意(yi)設定(ding)，報警(jing)滯後撤消。

    工(gong)業(ye)控(kong)制式(shi)看(kan)門狗：確(que)保(bao)儀(yi)表不(bu)會死機(ji)。

    網絡功(gong)能(neng)：隔離的電(dian)流(liu)輸出和(he)RS485通(tong)訊(xun)接(jie)口；電流(liu)對(dui)應電(dian)阻率的(de)輸出上、下(xia)限(xian)可任意(yi)設定(ding)。

    采用(yong)流通(tong)式(shi)、沈入式(shi)、法蘭式(shi)或管(guan)道安裝。