靜電(dian)計(ji)如(ru)何用恒(heng)壓(ya)法測量(liang)大(da)於1GΩ的高(gao)電(dian)阻(zu)？

             靜電(dian)計(ji)如(ru)何用恒(heng)壓(ya)法測量(liang)大(da)於1GΩ的高(gao)電(dian)阻(zu)？

恒壓(ya)法[1]測量(liang)高(gao)電(dian)阻(zu)，需(xu)要使(shi)用壹(yi)臺(tai)能夠測量(liang)弱(ruo)電(dian)流的(de)儀(yi)器(qi)和(he)壹(yi)臺(tai)直(zhi)流(liu)恒壓(ya)源。有些(xie)靜(jing)電(dian)計(ji)和(he)皮安計(ji)[2]具(ju)有(you)內(nei)置(zhi)的(de)電(dian)壓(ya)源，能夠自動(dong)地計(ji)算(suan)出(chu)未知(zhi)電(dian)阻(zu)。
使用靜(jing)電(dian)計(ji)和(he)皮安計(ji)的(de)恒(heng)壓(ya)法的基(ji)本(ben)電(dian)路(lu)配(pei)置(zhi)如(ru)圖2-30a所(suo)示。而(er)圖(tu)2-30b則(ze)示出(chu)了(le)使(shi)用SMU[3]，采(cai)用恒(heng)壓(ya)法進(jin)行高(gao)電(dian)阻(zu)測量(liang)的(de)情(qing)況。
在(zai)此(ci)方(fang)法(fa)中(zhong)，恒(heng)壓(ya)源（V）與未知(zhi)電(dian)阻(zu)（R）和(he)安(an)培(pei)計(ji)（IM）相(xiang)串聯(lian)。由(you)於安培(pei)計(ji)上的電(dian)壓(ya)降(jiang)可(ke)以(yi)忽略，所(suo)以(yi)的測試電(dian)壓(ya)都出(chu)現(xian)在(zai)電(dian)阻(zu)R上。由(you)安(an)培(pei)計(ji)測量(liang)產(chan)生的(de)電(dian)流，再(zai)使(shi)用歐姆定(ding)律計(ji)算(suan)出(chu)電(dian)阻(zu)（R = V/I）。
高電(dian)阻(zu)通常(chang)是所(suo)加電(dian)壓(ya)的函數，所以(yi)恒壓(ya)法比(bi)恒(heng)流法要*。在(zai)選(xuan)定(ding)的電(dian)壓(ya)下進(jin)行測量(liang)，就(jiu)可(ke)以(yi)得到(dao)電(dian)阻(zu)與電(dian)壓(ya)的曲(qu)線(xian)，並可(ke)以(yi)決(jue)定(ding) “電(dian)阻(zu)的電(dian)壓(ya)系數”。
采用這種(zhong)方法(fa)的應(ying)用工作(zuo)包括測試兩(liang)端(duan)高阻(zu)器件(jian)、測量(liang)絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻(zu)、確(que)定(ding)絕(jue)緣(yuan)材料(liao)的(de)體(ti)電(dian)阻(zu)率和(he)表(biao)面電(dian)阻(zu)率等(deng)。
恒壓(ya)法需(xu)要測量(liang)弱(ruo)電(dian)流，所(suo)以(yi) 第(di)2.3節（弱(ruo)電(dian)流測量(liang)[4]）介(jie)紹(shao)的(de)各種(zhong)技術和(he)誤差(cha)來源都適用於這種(zhong)方法(fa)。測量(liang)高(gao)電(dian)阻(zu)時兩(liang)個(ge)zui常(chang)見的(de)誤差(cha)來源是靜(jing)電(dian)幹(gan)擾和(he)泄漏電(dian)流。如(ru)第(di)2.6.2節所(suo)介紹(shao)，將(jiang)高(gao)阻(zu)抗(kang)電(dian)路(lu)屏蔽可(ke)以(yi)盡(jin)量(liang)降(jiang)低(di)靜(jing)電(dian)幹(gan)擾的影(ying)響(xiang)。采(cai)用第(di)2.3.1節介(jie)紹的(de)保護技術可以(yi)控制(zhi)泄漏電(dian)流的(de)影響(xiang)。