數(shu)字萬用表使(shi)用(yong)註(zhu)意(yi)事(shi)項

                     數(shu)字萬用表使(shi)用(yong)註(zhu)意(yi)事(shi)項

數(shu)字萬用表可用(yong)來測(ce)量(liang)直流(liu)和交流(liu)電(dian)壓、直(zhi)流和(he)交流(liu)電(dian)流、電(dian)阻(zu)、電(dian)容、電(dian)感、頻率、電(dian)池、二極管(guan)、三(san)極管(guan)hFE及(ji)連續性(xing)測試，並(bing)具(ju)有自(zi)動斷電(dian)功(gong)能(neng)，整機(ji)電(dian)路設(she)計以大規(gui)模(mo)集成(cheng)電(dian)路雙(shuang)積(ji)分A/D轉換(huan)器為(wei)核(he)心(xin)，並配以全過程(cheng)過載保(bao)護(hu)電(dian)路，使(shi)之成(cheng)為(wei)壹臺(tai)*的(de)工具(ju)儀表，是實驗(yan)室(shi)、工(gong)廠、學(xue)校(xiao)及電(dian)子愛好者(zhe)的(de)*。

(壹)操作前(qian)註意(yi)事(shi)項

(1)將ON-OFF開(kai)關(guan)置(zhi)於(yu)ON位置(zhi)，檢查9V電(dian)池，如(ru)果(guo)電(dian)池電(dian)壓不(bu)足，“”或“BAT”將顯示(shi)在(zai)顯示(shi)器上，這時(shi)，則應(ying)換(huan)電(dian)池;如(ru)果(guo)沒(mei)有出現(xian)則按(an)以下(xia)步驟進(jin)行。

(2)測試表筆插(cha)孔(kong)旁邊(bian)的(de)△!符號(hao)，表(biao)示(shi)輸入(ru)電(dian)壓或電(dian)流不(bu)應(ying)超(chao)過標(biao)示(shi)值，這是為(wei)保(bao)護(hu)內部線(xian)路免(mian)受(shou)損傷。

(3)測試前(qian)，功(gong)能(neng)開(kai)關(guan)應(ying)放(fang)置(zhi)於(yu)所(suo)需量(liang)程上(shang)。

（二）電(dian)壓測(ce)量註(zhu)意(yi)事(shi)項

(1)如(ru)果(guo)不(bu)知道(dao)被(bei)測(ce)電(dian)壓範(fan)圍(wei)，將功(gong)能(neng)開(kai)關(guan)置(zhi)於(yu)大(da)量程並(bing)逐(zhu)漸(jian)降(jiang)低量(liang)程(不(bu)能(neng)在(zai)測(ce)量(liang)中改(gai)變(bian)量(liang)程)。

(2)如(ru)果(guo)顯示(shi)“1”，表(biao)示過量(liang)程(cheng)，功(gong)能(neng)開(kai)關(guan)應(ying)置(zhi)於(yu)高的(de)量程(cheng)。

(3) △!表(biao)示(shi)不(bu)要(yao)輸入(ru)高於(yu)萬(wan)用表要(yao)求的(de)電(dian)壓，顯示(shi)高的(de)電(dian)壓只(zhi)是可能(neng)的(de)，但有損(sun)壞內部線(xian)路的(de)危(wei)險(xian)。

(4)當測高壓時(shi)，應(ying)特別註(zhu)意(yi)避(bi)免(mian)觸電(dian)。

(三(san))電(dian)流測(ce)量註(zhu)意(yi)事(shi)項

(1)如(ru)果(guo)使用(yong)前(qian)不(bu)知道(dao)被(bei)測(ce)電(dian)流範(fan)圍(wei)，將功(gong)能(neng)開(kai)關(guan)置(zhi)於(yu)zui大(da)量程並(bing)逐(zhu)漸(jian)降(jiang)低量(liang)程(不(bu)能(neng)在(zai)測(ce)量(liang)中改(gai)變(bian)量(liang)程)。

(2)如(ru)果(guo)顯示(shi)器只(zhi)顯示(shi)“1”，表(biao)示過量(liang)程(cheng)，功(gong)能(neng)開(kai)關(guan)應(ying)置(zhi)於(yu)高量程(cheng)。

(3) △!上(shang)表示(shi)zui大輸入(ru)電(dian)流為(wei)200mA或20A(10A)，取(qu)決(jue)於(yu)所(suo)使用(yong)的(de)插(cha)孔(kong)，過大(da)的(de)電(dian)流將燒壞保險(xian)絲(si)，20A(10A)量程無保(bao)險(xian)絲(si)保護(hu)。

(4)zui大測試壓降為(wei)200mV。

（四）電(dian)阻(zu)測量註意(yi)事(shi)項

(1)如(ru)果(guo)被(bei)測(ce)電(dian)阻(zu)值超出所(suo)選擇量(liang)程(cheng)的(de)zui大值(zhi)，將顯示(shi)過量(liang)程(cheng)“1”，應(ying)選擇高的(de)量程(cheng)，對(dui)於(yu)大(da)於(yu)1 MΩ或高的(de)電(dian)阻(zu)，要(yao)幾(ji)秒(miao)鐘(zhong)後讀(du)數(shu)才(cai)能(neng)穩定，對(dui)於(yu)高阻(zu)值讀(du)數(shu)這是正常的(de)。

(2)當無輸入(ru)時(shi)，如(ru)開(kai)路情(qing)況，顯示(shi)為(wei)“1”。

(3)當檢查內部線(xian)路阻(zu)抗時(shi)，要(yao)保(bao)證(zheng)被(bei)測(ce)線路電(dian)源(yuan)斷電(dian)，電(dian)容放(fang)電(dian)。

(4)200MΩ短路時(shi)約有四個字，測量時(shi)應(ying)從讀(du)數(shu)中減去(qu)，如(ru)測(ce)l00MΩ電(dian)阻(zu)時(shi)，顯示(shi)為(wei)101.0，第(di)四個字應(ying)被(bei)減去(qu)。

（五(wu)）電(dian)容測試(shi)註意(yi)事(shi)項

(1)儀(yi)器本身已(yi)對(dui)電(dian)容檔(dang)設(she)置(zhi)了(le)保(bao)護(hu)，在(zai)電(dian)容測試(shi)過程(cheng)中，不(bu)用考(kao)慮(lv)電(dian)容極性(xing)及(ji)電(dian)容充(chong)放(fang)電(dian)等情(qing)況。

(2)測(ce)量電(dian)容時(shi)，將電(dian)容擂(lei)入(ru)電(dian)容測試(shi)座中(不(bu)要(yao)通過表(biao)筆插(cha)孔(kong)測量(liang))。

(3)測(ce)量(liang)大電(dian)容時(shi)，穩定讀(du)數(shu)需(xu)要(yao)壹定時(shi)間。

(4)單(dan)位:1pF=10-6µF, :1nF=10-3µF,

（六）數(shu)字萬用表保(bao)養註意(yi)事(shi)項

數(shu)字萬用表是壹種(zhong)精密(mi)電(dian)子儀(yi)表，不(bu)要(yao)隨意(yi)改(gai)線(xian)路，並(bing)註意(yi)以下(xia)幾點(dian):

①不(bu)要(yao)超(chao)量(liang)程(cheng)使用。

②不(bu)要(yao)在(zai)電(dian)阻(zu)檔(dang)或500)this.style.width=500;" border=0>檔(dang)時(shi)，接入(ru)電(dian)壓信(xin)號(hao)。

③在(zai)電(dian)池沒(mei)有裝(zhuang)好或後(hou)蓋(gai)沒(mei)有上(shang)緊時(shi)，請(qing)不(bu)要(yao)使(shi)用(yong)此(ci)表(biao)。

④只(zhi)有在(zai)測(ce)試(shi)表(biao)筆從萬用表(biao)移開(kai)並(bing)切斷電(dian)源(yuan)後，才(cai)能(neng)換(huan)

電(dian)池和(he)保險(xian)絲(si)。電(dian)池換(huan):註意(yi)9V電(dian)池的(de)使用(yong)情(qing)況，如(ru)果(guo)需要(yao)換(huan)電(dian)池，打(da)開(kai)後(hou)蓋螺絲(si)，用同(tong)壹型(xing)號(hao)電(dian)池換(huan)，換(huan)保險(xian)絲(si)時(shi)，請(qing)使(shi)用(yong)相同(tong)型(xing)號(hao)的(de)保險(xian)絲(si)。